[發明專利]薄片制造方法及薄片制造裝置有效
| 申請號: | 200680052061.6 | 申請日: | 2006-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN101365571A | 公開(公告)日: | 2009-02-11 |
| 發明(設計)人: | 寺尾次郎 | 申請(專利權)人: | 東麗株式會社 |
| 主分類號: | B29C47/16 | 分類號: | B29C47/16;B29C47/92;B29L7/00 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 何欣亭;劉宗杰 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 薄片 制造 方法 裝置 | ||
1.一種薄片制造方法,包括如下(1)~(5)的步驟:
(1)用設有多個厚度調整部件的拉伸模,以薄片狀擠出薄片材料;
(2)通過實施伴隨有薄片寬度方向的尺寸變化的預定加工即在薄片制造中的任何加工工序中薄片材料的流動在薄片寬度方向也有分量的加工,形成所要求的薄片;
(3)測定所述預定加工結束前及結束后的該薄片的寬度方向厚度分布;
(4)按照所述加工結束后的所述薄片的寬度方向厚度分布的測定值,計算加入與各測定位置對應的所述厚度調整部件的操作量;以及
(5)用該操作量操作所述厚度調整部件,從而控制薄片厚度,
在計算所述步驟(4)的所述操作量時,用如下步驟A,B的方法確定對于所述厚度調整部件的所述加工結束后的薄片寬度方向對應位置,并根據所確定的所述薄片寬度方向對應位置進行厚度控制,
A.使包含表示所述加工結束前的薄片寬度方向位置與所述加工結束后的寬度方向位置的對應關系并含有1個以上未知參數的映射函數、所述加工結束前的薄片寬度方向厚度分布的測定值以及所述加工結束后的厚度分布的測定值的評價函數成為極值,求出所述未知參數;
B.根據這樣求出的所述未知參數確定所述映射函數,從而根據所確定的該映射函數,確定對于所述厚度調整部件的所述加工結束后的薄片寬度方向對應位置。
2.如權利要求1中記載的薄片制造方法,其中:
作為所述評價函數,使用對應于每單位時間通過所述加工結束前的薄片寬度方向各部分的所述薄片材料的質量與每單位時間通過所述加工結束后的薄片寬度方向各部分的薄片質量之差的總和的評價函數。
3.如權利要求1記載的薄片制造方法,其中:
作為所述評價函數,使用下式<1>或在數學上與之等效的公式,使所述評價函數取極小或極大而確定未知參數,
公式1
這里,
E:表示映射函數的誤差的評價函數,
xf:所述加工結束后的薄片寬度方向位置,
Tf(xf):所述加工結束后的薄片寬度方向位置xf處的薄片厚度,
xs:所述加工結束前的薄片寬度方向位置,
Ts(xs):所述加工結束前的薄片寬度方向位置xs處的薄片厚度,
θ:映射函數g(xf、θ)所含有的要素數為1以上的參數矢量,
g(xf、θ):映射函數,是用加工結束后的薄片的寬度方向位置xf的函數和參數θ表示加工結束前的薄片的寬度方向位置xs的模型化后的函數式,
vf:所述加工結束后的薄片的流動方向速度,
vs:所述加工結束前的薄片的流動方向速度,
Df:所述加工結束后的薄片密度,
Ds:所述加工結束前的薄片密度,
xf0:在計算映射函數的誤差時,作為始點的所述加工結束后的薄片寬度方向位置,
xf1:在計算映射函數的誤差時,作為終點的所述加工結束后的薄片寬度方向位置。
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