[發明專利]光拾取器和光盤裝置

有效

• 申請號: 200710096445.4
• 申請日: 2007-04-17
• 公開（公告）號: CN101059972A
• 公開（公告）日: 2007-10-24
• 發明（設計）人: 中村俊輝;木村茂治;大西邦一;杉山俊夫
• 申請（專利權）人: 日立視聽媒介電子股份有限公司
• 主分類號: G11B7/13
• 分類號: G11B7/13;G11B7/12
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司
• 代理人: 龍淳

技術領域

本發明涉及一種光拾取器和搭載有其的光盤裝置及光學信息記錄再現裝置。

背景技術

作為涉及本技術的背景技術，例如有日本特開平7-272303號公報(專利文獻1)。在本公報中，作為課題而記載有“提供一種光盤裝置、光學拾取器及光學拾取器的組裝方法，利用簡單的構成，可小型化整體形狀，必要時可簡化組裝作業”，作為解決手段而記載有“在放大電路15E和15H之前，在事先將受光面E、G和F、H之間的輸出信號相加之后，放大輸出”。

另外，作為本技術領域的背景技術，例如有日本特開2005-203090號公報(專利文獻2)。在該公報中，作為課題而記載有“提供一種光拾取器裝置，可抑制在單面中具有多個記錄層的多層光盤的記錄和/或再現時、鄰接層產生的干涉光、改善由DPP檢測到的跟蹤錯誤信號的擺動”，作為解決手段而記載有“具備光學模塊，當適用于至少一個面中具有多個記錄層的光信息保存媒體時，抑制鄰接層產生的干涉光被光檢測器接受。由此，可抑制鄰接層產生的干涉光被光檢測器、尤其是光檢測器的第一和第二子光檢測器接受”。

近年來，作為實現光盤記錄容量的大容量化的手段而開發出涉及具備多層記錄層的光學信息記錄介質(下面為了簡化，記作光盤。)的技術。

另外，有所謂的跟蹤控制，用于將激光光束穩定且高精度地聚光到設置在光盤記錄層中的規定記錄軌道上。另外，作為該跟蹤控制信號檢測方法，通常有差動推挽方式(下面為了簡化，將該方式記作DPP方式。)。

近年來，就多層化記錄層的光盤的記錄/再現時而言，存在利用DPP方式檢測到的跟蹤控制信號因層間串擾而變動的課題。在幾何光學上，在多層化記錄層的光盤的記錄/再現時，通過專利文獻2記載的手段，可抑制利用DPP方式檢測到的跟蹤控制信號因層間串擾而產生的變動。但是，盡管利用專利文獻2記載的手段，來自鄰接層的無用光不入射到光檢測器，但實際上，依然產生層間串擾，難以高精度穩定地產生跟蹤控制信號。

發明內容

在本發明中，其目的之一在于提供一種光拾取器和光學信息記錄再現裝置，即便對具備多層記錄層的記錄介質，也可穩定且高精度。

本發明的另一目的在于提供一種光拾取器裝置和光盤裝置，可高精度穩定地得到跟蹤控制信號。

上述目的可通過權利要求范圍中記載的構成來實現。

根據本發明，可提供一種穩定的精度高的光拾取器和光學信息記錄再現裝置。

另外，根據本發明，可提供一種高精度穩定地得到跟蹤控制信號的光拾取器裝置和光盤裝置。

附圖說明

圖1是表示作為第一實施例的主要部分的光檢測器的示意平面圖。

圖2是表示現有和本發明中的光拾取器的光學系統構成的示意正面圖。

圖3是表示光檢測器的現有例的示意平面圖。

圖4是多層化光盤的示意截面圖。

圖5A、5B分別是表示入射到多層化的光盤的光束之光路的示意截面圖。

圖6是表示作為第二實施例的主要部分的光檢測器的示意平面圖。

圖7是表示第三實施例中使用的衍射光柵的形狀的示意平面圖。

圖8是表示第三實施例中入射到光檢測器的副光束斑點的狀態的示意平面圖。

圖9是搭載第一～第五實施例的光拾取器的光學信息記錄再現裝置示意圖。

圖10是表示作為第四實施例的主要部分的光檢測器的示意平面圖。

圖11是表示作為第五實施例的主要部分的光檢測器的示意平面圖。

圖12是表示本發明中光拾取器裝置的光學系統構成的示意圖。

圖13是表示光檢測器的現有例的示意圖。

圖14A、14B分別是表示入射到多層化光盤的光束之光路的示意圖。

圖15是表示使光束的一部分衍射的光學元件的衍射區域形狀一例的示意圖。

圖16A、16B分別是表示圖15的光學元件搭載時的光檢測器上的信號光束與無用光束的光強度分布的示意圖。

圖17是表示作為第六實施例的主要部分的光檢測器的示意圖。

圖18是表示第六實施方式中、至子PP信號的層間串擾泄漏量相對受光面的錯位的模擬結果的曲線。

圖19A、19B分別是表示作為第七實施例的主要部分的光檢測器的示意圖。

圖20是表示物鏡移位時、光檢測器上的信號光束的光強度分布的示意圖。

圖21是表示第六和第七實施方式中、脫軌(detracck)產生量相對物鏡移位的模擬結果的曲線。

圖22是表示作為第八實施例的主要部分的光檢測器的示意圖。

圖23是表示作為第九實施例的主要部分的光檢測器的示意圖。