[發明專利]半導體結構及其制造方法無效
| 申請號: | 200710102224.3 | 申請日: | 2007-04-27 |
| 公開(公告)號: | CN101075585A | 公開(公告)日: | 2007-11-21 |
| 發明(設計)人: | 程慷果;朱慧瓏;李佑炯 | 申請(專利權)人: | 國際商業機器公司 |
| 主分類號: | H01L21/84 | 分類號: | H01L21/84;H01L21/20;H01L21/762;H01L27/12 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務所 | 代理人: | 王茂華 |
| 地址: | 美國紐*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 結構 及其 制造 方法 | ||
技術領域
本發明涉及MOSFET,并且更具體地,涉及應變HOT(混合取向技術)MOSFET。
背景技術
常規CMOS器件包括在同一襯底上形成的N溝道晶體管和P溝道晶體管。為了使器件更好地操作,N溝道晶體管形成在拉伸應變的第一結晶取向半導體上,而P溝道晶體管形成在壓縮應變的第二結晶取向半導體上。因此,需要一種比現有技術簡單的形成CMOS器件的方法。
發明內容
本發明提供一種半導體制造方法,包括:提供半導體結構,該半導體結構包括:(a)第一半導體層,具有第一結晶取向,(b)埋置絕緣層,在第一半導體層的頂上,(c)第二半導體層,在埋置氧化層的頂上,其中第二半導體層具有第二結晶取向,并且其中第二結晶取向與第一結晶取向不同;在第一半導體層的頂上形成第三半導體層,其中第三半導體層具有第一結晶取向;和在第三半導體層的頂上形成第四半導體層,其中第四半導體層包括與第三半導體層的材料不同的材料,并且其中第四半導體層具有第一結晶取向。
本發明提供一種半導體結構,包括:(a)第一半導體層,具有第一結晶取向;(b)埋置氧化層,在第一半導體層的頂上;(c)第二半導體層,在埋置氧化層的頂上,其中第二半導體層具有第二結晶取向,并且其中第二結晶取向與第一結晶取向不同;(d)第三半導體層,在第一半導體層的頂上,其中第三半導體層具有第一結晶取向;和(e)第四半導體層,在第三半導體層的頂上,其中第四半導體層包括與第三半導體層的材料不同的材料,并且其中第四半導體層具有第一結晶取向。
本發明提供一種半導體制造方法,包括:提供半導體結構,該半導體結構包括:(a)第一半導體區域,具有第一結晶取向,(b)第二半導體區域,具有第二結晶取向,其中第二結晶取向與第一結晶取向不同,和(c)絕緣區域,其中第一半導體區域和第二半導體區域通過絕緣區域相互電絕緣;形成(i)第一犧牲區域,在第一半導體區域的頂上,和(ii)第二犧牲區域,在第二半導體區域的頂上,其中第一犧牲區域的第一厚度比第二犧牲區域的第二厚度小;和蝕刻第一和第二犧牲區域,使得第一犧牲區域完全除去,但是第二犧牲區域的一部分仍保留在第二半導體區域的頂上。
本發明提供一種比現有技術簡單的形成CMOS器件的方法。
附圖說明
圖1至圖13表示按照本發明的實施例的第一半導體結構的第一制造工藝。
圖14至圖25表示按照本發明的實施例的第二半導體結構的第二制造工藝。
具體實施方式
圖1至圖13表示按照本發明的實施例的第一半導體結構100的第一制造工藝。
更具體地,參考圖1,在一個實施例中,第一制造工藝以一個SOI(絕緣體上硅)襯底150開始。在一個實施例中,SOI襯底150包括半導體襯底120、例如埋置氧化(BOX)層的埋置絕緣層130、和硅層140。說明性地,半導體襯底120包括硅并且具有結晶表面取向(110),埋置氧化層130包括二氧化硅,以及硅層140具有結晶表面取向(100)。可選擇地,半導體襯底120具有結晶表面取向(100),并且硅層140具有結晶表面取向(110)。在一個實施例中,通過常規方法,例如晶片鍵合或SIMOX(注氧隔離),形成SOI襯底150。
接下來,在一個實施例中,在硅層140的頂上形成墊層210。說明性地,墊層210包括由CVD(化學汽相沉積)形成的氮化硅層,和由熱氧化形成的下部氧化硅層(未示出)。
接下來,在一個實施例中,對墊層210進行構圖,結果形成如圖2所示的構圖的墊區域210’。說明性地,構圖的墊區域210’(圖2)通過對墊層210進行光刻和蝕刻而形成。
接下來,參考圖2,在一個實施例中,將構圖的墊區域210’用作掩膜,以對硅層140和埋置氧化層130進行定向蝕刻,結果分別形成硅區域140’和BOX區域130’(如圖3所示)。說明性地,通過RIE(反應離子蝕刻)工藝,執行對硅層140和埋置氧化層130的蝕刻。可以將構圖的墊區域210’、硅區域140’和BOX區域130’共同地稱為一個塊310,如圖3所示。
接下來,參考圖4,在一個實施例中,在塊310的側壁上形成隔離層410。隔離層410可以包括氧化硅或氮化硅,通過(i)在圖3的結構100的頂上(包括塊310的側壁上)到處CVD一層隔離材料(未示出),并且然后(ii)對沉積的隔離材料(未示出)定向回蝕刻而形成,結果形成隔離層410。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





