[發明專利]測量設備及其測量方法

無效

• 申請號: 200710073074.8
• 申請日: 2007-02-02
• 公開（公告）號: CN101236059A
• 公開（公告）日: 2008-08-06
• 發明（設計）人: 李雷;陳平;趙云芳;李冬;陳志禮;蔣軍
• 申請（專利權）人: 深圳富泰宏精密工業有限公司
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00;G01B5/02;G01B5/06;G01B3/18
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• 代理人: 暫無信息

1.?一種用以測量工件幾何參量的測量設備，其包括一測量儀器及一數據處理裝置，其特征在于：該測量儀器包括一基座、一導柱、一滑塊及一千分尺，該導柱垂直固定在基座上，該滑塊可移動的設置于所述導柱上，并固定所述千分尺；該數據處理裝置與該測量儀器相連，該數據處理裝置用以分析由測量儀器測得的測量值，并顯示測量結果。

2.?如權利要求1所述的測量設備，其特征在于：該千分尺包括一主體，該主體包括一測量螺桿及一棘輪，旋轉該棘輪控制該測量螺桿上下移動，以接觸工件。

3.?如權利要求2所述的測量設備，其特征在于：該千分尺還包括一帶有數字顯示屏的表盤及一數據輸出接口，該表盤固定于所述主體的周緣，該數據輸出接口開設在表盤的外緣周側，所述千分尺通過該數據輸出接口經一數據傳輸線與該數據處理裝置連接。

4.?如權利要求3所述的測量設備，其特征在于：該表盤設有一復零按鈕。

5.?如權利要求1所述的測量設備，其特征在于：該數據處理裝置包括一輸入模塊，該輸入模塊與所述千分尺相連接，使該數據處理裝置與所述測量儀器進行數據傳輸。

6.?如權利要求5所述的測量設備，其特征在于：該數據處理裝置還包括一參數設置模塊及一數據處理模塊，該參數設置模塊與數據處理模塊電連接，以用于將一測量參數儲存在數據處理模塊中；該輸入模塊與數據處理模塊電連接，由數據處理模塊儲存測量值。

7.?如權利要求5所述的測量設備，其特征在于：該數據處理裝置包括一顯示屏，該顯示屏顯示工件的幾何參量及測試結果。

8.?一種應用權利要求1所述測量設備的測量方法，其特征在于：該方法包括以下步驟：

對測量儀器進行校零操作，

對數據處理裝置進行測量參數設定，

用所述測量儀器測量工件的幾何參量，從而得到若干測量值，

該數據處理裝置分析由測量儀器測得的測量值，并顯示測量結果。

9.?如權利要求8所述的測量方法，其特征在于：進行校零操作時需用一標準校零塊對千分尺進行校零。

10.?如權利要求9所述的測量方法，其特征在于：該數據處理模塊將標準校零塊的高度值減去測量值得出工件的實際幾何參量值，將該實際幾何參量值與測量參數進行比較。