[發明專利]集成電路芯片接口模塊的回環測試結構

有效

• 申請號: 200710045089.3
• 申請日: 2007-08-21
• 公開（公告）號: CN101373205A
• 公開（公告）日: 2009-02-25
• 發明（設計）人: 李源
• 申請（專利權）人: 上海摩波彼克半導體有限公司
• 主分類號: G01R31/303
• 分類號: G01R31/303;G01R31/317
• 代理公司: 上海智信專利代理有限公司
• 代理人: 王潔

技術領域

本發明涉及集成電路技術領域，特別涉及集成電路芯片設計及測試技術領域，具體是指一種集成電路芯片接口模塊的回環測試結構。

背景技術

隨著電子技術的飛速發展，特別是數字技術的飛速發展，各種功能的集成電路芯片層出不窮。為了和其它芯片或設備連接，幾乎所有的芯片都有一定數量的控制接口。在一款完善的芯片面世前，它的接口模塊需要經過驗證，當一款成熟的芯片提供給客戶后，客戶也會對相應的功能進行驗證。對于具有收發功能的模塊，回環驗證是一個非常方便的測試方法。回環驗證的主要思想是把一個模塊的收和發信號線在芯片內部互聯，通過自己接收自己發送的信號來驗證模塊的收發功能。特別是在暫時不具備和接口模塊連接的設備時，又需要對接口模塊進行驗證，回環測試是必不可少的。

現有技術中，常規的回環測試是芯片內回環。也就是通過控制寄存器的配置，在芯片內把發送的信號送回接收信號線，達到相應接口收發功能測試的目的。這種測試方法有一個很大的問題，就是它只在功能測試方面是可靠的，在時序測試上是不可靠的。

其原因是，一般情況下，在芯片內部同一模塊內，接收和發送是用同一個時鐘信號控制的，所以發送的信號直接送回到接收信號線上時，其延時是非常小的，只要功能正確，其回環測試就會通過。但當真實設備連接上時，由于現在接收的信號是由真實的設備產生的，傳輸途徑中有一定的延時，可能導致無法正確接收數據。

綜上所述，用現有回環技術測試通過的芯片，一定量應用后發現與真實設備的連接存在問題，可能會造成大量的經濟和時間上的損失。

發明內容

本發明的目的是克服了上述現有技術中的缺點，提供一種能夠有效對芯片收發信號間的時序穩定特性進行嚴格地外部回環測試、電路結構簡單靈活、測試過程方便快捷、工作性能穩定可靠、適用范圍較為廣泛的集成電路芯片接口模塊的回環測試結構。

為了實現上述的目的，本發明的集成電路芯片接口模塊的回環測試結構具有如下構成：

該集成電路芯片接口模塊的回環測試結構，包括連接于芯片接口模塊上的第一發送信號線和第一接收信號線、連接于芯片測試平臺板上的第二發送信號線和第二接收信號線，其主要特點是，所述的第一發送信號線通過一個發送信號選擇開關與所述的第二發送信號線相連接，所述的第一接收信號線通過一接收信號選擇開關與所述的第二接收信號線相連接，所述的發送信號選擇開關與接收信號選擇開關之間跨接一個串聯有時序延時模塊的回環測試線，所述的發送信號選擇開關將第一發送信號線選擇性地與第二發送信號線或者回環測試線相連通，所述的接收信號選擇開關將第一接收信號線選擇性地與第二接收信號線或者回環測試線相連通。

該集成電路芯片接口模塊的回環測試結構的時序延時模塊為延時匹配網絡。

該集成電路芯片接口模塊的回環測試結構的第一發送信號線與發送信號選擇開關之間還接入有發送時序延時模塊。

該集成電路芯片接口模塊的回環測試結構的發送時序延時模塊為發送延時匹配網絡。

該集成電路芯片接口模塊的回環測試結構的第一接收信號線與接收信號選擇開關之間還接入有接收時序延時模塊。

該集成電路芯片接口模塊的回環測試結構的接收時序延時模塊為接收延時匹配網絡。

該集成電路芯片接口模塊的回環測試結構的發送信號選擇開關可以為手動開關。

該集成電路芯片接口模塊的回環測試結構的發送信號選擇開關也可以為電子控制開關，所述的芯片接口模塊上還連接有開關控制線，所述的開關控制線與該電子控制開關相連接。

該集成電路芯片接口模塊的回環測試結構的接收信號選擇開關可以為手動開關。

該集成電路芯片接口模塊的回環測試結構的接收信號選擇開關也可以為電子控制開關，所述的芯片接口模塊上還連接有開關控制線，所述的開關控制線與該電子控制開關相連接。

采用了該發明的集成電路芯片接口模塊的回環測試結構，由于其采用了芯片外部的回環測試的電路結構形式，從而能夠根據實際情況在收發信號線間加入一定量的延遲或干擾，達到更貼近實際運行狀態的測試效果，從而能夠測試出芯片在時序方面的穩定特性，能夠更及時、更全面的發現芯片接口模塊中可能存在的隱患和問題；同時本發明中還使用了額外的控制線或者手動方式來接通和斷開測試通路，從而不會干擾與其它接口設備的連接，這些控制線可以通過控制寄存器來控制，控制過程方便快捷，電路結構簡單靈活，工作性能穩定可靠，適用范圍較為廣泛。

附圖說明

圖1為本發明的集成電路芯片接口模塊的回環測試結構的電路原理圖。

具體實施方式

為了能夠更清楚地理解本發明的技術內容，特舉以下實施例詳細說明。