[發(fā)明專(zhuān)利]集成電路芯片的檢測(cè)與包裝設(shè)備無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200710041395.X | 申請(qǐng)日: | 2007-05-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101315408A | 公開(kāi)(公告)日: | 2008-12-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 柯恩清 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 上海允科自動(dòng)化有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/28 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/28;G01R31/01 |
| 代理公司: | 上海三和萬(wàn)國(guó)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 | 代理人: | 劉立平;蔡海淳 |
| 地址: | 201102上海市*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 集成電路 芯片 檢測(cè) 包裝 設(shè)備 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備領(lǐng)域,尤其涉及一種用于集成電路芯片的檢測(cè)與包裝設(shè)備。
背景技術(shù)
在半導(dǎo)體工業(yè)中,已封裝完成的集成電路芯片在作為貼片元件之前,需經(jīng)過(guò)有效的檢測(cè)以及包裝;集成電路的表面標(biāo)識(shí)(商標(biāo)和型號(hào),也稱(chēng)作Mark)是通過(guò)二維的視覺(jué)成像與標(biāo)準(zhǔn)圖像比對(duì)后檢測(cè)出位置是否合格,同時(shí),集成電路的引腳(Leader)則需通過(guò)三維的視覺(jué)成像技術(shù)與標(biāo)準(zhǔn)圖形比對(duì)后檢測(cè)出引腳的各項(xiàng)參數(shù)是否合格。
檢測(cè)之后的分選過(guò)程就是將良品和不良品,分門(mén)別類(lèi)的放于不同的托盤(pán)內(nèi)。最終完成品的包裝就是將以經(jīng)過(guò)檢測(cè)的芯片從托盤(pán)中放入編帶中并成卷。
由于集成電路芯片種類(lèi)繁多,這就要求檢測(cè)和包裝設(shè)備的適應(yīng)性要強(qiáng),隨著半導(dǎo)體工業(yè)的不斷發(fā)展,對(duì)生產(chǎn)效率的要求日益提高,對(duì)工序集成的要求越來(lái)越高。
目前用于集成電路芯片檢測(cè)與包裝的大部分機(jī)器,只能完成檢測(cè)或者包裝一道工序,生產(chǎn)效率低下,不能同時(shí)滿(mǎn)足多種不同種類(lèi)/規(guī)格芯片,無(wú)法滿(mǎn)足生產(chǎn)流水作業(yè)的實(shí)際需要。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種集成電路芯片的檢測(cè)與包裝設(shè)備,其集標(biāo)識(shí)與引腳檢測(cè),卷帶包裝于一體,使用一套設(shè)備即可同時(shí)完成集成電路芯片的檢測(cè)和包裝工序。
本發(fā)明的技術(shù)方案是:提供一種集成電路芯片的檢測(cè)與包裝設(shè)備,包括載入單元、標(biāo)識(shí)檢測(cè)單元、引腳檢測(cè)單元、交換區(qū)單元、不合格區(qū)單元、芯片的取放單元和編帶成卷單元,其特征是:設(shè)置保證上述各單元銜接的主軌道與運(yùn)送帶,帶將上述各單元貫穿成為一個(gè)完整的工序裝置。
其主軌道由三個(gè)不同的運(yùn)送帶組成,分別稱(chēng)為一號(hào)運(yùn)送帶、二號(hào)運(yùn)送帶、三號(hào)運(yùn)送帶;其中一號(hào)運(yùn)送帶和三號(hào)運(yùn)送帶在一條直線上,二號(hào)運(yùn)送帶與其他兩條平行;三條運(yùn)送帶上均設(shè)置一塊托板,用于托住運(yùn)送來(lái)的托盤(pán),分別由各自的步進(jìn)電機(jī)以及同步帶輪帶動(dòng)各自的雙滑塊,沿導(dǎo)軌保持不間斷的傳遞運(yùn)動(dòng),運(yùn)送托盤(pán)沿主軌道到要求的位置。
