[發(fā)明專利]記憶體IC檢測(cè)分類機(jī)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200710136307.4
• 申請(qǐng)日: 2007-07-13
• 公開（公告）號(hào): CN101342531A
• 公開（公告）日: 2009-01-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 謝旼達(dá)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 鴻勁科技股份有限公司
• 主分類號(hào): B07C5/344
• 分類號(hào): B07C5/344;B07C5/38;G01R31/28
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司
• 代理人: 孫皓晨

1.一種記憶體IC檢測(cè)分類機(jī)，其特征在于，其是包含有：

供料匣：是設(shè)在機(jī)臺(tái)上，用來(lái)承置待測(cè)的記憶體IC；

收料匣：是設(shè)在機(jī)臺(tái)上，用來(lái)承置完成檢測(cè)的記憶體IC；

測(cè)試裝置：是設(shè)在機(jī)臺(tái)上，其并設(shè)有多個(gè)常閉型測(cè)試套座，該常閉型測(cè)試套 座包括有底座、上座及導(dǎo)引座，上座以彈簧及滑片架設(shè)于底座的上方，導(dǎo)引座則 設(shè)于底座及上座的框架內(nèi)，以導(dǎo)引定位IC；

移料裝置：是設(shè)在機(jī)臺(tái)上，其并設(shè)有頂壓治具與多個(gè)取放頭，用來(lái)一次移載 多個(gè)待測(cè)或者完成檢測(cè)的記憶體IC在供料匣、測(cè)試裝置與收料匣間；

中央處理器：是用來(lái)控制與整合各裝置作動(dòng)，以執(zhí)行自動(dòng)化作業(yè)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的記憶體IC檢測(cè)分類機(jī)，其特征在于：所述的收料 匣是細(xì)分不同等級(jí)的收料匣，用來(lái)承置完成檢測(cè)的不同等級(jí)記憶體IC。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的記憶體IC檢測(cè)分類機(jī)，其特征在于：所述的測(cè)試 裝置的測(cè)試套座是裝設(shè)在測(cè)試電路板上，所述的測(cè)試電路板連結(jié)至測(cè)試機(jī)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的記憶體IC檢測(cè)分類機(jī)，其特征在于：所述的常閉 型測(cè)試套座的底座上設(shè)有數(shù)個(gè)插置孔，并在插置孔內(nèi)設(shè)有可開合的金屬夾片，上 座在下壓時(shí)可令底座的金屬夾片外張，以壓夾IC的接腳。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的記憶體IC檢測(cè)分類機(jī)，其特征在于：更包含在所 述的機(jī)臺(tái)上設(shè)有定位裝置，以供自供料匣移載的待測(cè)記憶體IC定位。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的記憶體IC檢測(cè)分類機(jī)，其特征在于：所述的定位 裝置開設(shè)有數(shù)個(gè)定位槽，以供定位記憶體IC。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的記憶體IC檢測(cè)分類機(jī)，其特征在于：機(jī)臺(tái)上設(shè)有 Y軸向的機(jī)架滑軌，所述的移料裝置是在機(jī)架滑軌上架設(shè)滑座，再在滑座上架設(shè) 多個(gè)直立導(dǎo)架，各直立導(dǎo)架上端連結(jié)一第一壓缸，下端則裝設(shè)有頂壓治具，而以 第一壓缸驅(qū)動(dòng)頂壓治具升降位移。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的記憶體IC檢測(cè)分類機(jī)，其特征在于：所述的移料 裝置是在頂壓治具的上方板架上，以第二壓缸連結(jié)取放頭，而以第二壓缸驅(qū)動(dòng)取 放頭在頂壓治具內(nèi)升降位移。