[發明專利]集成電路芯片接口模塊的回環測試結構有效
| 申請號： | 200710045089.3 | 申請日： | 2007-08-21 |
| 公開（公告）號： | CN101373205A | 公開（公告）日： | 2009-02-25 |
| 發明（設計）人： | 李源 | 申請（專利權）人： | 上海摩波彼克半導體有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/303 | 分類號： | G01R31/303;G01R31/317 |
| 代理公司： | 上海智信專利代理有限公司 | 代理人： | 王潔 |
| 地址： | 201203上海市*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 集成電路 芯片 接口 模塊 回環 測試 結構 | ||
1.一種集成電路芯片接口模塊的回環測試結構，包括連接于芯片接口模塊上的第一發送信號線和第一接收信號線、連接于芯片測試平臺板上的第二發送信號線和第二接收信號線，其特征在于，所述的第一發送信號線通過一發送信號選擇開關與所述的第二發送信號線相連接，所述的第一接收信號線通過一接收信號選擇開關與所述的第二接收信號線相連接，所述的發送信號選擇開關與接收信號選擇開關之間跨接一串聯有時序延時模塊的回環測試線，所述的發送信號選擇開關將第一發送信號線選擇性地與第二發送信號線或者回環測試線相連通，所述的接收信號選擇開關將第一接收信號線選擇性地與第二接收信號線或者回環測試線相連通，所述的第一發送信號線與發送信號選擇開關之間還接入有發送時序延時模塊。
2.根據權利要求1所述的集成電路芯片接口模塊的回環測試結構，其特征在于，所述的時序延時模塊為延時匹配網絡。
3.根據權利要求1所述的集成電路芯片接口模塊的回環測試結構，其特征在于，所述的發送時序延時模塊為發送延時匹配網絡。
4.根據權利要求1所述的集成電路芯片接口模塊的回環測試結構，其特征在于，所述的第一接收信號線與接收信號選擇開關之間還接入有接收時序延時模塊。
5.根據權利要求4所述的集成電路芯片接口模塊的回環測試結構，其特征在于，所述的接收時序延時模塊為接收延時匹配網絡。
6.根據權利要求1至5中任一項所述的集成電路芯片接口模塊的回環測試結構，其特征在于，所述的發送信號選擇開關為手動開關。
7.根據權利要求1至5中任一項所述的集成電路芯片接口模塊的回環測試結構，其特征在于，所述的發送信號選擇開關為電子控制開關，所述的芯片接口模塊上還連接有開關控制線，所述的開關控制線與該電子控制開關相連接。
8.根據權利要求1至5中任一項所述的集成電路芯片接口模塊的回環測試結構，其特征在于，所述的接收信號選擇開關為手動開關。
9.根據權利要求1至5中任一項所述的集成電路芯片接口模塊的回環測試結構，其特征在于，所述的接收信號選擇開關為電子控制開關，所述的芯片接口模塊上還連接有開關控制線，所述的開關控制線與該電子控制開關相連接。
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