[發(fā)明專利]按鍵系統(tǒng)及其檢測方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200710049164.3 | 申請日: | 2007-05-24 |
| 公開(公告)號: | CN101079637A | 公開(公告)日: | 2007-11-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 付強 | 申請(專利權(quán))人: | 四川長虹電器股份有限公司 |
| 主分類號: | H03M11/20 | 分類號: | H03M11/20 |
| 代理公司: | 成都虹橋?qū)@聞?wù)所 | 代理人: | 李順德 |
| 地址: | 621000四川*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 按鍵 系統(tǒng) 及其 檢測 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電子技術(shù),特別涉及按鍵的掃描檢測技術(shù)。
背景技術(shù)
目前各生產(chǎn)廠家生產(chǎn)碟機、衛(wèi)星接收機、遙控器等需要使用按鍵的產(chǎn)品大部分都采用矩陣式掃描電路連接到MCU(按鍵編碼集成電路)進行按鍵掃描檢測確認某個按鍵的狀態(tài);采用該種按鍵掃描方式參見圖1,圖中涉及對4×4個按鍵的按鍵掃描電路,其中,S15~S0表示按鍵,PA3~PA0為行導線輸入端,初始化為帶上拉電阻的輸入口,PA7~PA4為列導線輸出端,初始化為輸出低電平。掃描方法:首先由輸出口PA7~PA4向所有的列導線輸出低電平,讀取各行導線PA3~PA0的狀態(tài),若行導線狀態(tài)全為高電平,則表明無鍵按下,若行導線狀態(tài)中有低電平,則表明有鍵按下,再對每一條列導線進行掃描,即:PA7~PA4四條列導線分別輸出低電平,在每次輸出低電平期間,讀取各行導線PA3~PA0的狀態(tài),確定鍵值。例如:PA7~PA4輸出″1011″,此時若讀取PA3~PA0的狀態(tài)為″1110″,則表明按鍵S4被按下。4×4個按鍵需要8個GPIO(通用輸入輸出)口線。若掃描n×n個按鍵,則需要2n個GPIO口線。這種矩陣掃描檢測方式容易受到MCU的GPIO口線的限制而影響按鍵的數(shù)量,如果按鍵數(shù)量多,那么就必須更換有更多GPIO口的MCU,從而增加了系統(tǒng)成本,也不利于產(chǎn)品的小型化。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是,針對現(xiàn)有矩陣按鍵掃描電路占用硬件資源多,系統(tǒng)成本高的問題,提供一種按鍵系統(tǒng)及其檢測方法。
本發(fā)明解決所述技術(shù)問題采用的技術(shù)方案是,按鍵系統(tǒng),包括按鍵編碼集成電路、n條行導線、m條列導線、m只二極管,且n≥m>1;行導線與按鍵編碼集成電路連接;n條行導線與m條列導線以n×m矩陣分布,m只二極管分布于矩陣的交點上,二極管陽極接行導線,陰極接列導線,且每條行導線最多與一只二極管的陽極連接,每條列導線與一只二極管的陰極連接;矩陣的其余交點上則分布按鍵,按鍵按下時,行導線和列導線接通。
按鍵系統(tǒng)的按鍵檢測方法,包括下列步驟:
a.將n條行導線置為高電平,然后掃描n條行導線,判斷是否有低電平出現(xiàn),有低電平出現(xiàn)則進入步驟b,無低電平出現(xiàn)則進入步驟c;
b.檢測到電平為低電平的行導線上接地的按鍵被按下;
c.按如下方法檢測位于n×m矩陣交點上的按鍵:
將第i條行導線置為低電平;
掃描第j條行導線是否為低電平,j≠i;
若是,則第j條行導線通過二極管連接的列導線與第i條行導線的交點上的按鍵被按下。
對上述第j條行導線通過二極管連接的列導線可以通過軟件確定:結(jié)合按鍵系統(tǒng)的電路圖中二極管的具體分布,在程序中記錄二極管所處的行導線和列導線為(j,r),j與r一一對應(yīng);當將第j條行導線作為掃描線,掃描第j條行導線是否為低電平時,通過程序中記錄的j所對應(yīng)的r,則確定出第j條行導線通過二極管連接的列導線為第r條列導線。
特別的,當m只二極管分布于n×m矩陣對角線的交點上時,二極管所處的行導線和列導線為(k,k),則本發(fā)明的按鍵系統(tǒng)的按鍵檢測方法,包括下列步驟:
a.將n條行導線置高電平,然后掃描n條行導線,判斷是否有低電平出現(xiàn),有低電平出現(xiàn)則進入步驟b,無低電平出現(xiàn)則進入步驟c;
b.檢測到電平為低電平的行導線上接地的按鍵被按下;
c.按如下方法檢測位于n×m矩陣交點上的按鍵:
將第i條行導線置為低電平;
掃描第k條行導線是否為低電平,k≠i;
若是,則第k條列導線與第i條行導線的交點上的按鍵被按下。
本發(fā)明的有益效果是,提供一種多按鍵檢測系統(tǒng)及其方法,節(jié)約了印制電路板和整機的空間,降低了系統(tǒng)成本。
以下結(jié)合具體實施方式和附圖,對本發(fā)明作進一步說明。
附圖說明
圖1是4×4矩陣按鍵掃描電路圖。
圖2是本發(fā)明實施方式的電路圖。
圖3是分發(fā)明實施方式流程圖。
圖4是本發(fā)明實施例1的電路圖
具體實施方式
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