[發明專利]按鍵系統及其檢測方法

無效

• 申請號: 200710049164.3
• 申請日: 2007-05-24
• 公開（公告）號: CN101079637A
• 公開（公告）日: 2007-11-28
• 發明（設計）人: 付強
• 申請（專利權）人: 四川長虹電器股份有限公司
• 主分類號: H03M11/20
• 分類號: H03M11/20
• 代理公司: 成都虹橋專利事務所
• 代理人: 李順德

1、按鍵系統，其特征是，包括按鍵編碼集成電路、n條行導線、m條列導線、m只二極管，且n≥m＞1；行導線與按鍵編碼集成電路連接；n條行導線與m條列導線以n×m矩陣分布，m只二極管分布于所述矩陣的交點上，二極管陽極接行導線，陰極接列導線，且每條行導線最多與一只二極管的陽極連接，每條列導線與一只二極管的陰極連接；所述矩陣的其余交點上則分布按鍵，所述按鍵按下時，行導線和列導線接通。

2、如權利要1所述的按鍵系統，其特征是，所述行導線通過按鍵接地。

3、如權利要1或2所述的按鍵系統，其特征是，所述m只二極管分布于所述矩陣對角線的交點上。

4、如權利要求3所述的按鍵系統，其特征是，還包括n只電阻，所述n條行導線分別通過電阻與電源連接。

5、按鍵系統的按鍵檢測方法，包括下列步驟：

a.將n條行導線置為高電平，然后掃描n條行導線，判斷是否有低電平出現，有低電平出現則進入步驟b，無低電平出現則進入步驟c；

b.檢測到電平為低電平的行導線上接地的按鍵被按下；

c.按如下方法檢測位于n×m矩陣交點上的按鍵：

將第i條行導線置為低電平；

掃描第j條行導線是否為低電平，j≠i；

若是，則第j條行導線通過二極管連接的列導線與第i條行導線的交點上的按鍵被按下。

6、如權利要求書5所述的按鍵系統的按鍵檢測方法，其特征是，m只二極管分布于n×m矩陣對角線上的交點上，所述步驟c為：

將第i條行導線置為低電平；

掃描第k條行導線是否為低電平，k≠i；

若是，則第k條列導線與第i條行導線的交點上的按鍵被按下。