[發明專利]用于監視產品退化的設備無效
| 申請號: | 200680052067.3 | 申請日: | 2006-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN101336367A | 公開(公告)日: | 2008-12-31 |
| 發明(設計)人: | 雷諾·瓦揚 | 申請(專利權)人: | 克里奧洛格公司 |
| 主分類號: | G01K3/04 | 分類號: | G01K3/04;G01N33/02 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 | 代理人: | 朱勝;李春暉 |
| 地址: | 法國*** | 國省代碼: | 法國;FR |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 監視 產品 退化 設備 | ||
技術領域
本發明涉及用于監視產品、特別是易腐產品如食品的退化的設備。
背景技術
在農產品行業,尤其是在新鮮和冷凍產品領域中,監視符合低溫運輸系統對于食品安全至關重要。長久以來,法律一直要求制造商在許多產品的包裝上顯示使用截止日期。確定這些日期是制造商的職責,其中以或多或少的重要技術容限(margin)根據產品從工廠到消費地的各個路線來考慮保藏條件的差異。使用截止日期由此根據理論上的產品保藏條件來確定并且因此并不考慮每個產品的真實退化(degradation)狀態。
因此,按照使用截止日期來供應的關于產品狀況的信息幾乎總是錯誤的。在效果上,如果實際保藏條件最佳,則產品即使在使用截止日期已經到期之后仍將處于適宜消費的狀態。反言之,如果實際條件比用于確定使用截止日期的理論條件惡劣,則產品即使尚未到達使用截止日期卻不再處于適宜消費的狀態。
因此能夠考慮每個產品的真實退化狀態是制造商以及消費者所關心的,這為制造商以及為消費者消除了風險。在效果上,對于制造商而言,知道產品的真實退化狀態簡化了對運送產品、特別是在制造商與它們的經銷商之間職責轉移的后勤管理。
對于消費者而言,避免了由于保藏條件比用于確定有關產品使用截止日期的保藏條件惡劣而消費產品不當所致的所有健康風險。
為了知道新鮮產品的精確退化狀態,一種方法包括測量溫度和時間以便能夠獲得溫度隨時間變化的歷史記錄。有必要監視這兩個參數是因為如果低溫運輸系統在制造與消費之間遭受破壞,則必須有可能評定超過最高溫度的水平以及這一破壞的時間長度。知道這一歷史記錄使得因此有可能使用從微生物預測產生的計算模型根據每個產品來確定該產品是否處于適宜消費的狀態。
然而,盡管易于知道倉庫溫度的歷史記錄,但是針對單獨產品或者(例如在托板(palette)上)一起包裝的相同產品組所需的監視在技術上更困難,特別是因為包括單獨監視設備將意味著與受監視產品有關的很低成本增加。在國際申請WO2005/106813中已知一種形式為“RFID標記”的緊湊監視設備,該“RFID標記”被設計成固定到易腐產品的包裝上,使得有可能跟蹤隨時間的歷史溫度記錄。這種設備配備有計算功能,允許基于歷史溫度記錄來發送與受監視產品的新鮮度狀況有關的信息。
在上述專利中描述的設備提出使用基于阿列紐斯(Arrhenius)模型的計算方法,其不能精細地適應于每個產品,并且要求計算程度高。
然而,在努力使這種設備所需要的精力及其成本最少的過程中,使用一種允許在所獲結果的恰當性與所需計算程度之間最佳折衷的計算方法是有利的。
發明內容
因此,本發明涉及一種用于監視易腐產品的退化的設備,該設備被設計為鄰近產品放置,該設備包括:
-時間測量模塊如時鐘和至少一個傳感器,該傳感器測量表示該產品的保藏條件的產品的至少一個外在變量如溫度、相對濕度、大氣組成,
-程序存儲器,用于存儲表示受監視產品的特定退化模型的程序,
-處理器,該處理器使用表示退化模型的程序以根據時間和傳感器所測量的外在變量值來計算產品的退化狀況,
-數據存儲器,用于存儲產品的內在參數,產品的內在參數為它的pH和/或它的結構和/或它的水活性和/或它所含的有機酸量和/或它的熱傳遞系數和/或它所含的限制菌群和/或酶降解產物和/或氧化還原電勢,
在退化模型中考慮內在參數的變化,使得處理器所進行的退化計算僅基于外在變量和時間。
因此,由于在使用了應用簡易計算并且因此要求相對低計算程度的模型之時考慮各種內在參數,所以完全地適應于產品,從而實現細調式監視。
在一個實施例中,程序存儲器可以存儲一個或者多個附加程序。
在一個實施例中,存儲器程序存儲測量管理程序。
在一個實施例中,測量管理程序確定外在變量的測量頻率。
在一個實施例中,如果在兩個測量之間外在變量的變化小于預定閾值,則測量管理程序確定更低測量頻率和/或命令處理器不執行新的退化狀況的計算。
在一個實施例中,所述設備包括無線電型通信裝置。
在一個實施例中,該設備響應于適配讀取器的詢問而提供表示與產品的退化狀態有關的信息的信號。
在一個實施例中,所提供的信息也包括:產品標識符和/和測量的使用截止日期和/或測量的使用截止日期與理論的使用截止日期之間的差異。
在一個實施例中,所提供的信息包括從開始監視產品起外在變量變化的歷史記錄。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于克里奧洛格公司,未經克里奧洛格公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200680052067.3/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:制造半導體器件的方法
- 下一篇:巨磁阻的保護性導電層





