[發明專利]測量設備及其測量方法

無效

• 申請號: 200710073074.8
• 申請日: 2007-02-02
• 公開（公告）號: CN101236059A
• 公開（公告）日: 2008-08-06
• 發明（設計）人: 李雷;陳平;趙云芳;李冬;陳志禮;蔣軍
• 申請（專利權）人: 深圳富泰宏精密工業有限公司
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00;G01B5/02;G01B5/06;G01B3/18
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明是關于一種測量設備及其測量方法，特別是關于一種測量工件幾何參量的測量設備及其測量方法。

背景技術

工業生產中，為判斷工件是否符合尺寸標準，常常需要對工件進行幾何參量的測量。目前，在該領域主要采用三次元測量技術對精密工件進行測量。現有的三次元測量儀器體積較為龐大，結構復雜，移動不便，只適合在實驗室中對少數工件樣本進行測量，不能滿足在生產線上進行大規模測量的要求。

另外，為達到精確測量，可單獨使用千分尺對工件進行測量，并由檢測人員讀數并手工記錄。該千分尺雖然體積較小，結構簡單，易于操作，但這樣測量不僅效率低，容易造成讀數錯誤。更重要的是，需用檢測人員判斷工件是否符合標準，增加了檢測人員的作業強度。

發明內容

鑒于以上缺點，有必要提供一種體積小，可直接顯示工件幾何參量及工件是否通過測量的測量設備。

另外，有必要提供一種操作簡便快捷的量測方法。

一種用以測量工件幾何參量的測量設備，其包括一測量儀器及一數據處理裝置，該測量儀器包括一基座、一導柱、一滑塊及一千分尺，該導柱垂直固定在基座上，該滑塊可移動的設置于所述導柱上，并固定所述千分尺；該數據處理裝置與該測量儀器相連，該數據處理裝置用以分析由測量儀器測得的測量值，并顯示測量結果。

一種量測方法，該方法包括以下步驟：

對測量儀器進行校零操作，

對數據處理裝置進行測量參數設定，

用所述測量儀器測量工件的幾何參量，從而得到若干測量值，

該數據處理裝置分析由測量儀器測得的測量值，判斷所述工件幾何參量是否符合預定要求。

與現有技術相比，本發明提供一帶有數據處理裝置的測量設備，其可直接顯示工件幾何參量及測量結果。另外，應用千分尺對工件進行測量，使得該數據處理裝置體積小，并可顯示工件的測量值，讀數精確。該測量方法簡單、快捷，易于操作。

附圖說明

圖1為本發明測量設備的較佳實施例的立體示意圖；

圖2為本發明測量設備的較佳實施例的測量儀器的立體示意圖；

圖3為本發明測量設備的較佳實施例中數據處理裝置的功能模塊圖。

具體實施方式

請參閱圖1，本發明測量設備80的較佳實施例包括一測量儀器10及一與該測量儀器10相互連接的數據處理裝置20，該測量設備80可用于對工件的高度、寬度及厚度等幾何參量進行測量并顯示該工件是否符合標準。

請參閱圖2，該測量儀器10包括一基座14、一導柱16、一滑塊18及一千分尺12。該基座14為一大致呈矩形的金屬板，其上表面具有很高的平面度。在該上表面臨近邊緣處開有一通孔(圖未示)。該導柱16為一金屬棒，其橫截面與所述通孔大小相當，該導柱16可卡固在該通孔中并與該基座14相垂直。該滑塊18包括一滑動部182及一夾持部184，所述滑動部182大致呈長方體，其上開設有通孔(圖未示)，滑塊18通過該通孔套設在導柱16上，并通過一螺釘將該滑塊18可移動的連接在該導柱16上。夾持部184大致呈長方體，其由滑動部182的一側向外延伸，該夾持部184表面開設有一矩形槽(圖未示)。該千分尺12在本發明中的較佳實施例為一數顯千分尺，其包括一主體122及一表盤124。該主體122包括一測量螺桿1222及一棘輪1224，旋轉該棘輪1224可使該測量螺桿1222上下移動。該表盤124固定在該主體122的周緣。該表盤124的表面設有一數字顯示屏1242；在表盤124上另設有一復零按鈕1244，用于該千分尺12的校零操作；在該表盤124的一側壁上開有一數據輸出接口1246，用于與數據處理裝置20連接輸出測量值；在該表盤124的另一側壁延伸出一裝夾部(圖未示)，用于與夾持部184的矩形槽相配合，使該千分尺12固定在所述滑塊18上。