[發明專利]利用瑕疵存儲器的系統、裝置和方法及封裝結構

有效

• 申請號: 200710079392.5
• 申請日: 2007-02-16
• 公開（公告）號: CN101246741A
• 公開（公告）日: 2008-08-20
• 發明（設計）人: 張華龍;殷立定;羅魏熙
• 申請（專利權）人: 深圳市芯邦微電子有限公司
• 主分類號: G11C16/06
• 分類號: G11C16/06;G06F11/10;G11C29/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司
• 代理人: 逯長明

1.一種利用瑕疵存儲器的系統，其特征在于，包括存儲控制器(110)，譯碼模塊(130)和瑕疵存儲器(120)，其中，

存儲控制器(110)與瑕疵存儲器(120)間通過時鐘線、數據總線、低位地址總線和控制線相連，與譯碼模塊(130)通過高位地址輸入總線和控制線相連，用于通過譯碼模塊(130)對瑕疵存儲器(120)進行讀寫；

譯碼模塊(130)與存儲控制器(110)通過高位地址輸入總線和控制線相連，與瑕疵存儲器(120)通過高位地址輸出總線相連，用于將存儲控制器(110)對瑕疵存儲器(120)進行讀寫的地址譯碼為瑕疵存儲器(120)中好塊的地址。

2.如權利要求1所述的系統，其特征在于，譯碼模塊(130)包括譯碼控制模塊(131)，輸出驅動模塊(132)和可編程模塊(133)，其中，

譯碼控制模塊(131)的輸入端與存儲控制器(110)通過高位地址輸入總線和控制線相連，用于對存儲控制器(110)輸入地址的譯碼；

輸出驅動模塊(132)一側與譯碼控制模塊(131)相連，另一側與瑕疵存儲器(120)通過高位地址輸出總線相連，輸出驅動模塊(132)用于驅動瑕疵存儲器(120)，并通過高位地址輸出總線將映射后的數據塊地址傳輸到瑕疵存儲器(120)；

可編程模塊(133)與譯碼控制模塊(131)相連，該可編程模塊(133)的輸入端還包括編程控制總線和模式MODE總線，模式MODE總線狀態包括在線編程狀態和工作狀態；

在線編程狀態下，所述可編程模塊(133)用于測試瑕疵存儲器(120)的所有存儲塊，得到好壞塊的信息，并存儲該信息；

工作狀態下，所述可編程模塊(133)根據存儲的好壞塊信息，編程設置輸入塊地址與輸出好塊地址的映射關系并將其提供給譯碼控制模塊(131)，譯碼控制模塊(131)根據可編程模塊(133)中提供的輸入塊地址與輸出好塊地址的映射關系，將高位地址輸入總線輸入的存儲塊地址映射到瑕疵存儲器(120)中的好塊地址，并通過輸出驅動模塊(132)對瑕疵存儲器(120)進行讀寫。

3.如權利要求2所述的系統，其特征在于，所述可編程模塊(133)通過改變模式MODE總線的輸入電平來改變譯碼模塊的狀態；在所述的線編程狀態下，高位地址輸入總線輸入的地址等于高位地址輸出總線輸出的地址。

4.一種利用瑕疵存儲器的裝置，其特征在于，包括譯碼控制模塊(131)，輸出驅動模塊(132)和可編程模塊(133)，其中，

譯碼控制模塊(131)的輸入端與存儲控制器(110)通過高位地址輸入總線和控制線相連，用于對存儲控制器(110)輸入地址的譯碼；

輸出驅動模塊(132)一側與譯碼控制模塊(131)相連，另一側與瑕疵存儲器(120)通過高位地址輸出總線相連，輸出驅動模塊(132)用于驅動瑕疵存儲器，并通過高位地址輸出總線將映射后的數據塊地址傳輸到瑕疵存儲器(120)；

可編程模塊(133)與譯碼控制模塊(131)相連，該可編程模塊的輸入端還包括編程控制總線和模式MODE總線，模式MODE總線狀態包括在線編程狀態和工作狀態；

譯碼控制在線編程狀態下，所述可編程模塊(133)用于測試瑕疵存儲器(120)的所有存儲塊，得到好壞塊的信息，并存儲該信息；

工作狀態下，所述可編程模塊(133)根據存儲的好壞塊信息，編程設置輸入塊地址與輸出好塊地址的映射關系并將其提供給譯碼控制模塊(131)，譯碼控制模塊(131)根據可編程模塊(133)中提供的輸入塊地址與輸出好塊地址的映射關系，將高位地址輸入總線輸入的存儲塊地址映射到瑕疵存儲器中的好塊地址，并通過輸出驅動模塊(132)對瑕疵存儲器進行讀寫。

5.如權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述可編程模塊(133)通過改變模式MODE總線的輸入電平來改變譯碼模塊的狀態；在所述的線編程狀態下，高位地址輸出總線輸出的地址等于高位地址輸入總線輸入的地址。