[發(fā)明專利]溫度測量裝置及其溫度校驗(yàn)方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200710076831.7 | 申請日： | 2007-08-31 |
| 公開（公告）號： | CN101377440A | 公開（公告）日： | 2009-03-04 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 祖波;丁會利;周波;徐循進(jìn) | 申請（專利權(quán)）人： | 比亞迪股份有限公司 |
| 主分類號： | G01K7/16 | 分類號： | G01K7/16;G01K7/42 |
| 代理公司： | 深圳創(chuàng)友專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人： | 陳俊斌 |
| 地址： | 518119廣東省深*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 溫度 測量 裝置 及其 校驗(yàn) 方法 | ||
1.一種溫度測量裝置，包括溫度傳感器、MCU、存儲器，所述溫度傳感器與所述MCU采樣端連接；所述存儲器內(nèi)置于所述MCU，或外置并與所述MCU連接；其特征是：所述存儲器內(nèi)置有溫度傳感器采樣模數(shù)轉(zhuǎn)換值-溫度對應(yīng)關(guān)系曲線；所述MCU采樣溫度傳感器的壓降，得出其采樣模數(shù)轉(zhuǎn)換值；由所述采樣模數(shù)轉(zhuǎn)換值-溫度對應(yīng)關(guān)系曲線計(jì)算出對應(yīng)的溫度值；
其中所述MCU利用若干校驗(yàn)支路以及從所述溫度傳感器的電阻-溫度對應(yīng)關(guān)系曲線選取的用于模擬所述溫度傳感器的校驗(yàn)電阻，采樣校驗(yàn)支路逐一接入所述溫度測量裝置后各個校驗(yàn)電阻對應(yīng)的壓降以得到對應(yīng)的采樣模數(shù)轉(zhuǎn)換值，所述存儲器存儲所述采樣模數(shù)轉(zhuǎn)換值以與各個校驗(yàn)電阻對應(yīng)的溫度值構(gòu)成所述采樣模數(shù)轉(zhuǎn)換值-溫度對應(yīng)關(guān)系曲線。
2.如權(quán)利要求1所述的溫度測量裝置，其特征是：還包括CAN收發(fā)器，與所述MCU連接。
3.一種溫度校驗(yàn)方法，包括如下步驟：采用測試工裝設(shè)置若干校驗(yàn)支路，每一校驗(yàn)支路根據(jù)溫度傳感器的電阻-溫度對應(yīng)關(guān)系曲線選取校驗(yàn)電阻值；將校驗(yàn)支路逐一接入溫度測量裝置，采樣各校驗(yàn)電阻值對應(yīng)的壓降，得出其采樣模數(shù)轉(zhuǎn)換值；將采樣模數(shù)轉(zhuǎn)換值一一存儲于溫度測量裝置的存儲器中，并與該校驗(yàn)電阻值對應(yīng)的溫度值構(gòu)成溫度傳感器的采樣模數(shù)轉(zhuǎn)換值-溫度對應(yīng)關(guān)系曲線。
4.如權(quán)利要求3所述的溫度校驗(yàn)方法，其特征是：所述測試工裝每接入一個校驗(yàn)支路，即向所述溫度測量裝置發(fā)送采樣通知；所述溫度測量裝置據(jù)此采樣電壓、計(jì)算采樣模數(shù)轉(zhuǎn)換值并存入存儲器。
5.如權(quán)利要求4所述的溫度校驗(yàn)方法，其特征是：所述溫度測量裝置每存入一采樣模數(shù)轉(zhuǎn)換值，即向所述測試工裝發(fā)送當(dāng)次校驗(yàn)完畢通知，所述測試工裝據(jù)此切換接入下一個校驗(yàn)支路。
6.如權(quán)利要求4或5所述的溫度校驗(yàn)方法，其特征是：所述溫度測量裝置與所述測試工裝通過CAN總線進(jìn)行通信。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于比亞迪股份有限公司，未經(jīng)比亞迪股份有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200710076831.7/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
