[發明專利]一種光電式清紗檢測方法及其裝置

無效

• 申請號: 200710045116.7
• 申請日: 2007-08-22
• 公開（公告）號: CN101118221A
• 公開（公告）日: 2008-02-06
• 發明（設計）人: 彭和建;吳作良;徐一凡
• 申請（專利權）人: 上海科華光電技術研究所
• 主分類號: G01N21/898
• 分類號: G01N21/898;G01N33/36;D06H3/00
• 代理公司: 上海伯瑞杰知識產權代理有限公司
• 代理人: 吳澤群

1.一種光電式清紗檢測方法，其特征在于，利用紫外光源照射紗線，將由此產生的光信號經過一個反射屏面反射回來，反射回來的光信號被紫外增強型探測器接收后輸出給信號處理系統，然后信號處理系統對輸入的微電流信號經過放大、濾波、整形和比較處理，最后輸出檢測信號。

2.根據權利要求1所述的光電式清紗檢測方法，其特征在于，所述反射回來的光信號為異質紗線被紫外光激發后產生的沒有被探測器直接接收的部分熒光信號或同質異色紗線對紫外光產生的不同反射光。

3.根據權利要求2所述的光電式清紗檢測方法，其特征在于，所述異質紗線為丙綸絲、滌綸絲或尼龍絲。

4.一種實現權利要求1所述的光電式清紗檢測方法的檢測裝置，包括外殼支架、發光管和探測器，其特征在于：

A)所述發光管和探測器組成一探測屏面，在與此屏面相向平行設置有一個由反光鏡組成的反射屏面，所述探測屏面和反射屏面均設置在外殼支架的內表面上，兩屏面間的間隙為紗線檢測通道；

B)所述發光管為紫外發光二極管；

C)所述探測器為紫外增強型硅光電二極管。

5.根據權利要求4所述的檢測裝置，其特征在于，在所述探測屏面上設置有一個濾光片。

6.根據權利要求5所述的檢測裝置，其特征在于，所述濾光片的透過光波波長為400nm±70nm。

7.根據權利要求4所述的檢測裝置，其特征在于，所述發光管位于探測器兩側且兩側發光管分布位置對稱。

8.根據權利要求4所述的檢測裝置，其特征在于，所述發光管的個數為2～8個，每側各1～4個。

9.根據權利要求4所述的檢測裝置，其特征在于，所述紫外發光二極管的發光波長在340～405nm范圍內。

10.根據權利要求4所述的檢測裝置，其特征在于，所述紫外增強型硅光電二極管的暗電流為10^-10安培，從190nm開始響應。