[發(fā)明專利]半導體發(fā)光裝置及其制作方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200710087277.2 | 申請日: | 2007-03-21 |
| 公開(公告)號: | CN101271940A | 公開(公告)日: | 2008-09-24 |
| 發(fā)明(設計)人: | 許晉源;張嘉顯 | 申請(專利權)人: | 億光電子工業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/00 | 分類號: | H01L33/00 |
| 代理公司: | 北京律誠同業(yè)知識產(chǎn)權代理有限公司 | 代理人: | 徐金國;梁揮 |
| 地址: | 臺灣省臺北縣土*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 發(fā)光 裝置 及其 制作方法 | ||
1.?一種半導體發(fā)光裝置,其特征在于,至少包含:
一發(fā)光組件,位于一封裝承載座中;
一透明膠材,覆蓋該發(fā)光組件;
至少一透明薄膜,位于該發(fā)光組件與該透明膠材之間,且該透明薄膜的折射率介于該發(fā)光組件與該透明膠材的折射率之間。
2.?如權利要求1所述的半導體發(fā)光裝置,其特征在于,該至少一透明薄膜選自由鉆石膜、類鉆石膜、氮化鋁膜、氮化硼膜及前述的組合所構成的族群。
3.?如權利要求2所述的半導體發(fā)光裝置,其特征在于,由該鉆石膜或/和該類鉆石膜所構成的該至少一透明薄膜的總厚度約為500~10000埃,以使該發(fā)光組件所發(fā)出的光線穿透該至少一透明薄膜。
4.?如權利要求2所述的半導體發(fā)光裝置,其特征在于,該類鉆石膜的折射率約為1.7~2.4。
5.?如權利要求2所述的半導體發(fā)光裝置,其特征在于,由該氮化鋁膜和/或氮化硼膜所構成的該至少一透明薄膜的總厚度約為50~10000nm,以使該發(fā)光組件所發(fā)出的光線穿透該至少一透明薄膜。
6.?如申權利要求1所述的半導體發(fā)光裝置,其特征在于,該發(fā)光組件包含:
一基材;
一N型半導體組件,位于該基材上;
一P型半導體組件,位于該N型半導體組件上;
多個電極,位于該N型半導體組件與該P型半導體組件的表面。
7.?如權利要求6所述的半導體發(fā)光裝置,其特征在于,該N型半導體組件與該P型半導體組件的主要材料選自由氮化鎵、氮化鋁鎵、氮化銦鎵、砷化鎵、磷化鎵、砷化鋁鎵、磷化鋁鎵銦、硒化鋅及碳化硅所構成的族群。
8.?如權利要求1所述的半導體發(fā)光裝置,其特征在于,還包含至少一散熱裝置,以降低使用過程中該發(fā)光組件的溫度。
9.?一種半導體發(fā)光裝置的制作方法,其特征在于,包含步驟:
形成一發(fā)光組件于一封裝承載座中,其中該發(fā)光組件具有一第一折射率;
形成至少一透明薄膜于該發(fā)光組件的表面,且該透明薄膜具有一第二折射率;
填充具有一第三折射率的一透明膠材至該封裝承載座中,以覆蓋該發(fā)光組件,其中該第二折射率介于該第一折射率與該第三折射率之間。
10.?如權利要求9所述的半導體發(fā)光裝置的制作方法,其特征在于,該至少一透明薄膜的形成方法為濺射法、蒸發(fā)法或離子增長型化學汽相沉積法。
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