[發明專利]一種測量花紗特征的方法

無效

• 申請號: 200680043062.4
• 申請日: 2006-11-15
• 公開（公告）號: CN101356435A
• 公開（公告）日: 2009-01-28
• 發明（設計）人: C·梅克希內;G·皮特;S·艾德拉特－普爾
• 申請（專利權）人: 烏斯特技術股份公司
• 主分類號: G01N33/36
• 分類號: G01N33/36;G01N21/89
• 代理公司: 上海浦一知識產權代理有限公司
• 代理人: 丁紀鐵

技術領域

本發明涉及一種測量花紗特征的方法，具體涉及一種適用于例如紡紗或繞線工作中纖維實驗室或生產線應用的測量花紗特征的方法。

背景技術

花紗是指那些結構或含量不同于正常平滑紗線的紗線。它經常出現在于織造產品及針織產品中。花紗往往出現多種粗細不均的地方，即所謂竹節，其直徑比所謂的基紗顯著的增大或縮小。故意制作的沒有基紗的厚度變化紗線也算花紗的一種。日益普及的花紗應用要求可靠和有意義的測量方法。往往需要測量的花紗變量有很多，例如基紗的直徑，竹節的直徑，竹節數量，竹節長度，竹節距離等等。這些變量可以用于控制現有花紗的質量，也可以用來決定制造花紗時那些數據是必要的。

目前眾所周知的測量紗線特征的方法和裝置通常是在縱向采用電容和/或光學掃描的方式測量紗線。電容式掃描提供了一個表征紗線質量的信號，而光學掃描提供了一個與紗線直徑成比例的信號。掃描信號可以采用模擬或數字信號的方式，可以同時輸出一個或者幾個這樣的測量結果。例如，專利公開文獻EP-0578975A1和EP-0249741A2就公開了測量的紗線特征的類似方法和裝置。以上的這些紗線的測量系統都是由申請人提出，并在全世界受到知識產權保護的。

為了獲取紗線顏色，即紗線對光譜的反射特性。如據WO-2004/044579所述的適用于照明紗線的多種有色光源。紗線所反射的光線分別在至少兩個不同光譜范圍被探測。基于前述至少兩個檢測信號的信息來確定紗線顏色。同時采用不同波長掃描紡織材料的光學方法，也可以從CH674379或DE-19859274號專利中得知。

WO-2005/071150A1，WO-2005/038105A1和WO-2005/037699A1號專利特別針對花紗，以上文件的要點歸納如下：

確定基紗的直徑：首先，在一個較大的長度范圍內來計算紗線直徑的算術平均值。這樣就減輕了個別數據對紗線直徑的影響。該算術平均值一切負值結合已測到的相鄰的其他負值共同定義為基紗的直徑。

確定竹節的始端，末端和長度：如果在一定的紗線長度內，一個極限直徑開始過于激烈且持續的超過基紗的直徑則定義為竹節始端。如果前述極限直徑減少并且這種減少持續了一定長度，定義為竹節末端；竹節長度是指竹節始端和末端之間的距離。

確定竹節的直徑：在一個竹節內所存在一定數量的最大直徑定義為竹節的直徑。

雖然以上描述花紗特征的方法十分有用，但也有幾個缺點。測量的結果包含大量的數據，這些數據不明確且難以處理，難以甄別合適的具有明顯代表性的數據。前述方法，當基紗直徑過大而竹節長度是過小時缺點尤其明顯。

發明內容

本發明提供了一種減少數據數量的測量花紗特征的方法。本發明可以從紗線缺陷中有效的識別竹節。

本發明所述的測量花紗特征的方法，其中的花紗包含一系列竹節和基紗。包括，延花紗的縱軸方向掃描花紗的至少一個特征；處理掃描后得到的值并且；輸出處理的結果；這些花紗參數例如基紗質量，基紗直徑，竹節距離，竹節質量增加值，竹節直徑增加值，竹節直徑，竹節長度和/或竹節數量。測量曲線由掃描值得到。測量曲線與基紗質量或基紗直徑之間的區域由計算得到。該區域的不斷增加作為判斷竹節存在的標準。可以從紗線缺陷中有效的識別竹節。

附圖說明

下面結合附圖和具體實施方式對本發明作進一步詳細說明。

圖1是進行該方法而使用的設備示意圖；

圖2是一個在縱向上花紗質量讀數的例子的示意圖；

圖3是圖2所示信號的頻數分布H(M)示意圖；

圖4是圖2局部放大圖；

圖5-15是紗線可能輸出數據的各個類型示意圖；

圖16是雙層竹節實施例的示意圖；

圖17是一個可行的多層花紗測量方式示意圖；

圖18是花紗一系列數據的譜圖；

圖19是將竹節讀數平滑或理想化后進一步得到的圖形；

圖20是有凹陷的竹節曲線示意圖；

圖21是測量曲線下方區域的積分曲線；

圖22是每單位長度數值的處理曲線；其中圖22(a)展示的是原始曲線，圖22(b)是理想化的曲線，圖22(c)是從原始曲線中減去理想化曲線得到的曲線；

圖23是圖22曲線的譜圖，其中圖23(a)是原始讀數的譜圖，圖23(b)顯示單個竹節的譜圖，圖23(c)顯示虛擬基紗的譜圖；