[發明專利]提供IC設計的方法以及IC設計工具

無效

• 申請號: 200680044842.0
• 申請日: 2006-11-28
• 公開（公告）號: CN101317180A
• 公開（公告）日: 2008-12-03
• 發明（設計）人: 讓－弗朗索瓦·勒佩爾
• 申請（專利權）人: NXP股份有限公司
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司
• 代理人: 陳源;張天舒

1.一種提供集成電路的設計的方法，該集成電路具有核功能(202)、圍繞該核功能的IO環(204)、和邊界掃描結構(206，208)，該邊界掃描結構用于在該集成電路的預定模式期間提供對所述核功能(202)或所述IO環(204)的訪問，所述方法包括：

提供(110)所述核功能(202)和所述IO環(204)的第一網表(200)；

規定(120，130，140)針對所述第一網表(200)的內容的邊界掃描設計(206，208)；

由所述第一網表(200)和邊界掃描設計規范綜合出(150)第二網表(210)；

將邊界掃描設計元件(206，208)從所述第二網表(210)中分離出來(420)；

提供(410)沒有所述IO環的核功能(202)的第三網表；

將所述第三網表和分離出來的邊界掃描元件(206，208)組合成(430，440，450)第四網表(320)；以及

通過將對IO環(204)的描述加入所述第四網表(320)來生成第五網表(330)。

2.如權利要求1所述的方法，進一步包括將所述第四網表(320)寫成(460)第一文件以便能夠對所述第四網表(320)進行重新利用。

3.如權利要求1或2所述的方法，其中所述第一網表(200)和所述第三網表為寄存器傳輸級網表，并且所述第二網表(210)和所述第四網表(320)為門級網表。

4.如權利要求1所述的方法，進一步包括：

檢查(170)所述第二網表(210)是否符合邊界掃描標準；

由所述第二網表(210)生成(180)測試模式；以及

利用所述測試模式來測試(190)所述第五網表，從而生成針對所述第五網表(330)的測試結果。

5.如權利要求4所述的方法，進一步包括：

利用所述測試模式來測試(190)所述第二網表(210)，從而生成針對所述第二網表(210)的測試結果；以及

對比所述第五網表(330)的測試結果和所述第二網表(210)的測試結果。

6.一種用于提供集成電路設計的設計工具，該集成電路具有核功能(202)、圍繞該核功能的IO環(204)、和邊界掃描結構(206，208)，該邊界掃描結構用于在該集成電路的預定模式期間提供對所述核功能(202)或所述IO環(204)的訪問，所述設計工具包括：

用于提供(110)所述核功能(202)和所述IO環(204)的第一網表(200)的裝置；

用于規定(120，130，140)針對所述第一網表(200)的內容的邊界掃描設計(206，208)的裝置；

用于由所述第一網表(200)和邊界掃描設計規范綜合出(150)第二網表(210)的裝置；

用于將邊界掃描設計元件(206，208)從所述第二網表(210)中分離出來(420)的裝置；

用于提供(410)沒有所述IO環的核功能(202)的第三網表的裝置；

用于將所述第三網表和分離出來的邊界掃描元件(206，208)組合成(430，440，450)第四網表(320)的裝置；以及

用于通過將對IO環(204)的描述加入所述第四網表(320)來生成第五網表(330)的裝置。

7.如權利要求6所述的設計工具，進一步包括：用于將所述第四網表(320)寫成(460)第一文件以便能夠對所述第四網表(320)進行重新利用的裝置。

8.一種計算機可讀介質，其包括由權利要求7所述的設計工具所生成的第一文件。

9.一種計算機可讀介質，其包括具有由權利要求7所述的設計工具所生成的第一文件的文件庫。

10.一種計算機可讀介質，其包括權利要求6或7所述的設計工具。