[發明專利]用于操作電阻存儲單元的方法和存儲電路

無效

• 申請號: 200710123256.1
• 申請日: 2007-07-02
• 公開（公告）號: CN101110267A
• 公開（公告）日: 2008-01-23
• 發明（設計）人: 海因茨·赫尼希施密特;格哈德·米勒;米萊娜·伊萬諾夫;科爾溫·利奧
• 申請（專利權）人: 奇夢達股份公司
• 主分類號: G11C11/56
• 分類號: G11C11/56
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 余剛;尚志峰

1.一種用于讀取存儲在電阻存儲元件中的數據的方法，所述電阻存儲元件具有由控制值控制的可控選擇晶體管，所述方法包括：

檢測流過所述電阻存儲元件的單元電流；

基于所檢測的單元電流設置所述控制值；以及

根據所設置的控制值提供所述數據。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，檢測流過所述電阻存儲元件的所述單元電流的所述步驟包括將所述單元電流與參考電流進行比較，并且其中，基于比較的結果設置所述控制值。

3.根據權利要求2所述的方法，其中，設置所述控制值，以使所述單元電流基本上等于所述參考電流。

4.根據權利要求3所述的方法，其中，設置所述控制值的所述步驟包括：

將測量值施加至所述選擇晶體管；以及

直到所述單元電流和所述參考電流之間的差的符號發生改變，才改變所施加的測量值，其中，在所述差的符號發生改變處的所述測量值被設置為所述控制值。

5.根據權利要求4所述的方法，其中，以離散值改變所述測量值。

6.根據權利要求5所述的方法，其中，從多個不同值中選擇所述測量值，并且其中，當所述單元電流與所述參考電流之間的所述差的符號在連續施加的測量值之間改變時，最后施加的測量值被設置為所述控制值。

7.根據權利要求6所述的方法，其中，所述控制值的所述多個不同值對應于所述電阻存儲單元的待逐漸減一檢測的多個預定電阻狀態。

8.一種用于讀取存儲數據的存儲電路，包括：

選擇晶體管，由控制值控制；

電阻存儲元件，其被設置為電阻狀態；以及

讀取單元，經配置用于檢測流過所述電阻存儲元件的單元電流，根據所檢測的單元電流設置所述控制值，以及根據所述控制值提供所述數據。

9.根據權利要求8所述的存儲電路，其中，所述讀取單元包括：

比較單元，用于將流過所述電阻存儲單元的所述單元電流與參考電流進行比較；以及

控制單元，用于根據比較的結果設置所述控制值。

10.根據權利要求9所述的存儲電路，其中，所述控制單元經配置用于設置所述控制值，以使所述單元電流基本上等于所述參考電流。

11.根據權利要求10所述的存儲電路，其中，所述控制單元包括：

測量電路，經配置用于將測量值施加至所述選擇晶體管，

以及直到所述比較單元檢測到所述單元電流和所述參考電流之間的差的符號已發生改變，才改變所述測量值，其中，所述比較單元使所述控制單元將在所述差的符號發生改變處的所述測量值被設置為所述控制值。

12.根據權利要求11所述的存儲電路，其中，所述測量電路以離散值改變所述測量值。

13.根據權利要求12所述的存儲電路，其中，所述測量電路從多個不同值中選擇所述測量值，并且其中，當所述單元電流與所述參考電流之間的所述差的符號在連續施加的測量值之間改變時，所述控制單元將最后施加的測量值被設置為所述控制值。

14.根據權利要求13所述的存儲電路，其中，所述控制值的所述多個不同值對應于所述電阻存儲單元的待逐漸減一檢測的許多預定電阻狀態。