1.一種記錄層被多層化的光盤的記錄、再現用的光拾取器裝置，其特征在于，包括：
激光光源；
將從該激光光源射出的激光光束分割成主光束與副光束的光束分割元件；
物鏡，配置在可沿規定方向移動的致動器內，將所述主光束與副光束聚光到光盤上；
具備使由光盤反射的所述主光束與副光束的一部分衍射的衍射區域的光學元件；和
接受所述主光束與副光束的光檢測器，其中，
所述光檢測器具備所述主光束入射的主光束用受光面；和
副光束用受光面，所述副光束入射到其上，并且被垂直于相當于所述光盤徑向方向的中央分割線所2分割，進而該副光束用受光面具備截斷該中央分割線上及其附近光的遮光帶。
2.根據權利要求1所述的光拾取器裝置，其特征在于：
所述光學元件配置于所述致動器內，在衍射區域中形成有偏振光衍射光柵。
3.根據權利要求1所述的光拾取器裝置，其特征在于：
在配置于所述致動器內的物鏡與光學元件之間，具備1/4波長板。
4.根據權利要求1所述的光拾取器裝置，其特征在于：
設置在所述副光束用受光面內的遮光帶在相當于所述光盤徑向的方向上的寬度，在照射到該副光束用受光面上的所述副光束聚光斑點直徑的20％～40％的范圍內。
5.根據權利要求1所述的光拾取器裝置，其特征在于：
設置在所述副光束用受光面內的遮光帶在相當于所述光盤徑向的方向上的寬度在20微米～40微米的范圍內。
6.根據權利要求1所述的光拾取器裝置，其特征在于：
所述主光束用受光面被平行于與光盤的半徑方向相當的方向的分割線、和垂直于與所述半徑方向相當的方向的第一、第二、第三分割線8分割，所述第二分割線位于所述第一分割線與所述第三分割線之間。
7.根據權利要求1所述的光拾取器裝置，其特征在于：
所述主光束用受光面被垂直于與所述光盤的半徑方向相當的方向的第一分割線和第三分割線3分割，該3個區域的中央區域以外的受光面被大致平行于與所述光盤的半徑方向相當的方向的各1條分割線分別2分割，共計5分割。
8.根據權利要求1所述的光拾取器裝置，其特征在于：
所述主光束用受光面被垂直于與所述光盤的半徑方向相當的方向的第一分割線和第三分割線以及平行于與所述光盤的半徑方向相當的方向的分割線6分割。
9.根據權利要求6所述的光拾取器裝置，其特征在于：
所述主光束用受光面的第一與第三分割線的間隔，與設置在所述副光束用受光面內的遮光帶在相當于所述光盤徑向的方向上的寬度大致相等。
10.根據權利要求7所述的光拾取器裝置，其特征在于：
所述主光束用受光面的第一與第三分割線的間隔，與設置在所述副光束用受光面內的遮光帶在相當于所述光盤徑向的方向上的寬度大致相等。
11.根據權利要求8所述的光拾取器裝置，其特征在于：
所述主光束用受光面的第一與第三分割線的間隔，與設置在所述副光束用受光面內的遮光帶在相當于所述光盤徑向的方向上的寬度大致相等。
12.一種記錄層被多層化的光盤的記錄、再現用的光拾取器，其特征在于，包括：
半導體激光光源；
具備將從該半導體激光光源射出的激光光束分割成主光束與副光束的功能的光束分割元件；
物鏡，將所述主光束與副光束分別聚光到光學信息記錄介質內所具有的規定記錄層上；和
光檢測器，分別獨立接受所述記錄層反射的所述主光束和副光束，檢測規定的信號，
所述光檢測器具備主光束用受光面，所述主光束入射到其上，并且被相互大致垂直的2條分割線4分割；和副光束用受光面，所述副光束入射到其上，并且被至少1條分割線所2分割，還在該副光束用受光面內所具有的中央分割線上及其附近，設置有具有規定寬度并且基本上完全截斷入射光的帶狀遮光帶或不敏感帶。
13.根據權利要求12所述的光拾取器，其特征在于：
設置在所述副光束用受光面內的遮光帶或不敏感帶的短邊側寬度在照射到該副光束用受光面上的所述副光束的聚光斑點直徑的20％～40％的范圍內。
