[發(fā)明專利]薄片制造方法及薄片制造裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200680052061.6
• 申請(qǐng)日: 2006-11-30
• 公開（公告）號(hào): CN101365571A
• 公開（公告）日: 2009-02-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 寺尾次郎
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 東麗株式會(huì)社
• 主分類號(hào): B29C47/16
• 分類號(hào): B29C47/16;B29C47/92;B29L7/00
• 代理公司: 中國(guó)專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 何欣亭;劉宗杰

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及薄膜等薄片制造方法及薄片制造裝置。

背景技術(shù)

以延伸薄膜的制造為例，參照附圖說明本發(fā)明的背景。圖1表示普通的薄片制造設(shè)備的總體概略結(jié)構(gòu)，圖2是圖1所示的拉伸模4的要部放大透視圖。

圖1的薄片制造設(shè)備是(1)通過沿薄片寬度方向配置多個(gè)薄片厚度調(diào)整部件10的拉伸模4，按薄片狀成形由擠壓機(jī)3擠出的聚合物等的薄片材料，(2)再用延伸機(jī)2對(duì)成形后的薄片1施以延伸等加工，(3)用加工后厚度測(cè)定儀8測(cè)定薄片厚度作為薄片寬度方向的分布，(下面有時(shí)將測(cè)出的薄片寬度方向的厚度分布測(cè)定值稱為厚度分布曲線)(4)卷繞薄片1。在這種制造設(shè)備中通常要使測(cè)出的厚度分布曲線接近于預(yù)先設(shè)定的目標(biāo)的厚度分布曲線。為此，要使對(duì)應(yīng)于沿拉伸模4的薄片寬度方向配置多個(gè)的薄片厚度調(diào)整部件10的厚度測(cè)定位置上的厚度測(cè)定值接近于預(yù)先被設(shè)定的目標(biāo)值。為此，要按照由加工后厚度測(cè)定儀8測(cè)出的厚度分布曲線，通過計(jì)算給予厚度調(diào)整部件10的操作量的計(jì)算機(jī)14以及使上述操作量給予厚度調(diào)整部件10的控制部件9，控制各厚度調(diào)整部件10。圖3說明拉伸模4上的厚度調(diào)整部件10以及加工后厚度測(cè)定儀8的位置上的厚度調(diào)整部件的對(duì)應(yīng)關(guān)系。圖3的上部橫線表示的是拉伸模4上的薄片，下部橫線表示的是加工后厚度測(cè)定儀8上的薄片。通過拉伸模4上各厚度調(diào)整部件10的位置21a～21d的聚合物受到薄片寬度方向的延伸等加工，在厚度測(cè)定位置通過薄片寬度方向位置22a～22d。所以，必須控制位于21a的厚度調(diào)整部件10，例如使22a上的厚度測(cè)定值接近目標(biāo)值。

在這種薄片制造方法中重要的是高精度地確定各厚度調(diào)整部件10與薄片厚度的測(cè)定位置的對(duì)應(yīng)關(guān)系。如果不能高精度地確定，則例如為了調(diào)整圖3中22a的薄片厚度，通過操作21b的厚度調(diào)整部件而改變22b的薄片厚度等，將變更與本來要調(diào)整的位置不同的位置的薄片厚度，因此不能高精度地控制薄片的厚度，薄片品質(zhì)下降。

上述問題主要起因于在延伸及發(fā)泡等伴隨薄片寬度方向尺寸變化的加工中無法實(shí)現(xiàn)薄片寬度方向的均勻尺寸變化。在僅用拉伸模4以薄片狀成形的未延伸的薄片制造中，在聚合物擠出時(shí)，除了有向內(nèi)彎曲的薄片寬度方向的端部之外，根據(jù)幾何位置關(guān)系，能夠使各厚度調(diào)整部件與薄片厚度測(cè)定位置的對(duì)應(yīng)關(guān)系大致對(duì)應(yīng)。而在沿寬度方向?qū)Ρ∑M(jìn)行延伸加工時(shí)，由于延伸工序中的溫度不勻等，薄片寬度方向延伸倍率與薄片寬度方向的位置有關(guān)，是不均勻的，所以不能僅根據(jù)幾何位置關(guān)系來使各厚度調(diào)整部件與延伸后的薄片厚度測(cè)定位置對(duì)應(yīng)。

對(duì)于這種課題，作為設(shè)置延伸前的薄片厚度測(cè)定儀(加工前厚度測(cè)定儀)，并從延伸前的薄片的厚度分布曲線以及由加工后厚度測(cè)定儀測(cè)定的延伸后的薄片的厚度分布曲線，求出各自的對(duì)應(yīng)關(guān)系而加以利用的方法，提出了專利文獻(xiàn)1及專利文獻(xiàn)2的方法。專利文獻(xiàn)1及專利文獻(xiàn)2中記載的兩種方法都利用在幾何關(guān)系上大致求出延伸前的薄片上的各厚度調(diào)整部件的對(duì)應(yīng)位置。專利文獻(xiàn)1中記載的方法首先通過測(cè)定延伸前的薄片的厚度分布曲線，再將延伸前的薄片厚度的分布曲線分成一定區(qū)間，求出分割后的延伸前的薄片各部的分布曲線以及延伸后的薄片的厚度分布曲線的部分互相關(guān)函數(shù)，從而檢測(cè)延伸前的厚度測(cè)定儀上的薄片寬度方向位置與延伸后的厚度測(cè)定儀上的薄片寬度方向位置的對(duì)應(yīng)關(guān)系。接著，根據(jù)幾何學(xué)運(yùn)算和用經(jīng)驗(yàn)方法求出的各厚度調(diào)整部件的延伸前的薄片上的對(duì)應(yīng)位置，檢測(cè)延伸后的薄片上的各厚度調(diào)整部件的對(duì)應(yīng)位置。

另外，在專利文獻(xiàn)2中記載的方法中，首先設(shè)定延伸前的薄片及延伸后的薄片具有各自成對(duì)的對(duì)應(yīng)關(guān)系的基準(zhǔn)對(duì)應(yīng)位置。接著，為了在與延伸前的薄片的各區(qū)域?qū)?yīng)的延伸后的薄片的區(qū)域內(nèi)使單位時(shí)間從基準(zhǔn)對(duì)應(yīng)位置通過的質(zhì)量一致，求出延伸前厚度測(cè)定儀上的薄片寬度方向位置與延伸后厚度測(cè)定儀上的薄片寬度方向位置的對(duì)應(yīng)。接著，根據(jù)幾何學(xué)運(yùn)算及按照經(jīng)驗(yàn)方法求出的各厚度調(diào)整部件延伸前的薄片中的對(duì)應(yīng)位置，檢測(cè)延伸后的薄片中的各厚度調(diào)整部件的對(duì)應(yīng)位置。

使用這些方法，能夠在某一特定的狀況下推定厚度調(diào)整部件的對(duì)應(yīng)關(guān)系，而不使薄片在制造中損耗。專利文獻(xiàn)1：特開昭63-315221號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)2：特開平9-164582號(hào)公報(bào)

但是，據(jù)本發(fā)明人所知，專利文獻(xiàn)1和專利文獻(xiàn)2中記載的方法存在如下所述的誤檢及漏檢上的難點(diǎn)。