[發(fā)明專利]測試托盤及具備該測試托盤的電子元件測試裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200680055826.1
• 申請日: 2006-09-15
• 公開（公告）號: CN101512356A
• 公開（公告）日: 2009-08-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 相澤·光范;伊藤·明彥
• 申請（專利權(quán)）人: 株式會社愛德萬測試
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 深圳市順天達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司
• 代理人: 高占元

1.一種測試托盤，具備可收容被測試電子元件的多個插入件和保持所述插入件的框架構(gòu)件，所述測試托盤在收容多個所述被測試電子元件的狀態(tài)下，在用于測試被測試電子元件的電子元件測試裝置內(nèi)被搬運(yùn)，

所述插入件在與所述測試托盤的主要面基本垂直的方向上置放在所述框架構(gòu)件上。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試托盤，其中，所述插入件配置成沿與所述測試托盤的主要面基本垂直的方向疊置在所述框架構(gòu)件上。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的測試托盤，其中，所述多個插入件沿與所述測試托盤的主要面基本平行的方向不隔著所述框架構(gòu)件地相互鄰接配置。

4.根據(jù)權(quán)利要求1～3中任一項所述的測試托盤，其中，

所述框架構(gòu)件設(shè)有：

構(gòu)成所述框架構(gòu)件的外周的框架主體；以及

在所述框架主體內(nèi)架設(shè)的橫條，

所述插入件設(shè)有：

第1孔，被插入沿與所述測試托盤的主要面基本垂直的方向從所述框架構(gòu)件側(cè)相對地接近所述測試托盤的部件；以及

第2孔，被插入沿與所述測試托盤的主要面基本垂直的方向從所述插入件側(cè)相對地接近所述測試托盤的部件，

所述第1孔配置成在所述框架主體和所述橫條之間或在所述橫條彼此之間開口，

所述第2孔配置成不與所述第1孔相干涉。

5.根據(jù)權(quán)利要求1～4中任一項所述的測試托盤，其中，

用所述插入件的角部將所述插入件安裝在所述框架構(gòu)件上，且還設(shè)有使所述插入件可游動地保持在所述框架構(gòu)件上的安裝構(gòu)件，

鄰接的多個所述插入件由一個安裝構(gòu)件集中保持在所述框架構(gòu)件上。

6.根據(jù)權(quán)利要求1～5中任一項所述的測試托盤，其中，

通過使所述插入件沿與所述測試托盤的主要面基本垂直的方向在所述框架構(gòu)件上相對移動，

能夠沿與所述測試托盤的主要面基本平行的方向?qū)⑺霾迦爰南鄬τ谒隹蚣軜?gòu)件可游動的狀態(tài)或定位狀態(tài)轉(zhuǎn)換到定位狀態(tài)或可游動的狀態(tài)。

7.一種電子元件測試裝置，具備設(shè)有收容被測試電子元件的多個插入件和保持所述插入件的框架構(gòu)件的測試托盤，為進(jìn)行所述被測試電子元件的測試在所述被測試電子元件收容于所述測試托盤中的狀態(tài)下將所述測試托盤搬入測試部，

在所述測試托盤中，所述插入件在與所述測試托盤的主要面基本垂直的方向上置放在所述框架構(gòu)件上。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電子元件測試裝置，其中，

所述測試托盤包含第1測試托盤，其中所述多個插入件不隔著所述框架構(gòu)件而鄰接配置，

所述第1測試托盤沿與所述測試托盤的主要面基本垂直的方向疊置在所述框架構(gòu)件上。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電子元件測試裝置，其中，

所述測試托盤包括：

第1測試托盤，其中所述多個插入件不隔著所述框架構(gòu)件而鄰接配置；以及

第2測試托盤，其中所述框架構(gòu)件介于鄰接的所述插入件彼此之間，

所述第1和所述第2測試托盤的插入件均相對于所述框架構(gòu)件突出預(yù)定距離而保持在所述框架構(gòu)件上。