[發明專利]集成電路芯片的檢測與包裝設備無效
| 申請號: | 200710041395.X | 申請日: | 2007-05-29 |
| 公開(公告)號: | CN101315408A | 公開(公告)日: | 2008-12-03 |
| 發明(設計)人: | 柯恩清 | 申請(專利權)人: | 上海允科自動化有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;G01R31/01 |
| 代理公司: | 上海三和萬國知識產權代理事務所 | 代理人: | 劉立平;蔡海淳 |
| 地址: | 201102上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 集成電路 芯片 檢測 包裝 設備 | ||
1.一種集成電路芯片的檢測與包裝設備,包括載入單元、標識檢測單元、引腳檢測單元、交換區單元、不合格區單元、芯片的取放單元和編帶成卷單元,其特征是:
設置保證上述各單元銜接的主軌道與運送帶,帶將上述各單元貫穿成為一個完整的工序裝置。
2.按照權利要求1所述的集成電路芯片的檢測與包裝設備,其特征是所述的主軌道由三個不同的運送帶組成,分別稱為一號運送帶、二號運送帶、三號運送帶;其中一號運送帶和三號運送帶在一條直線上,二號運送帶與其他兩條平行;三條運送帶上均設置一塊托板,用于托住運送來的托盤,分別由各自的步進電機以及同步帶輪帶動各自的雙滑塊,沿導軌保持不間斷的傳遞運動,運送托盤沿主軌道到要求的位置。
3.按照權利要求2所述的集成電路芯片的檢測與包裝設備,其特征是所述的一號運送帶收集從載入單元下來的托盤,向前將托盤送入標識檢測單元,并讓集成電路芯片一排一排地通過標識檢測裝置并接受檢測,檢測完畢,一號運送帶繼續向前,到達二號運送帶的第一移交區,當到達二號運送帶的第一移交區時,一號運送帶兩側的傳感器得到信號,使步進電機回轉,一號運送帶的托板,回到初始位置,等待下一次運送。
4.按照權利要求2所述的集成電路芯片的檢測與包裝設備,其特征是所述的二號運送帶承接一號運送帶運送來的托盤后,二號運送帶開始將托盤帶入引腳檢測站前,并讓集成電路芯片一排一排地通過引腳檢測取放系統,由機械手將芯片依次吸起并拿到檢測站接受檢測,檢測完畢,二號運送帶繼續向前,到達三號運送帶的第二移交區,當到達三號運送帶的第二移交區時,二號運送帶兩側的傳感器得到信號,使步進電機回轉,二號運送帶的托板,回到初始位置,等待下一次運送。
5.按照權利要求2所述的集成電路芯片的檢測與包裝設備,其特征是所述的三號運送帶承接二號運送帶運送來的托盤后,繼續向前,并讓集成電路芯片一排一排地通過編帶成卷單元,機械手將檢測完畢的集成電路芯片從托盤中拿到料帶中,裝帶完畢后,三號運送帶繼續向前,到達主軌道的末端的托盤卸載區。
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