[發明專利]一種液晶顯示裝置發光參數的校正方法及裝置

無效

• 申請號: 200710125537.0
• 申請日: 2007-12-27
• 公開（公告）號: CN101470276A
• 公開（公告）日: 2009-07-01
• 發明（設計）人: 邵詩強
• 申請（專利權）人: TCL集團股份有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01M11/02;G09G3/36;G09G3/00
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所
• 代理人: 張全文

1、一種液晶顯示裝置發光參數的校正方法，其特征在于，所述方法包括下述步驟：

對液晶顯示裝置顯示屏不同區域的光學參數進行測試；

將測得的所述光學參數與標準值進行比較，并通過對光學參數不符合標準值的相應區域的LED發光參數進行校正，使所述光學參數符合標準值。

2、如權利要求1所述的校正方法，其特征在于，所述將測得的所述光學參數與標準值進行比較，并通過對光學參數不符合標準值的相應區域的LED發光參數進行校正，使所述光學參數符合標準值的步驟具體為：

將測得的所述光學參數與標準值進行比較，根據所述光學參數相對于標準值的超標幅度百分比得到使所述光學參數接近標準值的補償系數；

根據所述補償系數生成校正所述LED發光參數的發光系數信號，并向液晶顯示裝置發送發光系數信號，通過對所述LED發光參數進行校正，使所述光學參數符合標準值。

3、如權利要求1所述的校正方法，其特征在于，所述對液晶顯示裝置顯示屏不同區域的光學參數進行測試的步驟之前，還包括以下步驟：

為液晶顯示裝置提供特定顯示圖像。

4、如權利要求1或2所述的校正方法，其特征在于，所述將測得的所述光學參數與標準值進行比較，并通過對光學參數不符合標準值的相應區域的LED發光參數進行校正，使所述光學參數符合標準值的步驟之后，還包括以下步驟：

對校正后的所述光學參數進行重新測試，以確定所述光學參數是否符合標準值，如果符合標準值則完成整個工作，如果不符合則需要進行重新校正。

5、如權利要求4所述的校正方法，其特征在于，所述光學參數包括亮度或色坐標。

6、如權利要求1所述的校正方法，其特征在于，所述液晶顯示裝置顯示屏不同區域的光學參數與該區域的單顆LED的發光參數或多顆LED的發光參數相關。

7、一種液晶顯示裝置發光參數的校正裝置，其特征在于，所述校正裝置包括：

光學測試設備，用于對液晶顯示裝置顯示屏不同區域的光學參數進行測試；以及

測試控制單元，用于控制調節光學測試設備的空間位置，對液晶顯示裝置顯示屏不同區域的光學參數進行測試，將測得的光學參數與標準值進行比較，并通過對光學參數不符合標準值的相應區域的LED發光參數進行校正，使所述光學參數符合標準值。

8、如權利要求7所述的校正裝置，其特征在于，所述校正裝置還包括：

測試設備支架，用于支撐光學測試設備，接收測試控制單元發送的控制信號，調節光學測試設備的空間位置。

9、如權利要求7或8所述的校正裝置，其特征在于，所述校正裝置還包括：

圖像發生器，用于為液晶顯示裝置提供特定顯示圖像。

10、如權利要求9所述的校正裝置，其特征在于，所述測試控制單元包括：

測試設備支架控制模塊，用于控制測試設備支架調節光學測試設備的空間位置；

測試標準值配置模塊，用于配置光學參數所滿足的標準值；

比較分析模塊，用于將測得的所述光學參數與標準值進行比較，根據所述光學參數相對于標準值的超標幅度百分比得到使所述光學參數接近標準值的補償系數；以及

發光參數校正模塊，用于根據所述補償系數生成校正所述LED發光參數的發光系數信號，并向液晶顯示裝置發送發光系數信號，通過對所述LED發光參數進行校正，使所述光學參數符合標準值。