[發明專利]一種光電式清紗檢測方法及其裝置無效
| 申請號: | 200710045116.7 | 申請日: | 2007-08-22 |
| 公開(公告)號: | CN101118221A | 公開(公告)日: | 2008-02-06 |
| 發明(設計)人: | 彭和建;吳作良;徐一凡 | 申請(專利權)人: | 上??迫A光電技術研究所 |
| 主分類號: | G01N21/898 | 分類號: | G01N21/898;G01N33/36;D06H3/00 |
| 代理公司: | 上海伯瑞杰知識產權代理有限公司 | 代理人: | 吳澤群 |
| 地址: | 201101上海市長*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 光電 式清紗 檢測 方法 及其 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及一種清紗檢測方法及其裝置,更具體地說,是涉及一種光電式清紗檢測方法及其裝置,屬于紡紗技術領域。
背景技術
清紗器的檢測方法分為光電式、電容式及兩者相結合式。光電式清紗檢測方法是通過檢測紗線的輪廓影象,即光通量的變化,來分辨紗線的直徑變化,因此,一般只能檢測出紗線上的結頭、毛粒、短粗、長粗、長細的變化,目前尚不能檢測出異質纖維和同質異色纖維。當今世界上廣泛應用光電式與電容式相結合的檢測方式,達到疵點檢測及同質異色纖維、同色異質纖維的檢測目的,但這種檢測方法所使用的檢測裝置設計復雜、制造成本高。
發明內容
本發明的目的在于針對現有技術的不足,提供一種光電式清紗檢測方法及其裝置,以解決現有光電式清紗檢測方法只能檢測出疵點,不能檢測出同色異質纖維和同質異色纖維的缺陷。
為達到上述發明目的,本發明通過以下技術方案予以實現:
本發明提供的光電式清紗檢測方法如下:利用紫外光源照射紗線,將由此產生的光信號經過一個反射屏面反射回來,反射回來的光信號被紫外增強型探測器接收后輸出給信號處理系統,然后信號處理系統對輸入的微電流信號經過放大、濾波、整形和比較處理,最后輸出檢測信號。
若是同色異質紗線,如:丙綸絲、滌綸絲或尼龍絲,反射回來的光信號為異質紗線被紫外光激發后產生的沒有被探測器直接接收的部分熒光信號;若是同質異色紗線,反射回來的光信號為同質異色紗線對紫外光產生的不同反射光。
實現本發明光電式清紗檢測方法的檢測裝置,包括外殼支架、發光管和探測器,所述發光管和探測器組成一探測屏面,在與此屏面相向平行設置有一個由反光鏡組成的反射屏面,所述探測屏面和反射屏面均設置在外殼支架的內表面上,兩屏面間的間隙為紗線檢測通道;所述發光管為紫外發光二極管;所述探測器為紫外增強型硅光電二極管。
在所述探測屏面上設置有一個濾光片,以濾除紫外光以外的其他成分和紅外光線;所述濾光片的透過光波波長為400nm±70nm,即對330~470nm以外的光源透過率很低。
所述外殼支架為凹形體,探測屏面和反射屏面分別設置在凹形外殼支架左、右豎直面的內表面上。
所述發光管位于探測器兩側,且兩側發光管分布位置對稱;發光管的個數最好是2~8個,每側各1~4個。
上述紫外發光二極管的發光波長最好在340~405nm范圍內。
上述紫外增強型硅光電二極管探測器,能從190nm開始響應,在波長200nm處接受一瓦特光的照射,能產生0.10安培左右的光電流,在峰值響應處(720nm處)接受一瓦特光的照射,能產生0.36安培左右的光電流,在25℃,加1伏特反偏壓測得的暗電流為10-10安培。
本發明與現有技術相比,具有的有益效果為:無需采用光電式和電容式相結合式檢測方法,只用光電式檢測方法便能檢測出異質纖維、同質纖維紗線上的雜色,并給出結頭、毛粒、短粗、長粗、長細等紗疵信號,比實現同等功能的檢測裝置設計簡單、制造成本低廉。
附圖說明
圖1為實施例的結構示意圖;
圖2為實施例的工作示意圖。
圖中:1-外殼支架;2-發光管;3-探測器;4-濾光片;5-反光鏡;6-紗線;7-信號處理系統。
具體實施方式
下面結合附圖和實施例對本發明作進一步說明,其目的僅在于更好理解本發明的內容而非限制本發明的保護范圍:
實施例
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