[發明專利]面向集成電路測試的測試數據轉換方法

有效

• 申請號: 200710120008.1
• 申請日: 2007-08-06
• 公開（公告）號: CN101364219A
• 公開（公告）日: 2009-02-11
• 發明（設計）人: 劉煒;鄭忠林;吉國凡;張琳;王慧;金蘭;孫博;石志剛;趙智昊;陳希;孫楊
• 申請（專利權）人: 北京華大泰思特半導體檢測技術有限公司
• 主分類號: G06F17/30
• 分類號: G06F17/30;G01R31/28
• 代理公司: 北京北新智誠知識產權代理有限公司
• 代理人: 陳曦

1.一種面向集成電路測試的測試數據轉換方法，針對J750系列測試機實施，其特征在于包括如下步驟：

(1)將所述測試機輸出的原始數據文件按照預定的路徑存放，并且按照預定的格式生成新建數據文件的文件名；

(2)根據原始數據文件中的內容，在所述新建數據文件中填寫相關項；

(3)在多個芯片并行測試的情況下，首先在所述新建數據文件的列標題處填寫預定數據項，然后啟動多線程掃描原始數據中同一個坐標的不同測試項得出的數據，分別填寫在對應的測試名稱下；

(4)在執行完畢后，在wafer?log日志文件中寫入表示數據轉換完畢的信息，所述wafer?log日志文件是對已經完成數據處理的晶片進行記錄的文件。

2.如權利要求1所述的面向集成電路測試的測試數據轉換方法，其特征在于：

所述步驟(1)中，所述原始數據中包括原始測試數據和復測數據，所述該原始測試數據放置在Test?Data/Device/Lot/Data目錄之下，所述復測數據放置在Test?Data/Device/Lot/Retest目錄之下。

3.如權利要求1所述的面向集成電路測試的測試數據轉換方法，其特征在于：

所述步驟(1)中，通過記事本程序打開所述原始數據文件，識別該項測試起始時的日期和時間、任務名稱和節點名稱，再從Lot?log日志文件中得到晶片的信息，把這些信息拆分并整合，得出新建數據文件的文件名，其中所述Lot?log日志文件是對已經完成整個批次數據處理的批號進行記錄的文件。

4.如權利要求1所述的面向集成電路測試的測試數據轉換方法，其特征在于：

所述步驟(2)中，根據原始數據文件中的內容，在所述新建數據文件中填寫相關項，確定行標題和列標題。

5.如權利要求1所述的面向集成電路測試的測試數據轉換方法，其特征在于：

所述步驟(3)中，所述預定數據項包括但不限于坐標、地點、ID序列、自動識別產生的測試名稱以及最后測試結果信息。

6.如權利要求1所述的面向集成電路測試的測試數據轉換方法，其特征在于：

所述數據轉換方法在執行前，通過讀取wafer?log日志文件，判斷此片數據是否已經處理；如果已經進行處理則放棄該數據，轉而進行下一批待處理數據的處理；如果還未進行處理則判斷是否有需要進行復測的數據文件，然后按先原始數據、再復測數據的順序讀取數據文件，獲取數據并把數據寫入臨時文件中。