[發(fā)明專利]基于多模波導(dǎo)中光場橫向模式的干涉測量儀

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200710069330.6
• 申請(qǐng)日: 2007-06-15
• 公開（公告）號(hào): CN101071057A
• 公開（公告）日: 2007-11-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 符建;王冬云
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 浙江大學(xué)
• 主分類號(hào): G01B9/02
• 分類號(hào): G01B9/02
• 代理公司: 杭州求是專利事務(wù)所有限公司
• 代理人: 張法高

1.一種基于多模波導(dǎo)中光場橫向模式的干涉測量儀，其特征在于包括相連接的光源組件(1)、模式交換組件(2)、傳感組件(3)、相關(guān)測量組件(4)，模式交換組件(2)具有多個(gè)多模波導(dǎo)方向耦合器(5)，傳感組件(3)具有多個(gè)多模波導(dǎo)相位調(diào)制器(6)，相關(guān)測量組件(4)具有多個(gè)相連接的Y型分支器(7)、光探測器(8)、差分器(9)，多個(gè)差分器(9)與相關(guān)器(10)相連接，所述的光源組件(1)具有相連接的相干光源(12)、分束器(13)，分束器(13)分別接有多個(gè)相連接相位調(diào)制器(14)、模式疊加態(tài)生成器(11)。

2.如權(quán)利要求1所述的一種基于多模波導(dǎo)中光場橫向模式的干涉測量儀，其特征在于所述的模式疊加態(tài)生成器(11)具有雙模波導(dǎo)馬赫-增德爾干涉儀(15)，雙模波導(dǎo)馬赫-增德爾干涉儀(15)中的一臂具有π/2相位調(diào)制器(16)。

3.如權(quán)利要求1所述的一種基于多模波導(dǎo)中光場橫向模式的干涉測量儀，其特征在于所述的模式疊加態(tài)生成器(11)是一個(gè)雙模波導(dǎo)Y型合路器(17)。