[發(fā)明專(zhuān)利]存儲(chǔ)裝置和減少測(cè)試針腳裝置及其測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200710001923.9
• 申請(qǐng)日: 2007-01-15
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN101226777A
• 公開(kāi)（公告）日: 2008-07-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 孔繁生
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 華邦電子股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G11C29/44
• 分類(lèi)號(hào): G11C29/44
• 代理公司: 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 任默聞

1.一種存儲(chǔ)裝置，其特征在于，所述存儲(chǔ)裝置包括：

一待測(cè)存儲(chǔ)器；

一減少測(cè)試針腳裝置，所述減少測(cè)試針腳裝置用于在高熔絲前測(cè)試階段找出所述待測(cè)存儲(chǔ)器的一錯(cuò)誤地址，所述減少測(cè)試針腳裝置包含有：

一解多任務(wù)器，控制所述待測(cè)存儲(chǔ)器的多個(gè)輸入端，用以輸入一測(cè)試數(shù)據(jù)；以及

一驗(yàn)證器，耦接所述待測(cè)存儲(chǔ)器的多個(gè)輸出端，用以驗(yàn)證所述待測(cè)存儲(chǔ)器的一輸出結(jié)果；以及

一自我測(cè)試器，用于在高熔絲后測(cè)試階段檢驗(yàn)所述待測(cè)存儲(chǔ)器是否發(fā)生錯(cuò)誤。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)裝置，其特征在于，所述存儲(chǔ)裝置還包括一選擇器，用以選擇所述減少測(cè)試針腳裝置或所述自我測(cè)試器來(lái)檢測(cè)所述待測(cè)存儲(chǔ)器。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)裝置，其特征在于，所述待測(cè)存儲(chǔ)器為動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器陣列、靜態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器陣列、或閃存陣列。

4.一種減少測(cè)試針腳裝置，其特征在于，所述測(cè)試針腳裝置包括：

一輸出驗(yàn)證器，用以接收一待測(cè)存儲(chǔ)器的多個(gè)輸出，并比對(duì)所述輸出是否相同，若相同則傳送一通過(guò)信號(hào)，若至少一相異則傳送一失敗信號(hào)；以及

一計(jì)數(shù)器，當(dāng)所述輸出驗(yàn)證器傳送所述失敗信號(hào)時(shí)，輸出一錯(cuò)誤指示信號(hào)，用以指出所述待測(cè)存儲(chǔ)器中帶有一錯(cuò)誤數(shù)據(jù)的一輸出的所在位置。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的減少測(cè)試針腳裝置，其特征在于，所述錯(cuò)誤指示信號(hào)為一錯(cuò)誤單元位置時(shí)序圖。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的減少測(cè)試針腳裝置，其特征在于，所述輸出驗(yàn)證器包含有：

數(shù)個(gè)比較器，其中的每一比較器用以接收所述待測(cè)存儲(chǔ)器的所述輸出中的數(shù)個(gè)部分輸出，比對(duì)所述部分輸出是否相同，若相同則傳送一暫時(shí)通過(guò)信號(hào)，若至少一相異則傳送一暫時(shí)失敗信號(hào)；

一輸出合并器，用以合并所述比較器傳送的暫時(shí)信號(hào)，以判斷所述比較器是否全部輸出暫時(shí)通過(guò)信號(hào)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的減少測(cè)試針腳裝置，其特征在于，所述比較器由至少一邏輯門(mén)組成。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的減少測(cè)試針腳裝置，其特征在于，所述輸出合并器由數(shù)個(gè)邏輯門(mén)組成。

9.一種減少測(cè)試針腳測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括：

驗(yàn)證一待測(cè)存儲(chǔ)器的數(shù)個(gè)輸出是否完全相同，若相同則傳送一通過(guò)信號(hào)，若至少一相異則傳送一失敗信號(hào)；以及

當(dāng)傳送所述失敗信號(hào)后，輸出一錯(cuò)誤指示信號(hào)，用以指出所述待測(cè)存儲(chǔ)器中帶有一錯(cuò)誤數(shù)據(jù)的一輸出的所在位置。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的減少測(cè)試針腳測(cè)試方法，其特征在于，所述方法還包括：

以一減少測(cè)試針腳裝置找出所述待測(cè)存儲(chǔ)器的一錯(cuò)誤地址；

以一多余存儲(chǔ)單元，取代所述錯(cuò)誤地址所指向的一缺陷存儲(chǔ)單元；以及

驗(yàn)證所述待測(cè)內(nèi)存是否仍存在至少一錯(cuò)誤。

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的減少測(cè)試針腳測(cè)試方法，其特征在于，驗(yàn)證所述待測(cè)存儲(chǔ)器是否仍存在至少一錯(cuò)誤還包括：

使用所述減少測(cè)試針腳裝置或一自我測(cè)試器來(lái)驗(yàn)證是否存在至少一錯(cuò)誤。