[發明專利]一種液晶顯示裝置發光參數的校正方法及裝置

無效

• 申請號: 200710125537.0
• 申請日: 2007-12-27
• 公開（公告）號: CN101470276A
• 公開（公告）日: 2009-07-01
• 發明（設計）人: 邵詩強
• 申請（專利權）人: TCL集團股份有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01M11/02;G09G3/36;G09G3/00
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所
• 代理人: 張全文

技術領域

本發明屬于液晶顯示領域，尤其涉及一種液晶顯示裝置發光參數的校正方法及裝置。

背景技術

現在采用LED背光模組的液晶顯示裝置已經出現，但是在這種液晶顯示裝置的生產過程中，由于LED的離散性或者其它的原因可能會導致液晶顯示裝置的光學參數不能滿足要求，比如亮度不均勻甚至偏色，為了解決這一問題，在LED裝機之前，廠家會對每個LED進行嚴格的挑選，然后再把合格的LED安裝到液晶顯示裝置上，但是這樣會導致生產效率低下和成本高，目前還沒有有效的辦法來解決這個問題。

發明內容

本發明的目的在于提供一種液晶顯示裝置發光參數的校正方法，旨在解決現有的液晶顯示裝置在生產的過程中存在效率低下和成本高的問題。

本發明是這樣實現的，一種液晶顯示裝置發光參數的校正方法，所述方法包括下述步驟：

對液晶顯示裝置顯示屏不同區域的光學參數進行測試；

將測得的所述光學參數與標準值進行比較，并通過對光學參數不符合標準值的相應區域的LED發光參數進行校正，使所述光學參數符合標準值。

本發明的另一目的在于提供一種液晶顯示裝置發光參數的校正裝置，所述校正裝置包括：

光學測試設備，用于對液晶顯示裝置顯示屏不同區域的光學參數進行測試；以及

測試控制單元，用于控制調節光學測試設備的空間位置，對液晶顯示裝置顯示屏不同區域的光學參數進行測試，將測得的光學參數與標準值進行比較，并通過對光學參數不符合標準值的相應區域的LED發光參數進行校正，使所述光學參數符合標準值。

本發明實施例中，在生產液晶顯示裝置的過程中，采用液晶顯示裝置發光參數的校正裝置，可以通過對光學參數不符合標準值的相應區域的LED發光參數進行校正，使光學參數符合標準值，從而解決了現有的液晶顯示裝置在生產的過程中存在效率低下和成本高的問題。

附圖說明

圖1是本發明實施例提供的液晶顯示裝置發光參數的校正方法流程圖；

圖2是本發明實施例提供的液晶顯示裝置發光參數的校正裝置的結構圖；

圖3是本發明實施例提供的測試控制單元的結構圖。

具體實施方式

為了使本發明的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發明，并不用于限定本發明。

在本發明實施例中，液晶顯示裝置采用LED背光模組，液晶顯示裝置顯示屏某區域的光學參數與該區域的單顆LED的發光參數或多顆LED的發光參數相關。

圖1示出了本發明實施例提供的液晶顯示裝置發光參數的校正方法流程，詳述如下：

在步驟S101中，為液晶顯示裝置提供特定顯示圖像；

在步驟S102中，對液晶顯示裝置顯示屏不同區域的光學參數進行測試；

在步驟S103中，將測得的光學參數與標準值進行比較，如果光學參數不符合標準值，則執行S104，如果光學參數符合標準值，則結束；

在步驟S104中，通過對光學參數不符合標準值的相應區域的LED發光參數進行校正，并對校正后的所述光學參數進行重新測試，以確定所述光學參數是否符合標準值，如果符合標準值則結束，如果不符合則需要進行重新校正；

校正的過程具體包括：

將測得的所述光學參數與標準值進行比較，根據所述光學參數相對于標準值的超標幅度百分比得到使所述光學參數接近標準值的補償系數；

根據所述補償系數生成校正所述LED發光參數的發光系數信號，并向液晶顯示裝置發送發光系數信號，通過對所述LED發光參數進行校正，使所述光學參數符合標準值。

圖2示出了本發明實施例提供的液晶顯示裝置發光參數的校正裝置的結構，為了便于說明，僅示出了與本發明相關的部分。

液晶顯示裝置發光參數的校正裝置包括：光學測試設備1、測試設備支架2、測試控制單元3和圖像發生器5，測試控制單元3和圖像發生器5分別與液晶顯示裝置4連接。

測試控制單元3為運行于計算機等設備的軟件系統，圖3示出了本發明實施例提供的測試控制單元的結構。