[發明專利]利用金屬過渡層轉移GaN襯底的激光剝離方法無效
| 申請號: | 200710009396.6 | 申請日: | 2007-08-22 |
| 公開(公告)號: | CN101118850A | 公開(公告)日: | 2008-02-06 |
| 發明(設計)人: | 陳松巖;張小英;汪建元;賴虹凱 | 申請(專利權)人: | 廈門大學 |
| 主分類號: | H01L21/18 | 分類號: | H01L21/18;H01L21/20 |
| 代理公司: | 廈門南強之路專利事務所 | 代理人: | 馬應森 |
| 地址: | 361005福*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 利用 金屬 過渡 轉移 gan 襯底 激光 剝離 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種利用金屬過渡層鍵合硅(Si)和氮化鎵(GaN),結合激光剝離技術將藍寶石襯底上的GaN轉移到Si襯底上的方法。
背景技術
GaN基材料由于其連續可變的直接帶隙,優良的光、電性質,優異的物理、化學穩定性,使其在短波長半導體光電子器件以及高溫、高壓、高頻微電子器件制備領域中有著廣泛的應用。由于自然界中缺乏天然GaN單晶,目前GaN通常長在異質的襯底上,如藍寶石和SiC。因為藍寶石的晶格結構與GaN類似,并且價格比SiC便宜,因此成為首選的襯底(段猛,郝躍.GaN基藍色LED的研究進展[J].西安電子科技大學學報,2003,30:60-65)。但藍寶石與GaN有16%的晶格失配,造成外延晶片結構中存在高密度的線位錯,從而限制了GaN外延層的質量和厚度(1、Plano?W?E,MajorJ?S,Welch?D?F.X-ray?studies?ofhigh?quality?GaN?grown?on?0001sapphire[J].Electronics?Letters,1994,30:2079-2081;2、Shen?X?Q,Matsuhata?H,Okumura?H.Reduction?of?the?threading?dislocation?density?in?GaN?films?grown?on?vicinal?sapphire(0001)substrates[J].Appl.Phys.Lett.,2005,86:021912-021914);另外,Al2O3導熱性較差,熱導率約為0.5W/cm·K,這使得GaN基器件的散熱問題突出,在大功率器件和LD中尤其嚴重;同時Al2O3的導電性能也不好,常溫下電阻率大于1011Ω·cm,這使得普通LED采用的上下電極垂直結構在GaN基LED中也不再適用,必須采用p、n電極同側的臺面電極結構,器件制備工藝復雜,影響了器件的電流擴散和輸出光功率等特性(王婷,郭霞,方圓等.激光剝離技術制備GaN/metal/Si的結構和光學特性研究[J].功能材料,2007,38(1):88-90.)。
鍵合技術和激光剝離技術相結合實現GaN外延層襯底轉移是制備基于激光剝離技術的垂直結構GaN基LED的關鍵(1、Z.S.Luo,Y.Cho,V.Loryuenyong,T.Sands,et?al.Enhancementof(In,Ga)N?Light-Emitting?Diode?Performance?by?Laser?Liftoff?and?Transfer?From?Sapphire?toSilicon[J].IEEE?Photonics?Technology,2002,14(12):1400-1402;2、J.Arokiaraj,_,C.B.Soh,X.C.Wang,et?al.Integration?of?GaN?thin?films?to?SiO2-Si(100)substrates?by?laser?lift-off?and?waferfusion?method[J].Superlattices?and?Microstructures,2006,40:219-224;3、Chung-Pui?Chan,Jie?Gao,Tai-Man?Yue,et?al.Study?of?Laser-Debonded?GaN?LEDs[J].IEEE?Transactions?on?electrondevices,2006,53(9):2266-2272;4、S.C.Hsu?and?C.Y.Liu.Fabrication?ofThin-GaN?LED?StructuresbyAu-Si?Wafer?Bonding[J].Electrochemical?and?Solid-State?Letters,2006,9(5):G171-G173.)。
發明內容
本發明的目的是提供一種利用金屬過渡層轉移GaN襯底的激光剝離方法。利用金屬過渡層的低溫鍵合和激光剝離將GaN從藍寶石襯底上轉移到Si襯底上,實現GaN基材料和器件在Si基上的集成。
本發明的技術解決方案是:采用兩步法用鍵合機將GaN和Si鍵合在一起,在空氣中直接用合適波長的紫外激光透過藍寶石襯底輻照氮化鎵(GaN)/金屬(metal)/硅(Si)樣品,界面處的GaN被分解后,藍寶石可以很容易地被去掉,即可得到Si襯底上的GaN。
本發明包括以下步驟:
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





