[發(fā)明專利]X射線雙線陣三維成像方法

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200710019073.5
• 申請(qǐng)日: 2007-11-01
• 公開（公告）號(hào): CN101424869A
• 公開（公告）日: 2009-05-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳明;王向東;趙肖東;劉中彥;張?zhí)煊?/a>
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘭州三磊電子有限公司
• 主分類號(hào): G03B42/02
• 分類號(hào): G03B42/02;G01N23/04
• 代理公司: 蘭州振華專利代理有限責(zé)任公司
• 代理人: 董 斌

1、X射線雙線陣三維成像方法，用X射線源產(chǎn)生的X射線穿過被檢工件(1)中的檢測點(diǎn)(P)，穿過檢測點(diǎn)(P)的射線由線陣接受轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)輸入計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，其特征在于采用兩組X射線源，即第一X射線源(2)穿過被檢工件(1)中的檢測點(diǎn)(P)，穿過檢測點(diǎn)(P)的射線由第一線陣(3)接受轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)通過線路(4)輸入計(jì)算機(jī)，第二X射線源(2’)穿過被檢工件(1)中的檢測點(diǎn)(P)，穿過檢測點(diǎn)(P)的射線由第二線陣(3’)接受轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)通過線路(4’)輸入同一計(jì)算機(jī)，然后兩組X射線源相對(duì)初始位置轉(zhuǎn)動(dòng)一角度(θ₁)，或者被檢工件(1)相對(duì)初始位置轉(zhuǎn)動(dòng)一角度(θ₁)，在由第一X射線源(2)穿過被檢工件(1)中的檢測點(diǎn)(P)，穿過檢測點(diǎn)(P)的射線由第一線陣(3)接受轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)輸入計(jì)算機(jī)，第二X射線源(2’)穿過被檢工件(1)中的檢測點(diǎn)(P)，穿過檢測點(diǎn)(P)的射線由第二線陣(3’)接受轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)輸入同一計(jì)算機(jī)，再然后兩組X射線源相對(duì)初始位置轉(zhuǎn)動(dòng)一角度(θ₂)，或者被檢工件(1)相對(duì)初始位置轉(zhuǎn)動(dòng)一角度(θ₂)，在由第一X射線源(2)穿過被檢工件(1)中的檢測點(diǎn)(P)，穿過檢測點(diǎn)(P)的射線由第一線陣(3)接受轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)輸入計(jì)算機(jī)，第二X射線源(2’)穿過被檢工件(1)中的檢測點(diǎn)(P)，穿過檢測點(diǎn)(P)的射線由第二線陣(3’)接受轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)輸入同一計(jì)算機(jī)，輸入計(jì)算機(jī)的圖像數(shù)據(jù)被加載到內(nèi)存，或進(jìn)行數(shù)據(jù)壓縮，根據(jù)兩線陣采集到的數(shù)據(jù)，進(jìn)行硬件合成，直接顯示到顯示器，或分別取出兩線陣的圖像的數(shù)據(jù)，把兩線陣相對(duì)與初始位置同一旋轉(zhuǎn)角度的數(shù)據(jù)相加取平均值，合成一幅立體圖像。

2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線雙線陣三維成像方法，設(shè)兩個(gè)線陣的初始位置時(shí)n＝1，n＝1～16中的自然數(shù)，首先計(jì)算機(jī)系統(tǒng)參數(shù)初始化，輸入線陣與射線源的參數(shù)，建立線陣工藝文件，或直接導(dǎo)入工藝文件，其特征在于：

(1)檢測啟動(dòng)后，由第一X射線源(2)穿過被檢工件(1)中的檢測點(diǎn)(P)，穿過檢測點(diǎn)(P)的射線由第一線陣(3)接受轉(zhuǎn)變?yōu)閳D象1_n的電信號(hào)輸入計(jì)算機(jī)，第二X射線源(2’)穿過被檢工件(1)中的檢測點(diǎn)(P)，穿過檢測點(diǎn)(P)的射線由第二線陣(3’)接受轉(zhuǎn)變?yōu)閳D象2n的電信號(hào)輸入計(jì)算機(jī)；

(2)判斷圖象1_n、圖象2_n是否為空，若為空，則停止進(jìn)一步檢測過程，返回重新啟動(dòng)；若不為空，則進(jìn)行圖象的合成，

合成圖象的象素＝(圖象1_n相應(yīng)位置象素+圖象2_n相應(yīng)位置象素)/2

(3)處理合成圖象；

(4)在專用顯示器上顯示圖象；

(5)保存圖象為專用格式，或通用格式。