[發(fā)明專利]基于多模波導中光場橫向模式的干涉測量儀無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200710069330.6 | 申請日: | 2007-06-15 |
| 公開(公告)號: | CN101071057A | 公開(公告)日: | 2007-11-14 |
| 發(fā)明(設計)人: | 符建;王冬云 | 申請(專利權(quán))人: | 浙江大學 |
| 主分類號: | G01B9/02 | 分類號: | G01B9/02 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務所有限公司 | 代理人: | 張法高 |
| 地址: | 310027*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 波導 中光場 橫向 模式 干涉 測量儀 | ||
技術(shù)領域
本發(fā)明涉及干涉測量儀,尤其涉及一種基于多模波導中光場橫向模式的干涉測量儀。
背景技術(shù)
精密測量是一項在科學研究和工業(yè)生產(chǎn)中具有極其重要意義的技術(shù),其中基于光學干涉原理實現(xiàn)的精密測量尤其得到廣泛應用。這種干涉測量的基本原理非常簡單,利用分束器將一束相干光分為兩束,其中一束作為參考光,另一束經(jīng)過相位調(diào)制器產(chǎn)生一個相位差,這個相位調(diào)制器與待測的物理量有關,然后兩束光重新匯聚,由于相位差的產(chǎn)生,匯聚到一起的兩束光發(fā)生干涉,輸出的光強隨著相位差變換而變化,這樣通過光強的測量就能夠獲得相位差的值,進而獲得待測物理量的值。由于光波的相位非常敏感,因此這樣測得的物理量可以實現(xiàn)非常高的精度。因此,目前許多的精密測量是利用光學干涉方法來實現(xiàn)的,例如引力波探測、微納米位移測量、光纖陀螺和光纖聲納探測等。雖然不同的測量系統(tǒng)采用不同的干涉儀,如馬赫-增德爾干涉儀、邁克爾遜干涉儀、Sagnac干涉儀等,但這些干涉儀的基本原理都是基本相同的。
由于受到量子力學測不準原理的限制,這種基于光學干涉的測量都存著一個標準的量子力學精度極限,也就是相位測量的誤差Δθ必定大于等于N-1/2,其中N為場的平均光強有關。這主要是由于測量采用的激光光源屬于相干態(tài),對相干態(tài)光強測量的起伏等于其平均光強的1/2次方,即N-1/2,而根據(jù)測不準原理,相位和光強(與光子數(shù)有關)是測量精度上相互制約的物理量,因此相位測量精度受制于光強的大小。但是這種標準的量子力學精度極限并不是最基本的限制,可以通過一些方法超越這種極限,例如利用壓縮態(tài)和量子糾纏就能夠使相位測量的精度突破這一極限。將壓縮態(tài)作為測量光源,可以實現(xiàn)相位測量精度與N-3/4成正比。提高測量精度最理想的方法是基于量子糾纏態(tài)的非局域測量方法,利用量子糾纏所具有的非局域性質(zhì),能夠?qū)崿F(xiàn)相位測量精度與N-1成正比,這達到了量子力學對測量精度的最基本限制,即所謂海森堡極限。但是這種方法的實現(xiàn)依賴于多粒子量子糾纏態(tài)的產(chǎn)生,而多粒子量子糾纏態(tài)的產(chǎn)生極其困難,因此這種提高測量精度的方法難以實現(xiàn)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種基于多模波導中光場橫向模式的干涉測量儀。
基于多模波導中光場橫向模式的干涉測量儀包括相連接的光源組件、模式交換組件、傳感組件、相關測量組件,模式交換組件具有多個多模波導方向耦合器,傳感組件具有多個多模波導相位調(diào)制器,相關測量組件具有多個相連接的Y型分支器、光探測器、差分器,多個差分器與相關器相連接。
所述的光源組件由多個相互獨立的,互相連接的相干光源、模式疊加態(tài)生成器構(gòu)成。光源組件具有相連接的相干光源、分束器,分束器分別接有多個相連接相位調(diào)制器、模式疊加態(tài)生成器。模式疊加態(tài)生成器具有雙模波導馬赫-增德爾干涉儀,雙模波導馬赫-增德爾干涉儀中的一臂具有π/2相位調(diào)制器。模式疊加態(tài)生成器是一個雙模波導Y型合路器。
本發(fā)明利用經(jīng)典場實現(xiàn)多粒子量子糾纏態(tài)經(jīng)典模擬的方法,這種經(jīng)典模擬產(chǎn)生了類似于量子糾纏的非局域性質(zhì),本發(fā)明能夠達到相位測量精度與N-1成正比,與量子糾纏方案一樣達到測量精度的海森堡極限。更為重要的是,本發(fā)明所公開的方案,只需要一般的相干光源(如激光)以及線性光學元件,因此在實現(xiàn)上比量子糾纏方案要容易得到多,在引力波探測、微納米位移測量、光纖陀螺和光纖聲納探測等領域具有重要的應用前景。
附圖說明
圖1是基于多模波導中光場橫向模式的干涉測量儀結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本發(fā)明的多模干涉測量儀的實施單元結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3(a)是圖2實施單元的相位θ為0時計算機模擬結(jié)果示意圖;
圖3(b)是圖2實施單元的相位θ為π/2時計算機模擬結(jié)果示意圖;
圖3(c)是圖2實施單元的相位θ為π時計算機模擬結(jié)果示意圖;
圖4是本發(fā)明的方向耦合器實現(xiàn)模式分離的計算機模擬結(jié)果示意圖;
圖5是本發(fā)明的一種光源組件的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖6是本發(fā)明的另一種光源組件的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖7是本發(fā)明的一種模式疊加態(tài)生成器的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖8是本發(fā)明的另一種模式疊加態(tài)生成器的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖9(a)是圖7的計算機模擬結(jié)果示意圖
圖9(b)是圖8的計算機模擬結(jié)果示意圖
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