[發明專利]溫度測量裝置及其溫度校驗方法

有效

• 申請號: 200710076831.7
• 申請日: 2007-08-31
• 公開（公告）號: CN101377440A
• 公開（公告）日: 2009-03-04
• 發明（設計）人: 祖波;丁會利;周波;徐循進
• 申請（專利權）人: 比亞迪股份有限公司
• 主分類號: G01K7/16
• 分類號: G01K7/16;G01K7/42
• 代理公司: 深圳創友專利商標代理有限公司
• 代理人: 陳俊斌

【技術領域】

本發明涉及一種控制系統，特別涉及其中的溫度測量裝置。

溫度測量技術中，一般使用制造商提供的電阻跟溫度的特性關系函數曲線，在其上插入若干個點，相臨兩點用直線相連，這樣該特性曲線就被分為了若干小段，設每段的斜率為k_x(x為每段的段號)，在溫度測量裝置獲得采樣的AD值后，根據AD轉換算法，算出其對應的電壓值V_X，再根據公式VCCRXRX+r=VX]]>反算出電阻值R_X，RX=VXrVCC-VX,]]>這樣便可以知道此R_X位于分段函數的哪一段，然后根據斜率即可算出對應的溫度T_X，如圖2所示，TX=T2-K3(R2-VXrVCC-VX).]]>從計算公式就可以看出V_CC的變化會對溫度值的精確度產生影響，事實上因為元器件的差異性，每個溫度測量裝置的V_CC都不相同，從而使所測得的溫度出現誤差，據實際測量，V_CC的每20mv的電壓波動即可以導致1度的溫度測量誤差，對產品的性能造成很大影響。

本發明的主要目的是：提供一種降低溫度測量誤差、使測量結果更為準確的溫度測量裝置及其溫度校驗方法。

為實現上述目的，本發明提出一種溫度測量裝置，包括溫度傳感器、MCU、存儲器，所述溫度傳感器與所述MCU采樣端連接；所述存儲器內置于所述MCU，或外置并與所述MCU連接；所述存儲器內置有溫度傳感器采樣模數轉換值-溫度對應關系曲線；所述MCU采樣溫度傳感器的壓降，得出其采樣模數轉換值；由所述采樣模數轉換值-溫度對應關系曲線計算出對應的溫度值，其中所述MCU利用若干校驗支路以及從所述溫度傳感器的電阻-溫度對應關系曲線選取的用于模擬所述溫度傳感器的校驗電阻，采樣校驗支路逐一接入所述溫度測量裝置后各個校驗電阻對應的壓降以得到對應的采樣模數轉換值，所述存儲器存儲所述采樣模數轉換值以與各個校驗電阻對應的溫度值構成所述采樣模數轉換值-溫度對應關系曲線。

上述的溫度測量裝置，還包括CAN收發器，與所述MCU連接。

同時，本發明提出了一種溫度校驗方法，包括如下步驟：采用測試工裝設置若干校驗支路，每一校驗支路根據溫度傳感器的電阻-溫度對應關系阻值對應的壓降，得出其采樣模數轉換值；將采樣模數轉換值一一存儲于溫度測量裝置的存儲器中，并與該校驗電阻值對應的溫度值構成溫度傳感器的采樣模數轉換值-溫度對應關系曲線。