[發(fā)明專利]面向集成電路測試的測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200710120008.1
• 申請(qǐng)日: 2007-08-06
• 公開（公告）號(hào): CN101364219A
• 公開（公告）日: 2009-02-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉煒;鄭忠林;吉國凡;張琳;王慧;金蘭;孫博;石志剛;趙智昊;陳希;孫楊
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京華大泰思特半導(dǎo)體檢測技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06F17/30
• 分類號(hào): G06F17/30;G01R31/28
• 代理公司: 北京北新智誠知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 陳曦

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種能夠?qū)崿F(xiàn)集成電路測試數(shù)據(jù)批量轉(zhuǎn)換的方法，尤其涉及一種面向大規(guī)模集成電路測試的實(shí)際需求，能夠自動(dòng)實(shí)時(shí)地將ASCII碼的J750測試數(shù)據(jù)批量轉(zhuǎn)換為其它數(shù)據(jù)格式的方法，屬于集成電路測試技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)

在集成電路制造過程中，測試是必須但又是耗時(shí)而昂貴的過程，它是保證集成電路性能、質(zhì)量的關(guān)鍵手段之一。40年來，隨著集成電路發(fā)展到第四代，集成電路測試機(jī)也從最初測試小規(guī)模集成電路發(fā)展到測試中規(guī)模、大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路，到了八十年代，超大規(guī)模集成電路測試機(jī)進(jìn)入全盛時(shí)期。

目前，集成電路測試機(jī)已經(jīng)進(jìn)入第四代，測量對(duì)象為VLSI，可測管腳數(shù)高達(dá)1024個(gè)，功能測試圖形速率高達(dá)100MHz，測試圖形深度可達(dá)4M以上。測試機(jī)的智能化水平進(jìn)一步提高，具備與計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)(CAD)連接能力，利用自動(dòng)生成測試圖形向量，并加強(qiáng)了數(shù)字系統(tǒng)與模擬系統(tǒng)的融合。從1970年仙童(Fair?child)公司形成Sentry系列以來，繼而形成系列的還有泰克(Tektronix)公司的3200系列，泰瑞達(dá)(Teradyne)公司的J750系列等。

在國內(nèi)，美國泰瑞達(dá)(Teradyne)公司針對(duì)微處理器測試需求的J750系列集成電路測試機(jī)得到了廣泛的應(yīng)用。J750是一個(gè)將1024個(gè)數(shù)字通道完全整合到一個(gè)測試頭的“零占地”系統(tǒng)，具有強(qiáng)大的并行測試能力和超過95％的并行測試效率，能夠覆蓋國內(nèi)現(xiàn)階段設(shè)計(jì)公司開發(fā)設(shè)計(jì)的產(chǎn)品。因此，很多國內(nèi)客戶用這款測試機(jī)作為產(chǎn)品量產(chǎn)的測試機(jī)器。但是，由于泰瑞達(dá)公司沒有為J750開發(fā)完全的軟件來支持生產(chǎn)測試數(shù)據(jù)的處理，而只是提供了一些接口。所以業(yè)界沒有一個(gè)統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)方法來轉(zhuǎn)換生成的測試數(shù)據(jù)。有的公司根據(jù)自己的實(shí)際情況寫了一些簡單的腳本完成一些簡單的功能，不僅通用性差，也很難移植和擴(kuò)展。這一缺陷在最新推出的J750Ex測試機(jī)中仍然沒有得到有效的解決。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于現(xiàn)有技術(shù)所存在的不足，本發(fā)明的目的是提供一種面向集成電路測試的測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法。該方法針對(duì)目前業(yè)界通用的J750系列測試機(jī)實(shí)現(xiàn)，能夠?qū)SCII碼的J750測試數(shù)據(jù)批量轉(zhuǎn)換為用戶所需的其它數(shù)據(jù)格式。

為實(shí)現(xiàn)上述的發(fā)明目的，本發(fā)明采用下述的技術(shù)方案：

一種面向集成電路測試的測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法，針對(duì)J750系列測試機(jī)實(shí)施，其特征在于包括如下步驟：

(1)將所述測試機(jī)輸出的原始數(shù)據(jù)文件按照預(yù)定的路徑存放，并且按照預(yù)定的格式生成新建數(shù)據(jù)文件的文件名；

(2)根據(jù)原始數(shù)據(jù)文件中的內(nèi)容，在所述新建數(shù)據(jù)文件中填寫相關(guān)項(xiàng)；

(3)在多個(gè)芯片并行測試的情況下，首先在所述新建數(shù)據(jù)文件的列標(biāo)題處填寫預(yù)定數(shù)據(jù)項(xiàng)，然后啟動(dòng)多線程掃描原始數(shù)據(jù)中同一個(gè)坐標(biāo)的不同測試項(xiàng)得出的數(shù)據(jù)，分別填寫在對(duì)應(yīng)的測試名稱下；

(4)在執(zhí)行完畢后，在wafer?log日志文件中寫入表示數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換完畢的信息，所述wafer?log日志文件是對(duì)已經(jīng)完成數(shù)據(jù)處理的晶片進(jìn)行記錄的文件。

其中，所述步驟(1)中，所述原始數(shù)據(jù)中包括原始測試數(shù)據(jù)和復(fù)測數(shù)據(jù)，所述該原始測試數(shù)據(jù)放置在Test?Data/Device/Lot/Data目錄之下，所述復(fù)測數(shù)據(jù)放置在Test?Dat?a/Device/Lot/Retest目錄之下。

所述步驟(1)中，通過記事本程序打開所述原始數(shù)據(jù)文件，識(shí)別該項(xiàng)測試起始時(shí)的日期和時(shí)間、任務(wù)名稱和節(jié)點(diǎn)名稱，再從Lot?log日志文件中得到晶片的信息，把這些信息拆分并整合，得出新建數(shù)據(jù)文件的文件名，其中所述Lot?log日志文件是對(duì)已經(jīng)完成整個(gè)批次數(shù)據(jù)處理的批號(hào)進(jìn)行記錄的文件。

所述步驟(2)中，根據(jù)原始數(shù)據(jù)文件中的內(nèi)容，在所述新建數(shù)據(jù)文件中填寫相關(guān)項(xiàng)，確定行標(biāo)題和列標(biāo)題。

所述步驟(3)中，所述預(yù)定數(shù)據(jù)項(xiàng)包括但不限于坐標(biāo)、地點(diǎn)、ID序列、自動(dòng)識(shí)別產(chǎn)生的測試名稱以及最后測試結(jié)果信息。

所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法在執(zhí)行前，通過讀取wafer?log日志文件，判斷此片數(shù)據(jù)是否已經(jīng)處理；如果已經(jīng)進(jìn)行處理則放棄該數(shù)據(jù)，轉(zhuǎn)而進(jìn)行下一批待處理數(shù)據(jù)的處理；如果還未進(jìn)行處理則判斷是否有需要進(jìn)行復(fù)測的數(shù)據(jù)文件，然后按先原始數(shù)據(jù)、再復(fù)測數(shù)據(jù)的順序讀取數(shù)據(jù)文件，獲取數(shù)據(jù)并把數(shù)據(jù)寫入臨時(shí)文件中。

本發(fā)明所提供的測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法能夠批量處理測試過程中產(chǎn)生的ASCII數(shù)據(jù)，可以做到完全自動(dòng)化，無人工干預(yù)，定時(shí)完成數(shù)據(jù)處理。

附圖說明

下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說明。