[發明專利]一種測試自動上料卸料機臺的方法有效
| 申請號: | 200710044056.7 | 申請日: | 2007-07-20 |
| 公開(公告)號: | CN101350288A | 公開(公告)日: | 2009-01-21 |
| 發明(設計)人: | 趙連永;陳峰 | 申請(專利權)人: | 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/00 | 分類號: | H01L21/00 |
| 代理公司: | 上海智信專利代理有限公司 | 代理人: | 王潔 |
| 地址: | 201203*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測試 自動 卸料 機臺 方法 | ||
1.一種測試自動上料卸料機臺的方法,其特征在于包括:
用于測試上鎖和解鎖功能是否正常的步驟;
用于循環測試自動上料卸料機臺的上料卸料功能是否正常的步驟;
用于測試自動上料卸料機臺讀寫電子標簽功能是否正常的步驟。
2.如權利要求1所述的一種測試自動上料卸料機臺的方法,其特征在于:所述的用于循環測試自動上料卸料機臺的上料卸料功能是否正常的步驟通過在測試軟件上輸入要循環測試的次數,系統就能控制自動上料卸料機臺進行循環上料、卸料操作。
3.如權利要求1或2所述的一種測試自動上料卸料機臺的方法,其特征在于:所述的用于循環測試自動上料卸料機臺的上料卸料功能是否正常的步驟包括追蹤記錄功能。
4.如權利要求3所述的一種測試自動上料卸料機臺的方法,其特征在于:所述追蹤記錄功能是在循環測試自動上料卸料機臺的上料卸料過程中,將自動上料卸料機臺和電腦間的交互信息和上料卸料次數都記錄下來,以供分析使用。
5.如權利要求4所述的一種測試自動上料卸料機臺的方法,其特征在于:所述電腦和自動上料卸料機臺通過串行連接線相連。
6.如權利要求1所述的一種測試自動上料卸料機臺的方法,其特征在于:所述的用于測試上鎖和解鎖功能是否正常的步驟能夠測試自動上料卸料機臺對裝晶圓的容器的鎖定功能是否正常。
7.如權利要求1所述的一種測試自動上料卸料機臺的方法,其特征在于:所述的用于測試自動上料卸料機臺讀寫電子標簽功能是否正常的步驟用于測試自動上料卸料機臺讀寫電子標簽的功能是否正常,所述的電子標簽安裝在裝晶圓的容器上,用于記錄裝晶圓的容器的相關信息,所述的自動上料卸料機臺通過讀所述的電子標簽能夠掌握裝晶圓的容器的工作和通訊狀況。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





