[發明專利]一種測量花紗特征的方法

無效

• 申請號: 200680043062.4
• 申請日: 2006-11-15
• 公開（公告）號: CN101356435A
• 公開（公告）日: 2009-01-28
• 發明（設計）人: C·梅克希內;G·皮特;S·艾德拉特－普爾
• 申請（專利權）人: 烏斯特技術股份公司
• 主分類號: G01N33/36
• 分類號: G01N33/36;G01N21/89
• 代理公司: 上海浦一知識產權代理有限公司
• 代理人: 丁紀鐵

1.一種測量花紗(9)特征的方法，包括，

延花紗(9)的縱軸方向(x)掃描花紗(9)的至少一個特征；

處理掃描后得到的值并且；

輸出處理的結果；

其特征在于，有測量曲線(M(x))由掃描值得到，而測量曲線(M(x))下方區域(A(x))由計算得到。

2.如權利要求1所述的測量花紗特征的方法，其特征在于，其中，測量曲線(M(x))與基紗質量(M_S)或基紗直徑之間的區域(A(x))由計算得到。

3.如前述權利要求任何一項所述的測量花紗特征的方法，其特征在于，當區域(A(x))不斷增加時證明竹節(92)存在。

4.如前述權利要求中任何一項所述的測量花紗特征的方法，其特征在于，其中，判斷竹節(92)的存在同時需要符合的若干標準。

5.如權利要求4所述的測量花紗特征的方法，其特征在于，其中，判斷竹節(92)的存在同時需要符合的以下標準：

(i)超測量曲線(M(x))下方區域(A(x))預定的閾值，

(ii)超竹節長度L_E預定的閾值，并且

(iii)超過質量增加值ΔM預定的閾值。

6.如前述權利要求中任何一項所述的測量花紗特征的方法，其特征在于，所述被掃描的花紗(92)特征至少包括質量和/或直徑。

7.如前述權利要求中任何一項所述的測量花紗特征的方法，其特征在于，所述花紗(92)處理結果來自以下參數，包括基紗質量(M_S)，基紗直徑，竹節距離(L_S)，竹節(92)的質量增加值ΔM，竹節直徑增加值，竹節直徑，竹節長度(L_E)，竹節總質量(M_E)，平均紗線號碼，單位長度上竹節數量，模式長度，次模式長度，形狀和顏色。

8.如權利要求6或7所述的測量花紗特征的方法，其特征在于，在一定長度上分別測量包含最小質量和最小直徑的頻數分布H(M)，其局部極大值(121)分別定義為基紗質量和基紗直徑。

9.如權利要求6或7所述的測量花紗特征的方法，其特征在于，其中測量基紗質量和基紗直徑的方法為，在一定長度上分別測量質量和直徑，定義一個數據區間(I_M)，其中包括頻數分布H(M)中的最小質量或最小直徑值，找到其中的局部極大值(121)，在數據區間IM中所有基紗質量值和基紗直徑的平均數就是基紗質量M_S和基紗直徑。

10.如權利要求7至9中任何一項所述的測量花紗特征的方法，其特征在于，其中，竹節長度(L_E)距離是同一竹節(92)始端(103)和末端(104)之間的距離。

11.如權利要求7至10中任何一項所述的測量花紗特征的方法，其特征在于，竹節距離(L_S)為一個竹節(92)的末端(104)到緊接著的下一個竹節(92’)的始端(103’)之間的距離。

12.如權利要求7至11中任何一項所述的測量花紗特征的方法，其特征在于，其中竹節質量(M_E)是在竹節長度(L_E)上測量曲線(M(x))的積分值與基紗質量(M_S)的差值。

13.如權利要求7至12中任何一項所述的測量花紗特征的方法，其特征在于，每個竹節(92，92’)都分配一個運行編號，該運行編號與竹節(92)的參數一起存放。

14.如權利要求7至13中任何一項所述的測量花紗特征的方法，其特征在于，其中，處理結果包括花紗參數的最小值，最大值，算術平均值和/或標準差和/或每單位長度上竹節(92)數量。

15.如前述權利要求中任何一項所述的測量花紗特征的方法，其特征在于，其中，采用電容和/或光掃描的方式掃描花紗(9)。

16.如權利要求15所述的測量花紗特征的方法，其特征在于，其中，結合電容及光掃描方式掃描花紗(9)，電容或光掃描的輸出信號相互結合使用。