[發明專利]用于監視產品退化的設備

無效

• 申請號: 200680052067.3
• 申請日: 2006-12-28
• 公開（公告）號: CN101336367A
• 公開（公告）日: 2008-12-31
• 發明（設計）人: 雷諾·瓦揚
• 申請（專利權）人: 克里奧洛格公司
• 主分類號: G01K3/04
• 分類號: G01K3/04;G01N33/02
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司
• 代理人: 朱勝;李春暉

1.一種用于監視易腐產品退化的設備(10)，所述設備被設計為鄰近所述產品放置，所述設備包括：

-時間測量模塊(12)如時鐘以及至少一個傳感器(14)，該傳感器測量表示所述產品的保藏條件的所述產品的至少一個外在變量如溫度、相對濕度、大氣組成，

-程序存儲器(16)，用于存儲表示受監視產品的特定退化模型的程序，

-處理器(18)，該處理器使用表示所述退化模型的程序以根據時間和所述傳感器所測量的外在變量值來計算所述產品的退化狀況，

-數據存儲器(20)，用于存儲所述產品的內在參數，所述產品的內在參數為它的pH和/或它的結構和/或它的水活性和/或它所含的有機酸量和/或它的熱傳遞系數和/或它所含限制菌群和/或酶降解產物和/或氧化還原電勢，

在所述退化模型中考慮所述內在參數的變化，使得所述處理器所進行的退化計算僅基于所述外在變量和時間。

2.根據權利要求1所述的設備(10)，其中所述程序存儲器能夠存儲一個或者多個附加程序。

3.根據權利要求2所述的設備(10)，所述程序存儲測量管理程序。

4.根據權利要求3所述的設備(10)，其中所述測量管理程序確定所述外在變量的測量頻率。

5.根據權利要求4所述的設備(10)，其中如果在兩個測量之間所述外在變量的變化小于預定閾值，則所述測量管理程序確定更低測量頻率和/或命令所述處理器不執行新的退化狀況的計算。

6.根據權利要求1至5之一所述的設備(10)，包括無線電型通信裝置。

7.根據權利要求6所述的設備(10)，響應于適配讀取器的詢問而提供表示與所述產品的退化狀態有關的信息的信號。

8.根據權利要求7所述的設備(10)，其中所提供的信息還包括：產品標識符和/或測量的使用截止日期和/或在所述測量的使用截止日期與理論的使用截止日期之間的差異。

9.根據權利要求7或者8所述的設備(10)，其中所供應的信息包括從開始監視所述產品起所述外在變量的變化的歷史記錄。

10.根據前述權利要求之一所述的設備(10)，包括用于向所述處理器(18)和/或所述程序存儲器(16)和/或所述數據存儲器(20)供電的可再充電電池。

11.根據權利要求10所述的設備(10)，其中所述電池可以在所述設備(10)的使用過程中再充電。

12.根據前述權利要求之一所述的設備(10)，所述設備在所述受監視產品的消耗或者退化之后可再使用。