具體的,其一號(hào)運(yùn)送帶收集從載入單元下來(lái)的托盤(pán),向前將托盤(pán)送入標(biāo)識(shí)檢測(cè)單元,并讓集成電路芯片一排一排地通過(guò)標(biāo)識(shí)檢測(cè)裝置并接受檢測(cè),檢測(cè)完畢,一號(hào)運(yùn)送帶繼續(xù)向前,到達(dá)二號(hào)運(yùn)送帶的第一移交區(qū),當(dāng)?shù)竭_(dá)二號(hào)運(yùn)送帶的第一移交區(qū)時(shí),一號(hào)運(yùn)送帶兩側(cè)的傳感器得到信號(hào),使步進(jìn)電機(jī)回轉(zhuǎn),一號(hào)運(yùn)送帶的托板,回到初始位置,等待下一次運(yùn)送。
其二號(hào)運(yùn)送帶承接一號(hào)運(yùn)送帶運(yùn)送來(lái)的托盤(pán)后,二號(hào)運(yùn)送帶開(kāi)始將托盤(pán)帶入引腳檢測(cè)站前,并讓集成電路芯片一排一排地通過(guò)引腳檢測(cè)取放系統(tǒng),由機(jī)械手將芯片依次吸起并拿到檢測(cè)站接受檢測(cè),檢測(cè)完畢,二號(hào)運(yùn)送帶繼續(xù)向前,到達(dá)三號(hào)運(yùn)送帶的第二移交區(qū),當(dāng)?shù)竭_(dá)三號(hào)運(yùn)送帶的第二移交區(qū)時(shí),二號(hào)運(yùn)送帶兩側(cè)的傳感器得到信號(hào),使步進(jìn)電機(jī)回轉(zhuǎn),二號(hào)運(yùn)送帶的托板,回到初始位置,等待下一次運(yùn)送。
其三號(hào)運(yùn)送帶承接二號(hào)運(yùn)送帶運(yùn)送來(lái)的托盤(pán)后,繼續(xù)向前,并讓集成電路芯片一排一排地通過(guò)編帶成卷單元,機(jī)械手將檢測(cè)完畢的集成電路芯片從托盤(pán)中拿到料帶中,裝帶完畢后,三號(hào)運(yùn)送帶繼續(xù)向前,到達(dá)主軌道的末端的托盤(pán)卸載區(qū)。
與現(xiàn)有技術(shù)比較,本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是:
1.集標(biāo)識(shí)與引腳檢測(cè)、卷帶包裝于一體,降低了工人的勞動(dòng)強(qiáng)度,使檢測(cè)過(guò)程更加快捷,提高了工作效率;
2.采用軟件系統(tǒng)精確控制各部件的行/止位置,保證各項(xiàng)功能運(yùn)行協(xié)調(diào)、平穩(wěn)、可靠,避免了各生產(chǎn)步驟和環(huán)節(jié)的積壓/脫節(jié),使整個(gè)生產(chǎn)環(huán)節(jié)合理、有序,保證了工作質(zhì)量。
附圖說(shuō)明
圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖中1為載入單元,2為標(biāo)識(shí)檢測(cè)單元,3為第一移交區(qū),4為引腳檢測(cè)單元,5為第二移交區(qū),6為芯片取放單元和編帶成卷單元,7為托盤(pán)卸載區(qū);A為一號(hào)運(yùn)送帶,B為二號(hào)運(yùn)送帶,C為三號(hào)運(yùn)送帶。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步說(shuō)明。
圖1中,本發(fā)明包括載入單元、標(biāo)識(shí)檢測(cè)單元、引腳檢測(cè)單元、交換區(qū)單元、不合格區(qū)單元、芯片的取放單元和編帶成卷單元,其設(shè)置了保證上述各單元銜接的主軌道與運(yùn)送帶,帶將上述各單元貫穿成為一個(gè)完整的工序裝置。
主軌道由三個(gè)不同的運(yùn)送帶組成,分別稱(chēng)為一號(hào)運(yùn)送帶、二號(hào)運(yùn)送帶、三號(hào)運(yùn)送帶;其中一號(hào)運(yùn)送帶和三號(hào)運(yùn)送帶在一條直線上,二號(hào)運(yùn)送帶與其他兩條平行;三條運(yùn)送帶上均設(shè)置一塊托板,用于托住運(yùn)送來(lái)的托盤(pán),分別由各自的步進(jìn)電機(jī)以及同步帶輪帶動(dòng)各自的雙滑塊,沿導(dǎo)軌保持不間斷的傳遞運(yùn)動(dòng),運(yùn)送托盤(pán)沿主軌道到要求的位置。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





