[發明專利]光盤記錄裝置

無效

• 申請號: 200680041624.1
• 申請日: 2006-11-06
• 公開（公告）號: CN101305419A
• 公開（公告）日: 2008-11-12
• 發明（設計）人: 伊佐地昭裕;西川和彥;藪野寬之
• 申請（專利權）人: 松下電器產業株式會社
• 主分類號: G11B7/0045
• 分類號: G11B7/0045;G11B7/125
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 曲瑞

1.一種光盤記錄裝置，針對1個記錄標記，根據由比該記錄標記更短的多個脈沖構成的寫策略波形來進行記錄，其特征在于，具備：

寫策略生成電路，生成上述寫策略波形；

激光光源，出射激光；

激光驅動電路，按照上述寫策略波形的脈沖串來對上述激光光源進行驅動；

光檢測器，輸出從上述激光光源出射的激光的光強度；

激光功率控制電路，通過按照上述光檢測器所輸出的光強度信號來對從上述激光驅動電路向上述激光光源供給的電流量進行控制，對上述激光光源的光強度進行控制；

平均化電路，對從上述光檢測器輸出的標記部的脈沖串的光強度信號進行平均化，并作為平均化電平輸出；

采樣·保持電路，對上述標記部中的上述平均化電路的輸出進行采樣·保持；

電壓測定電路，將由上述采樣·保持電路保持的模擬電平作為電壓值來進行測定；以及

相位設定重新排列電路，將上述寫策略波形的一部分設定成以預定的周期重復相同形狀的脈沖的多脈沖，固定上述多脈沖的一個脈沖邊緣的相位設定，依次變更另一個脈沖邊緣的相位設定，根據對上述標記部的多脈沖串的光強度信號進行平均化而得到的上述平均化電平的測定值和其理想值，求出實際輸出的時間軸的脈沖邊緣的相位誤差最小的最佳相位設定，變更預先設定的相位設定。

2.根據權利要求1所述的光盤記錄裝置，其特征在于，上述多脈沖的輸出周期是作為標記·空白長度的基本周期的1T，上述相位設定重新排列電路將多脈沖的脈沖邊緣的相位設定從(r1)T變更到(r2)T(r1表示0≤r1≤1的范圍的實數，r2表示0≤r2≤1的范圍的實數，且r1＜r2)，從而使上述多脈沖的占空比從(r1×100)％變化到(r2×100)％，

上述平均化電路對與上述相位設定中的每一個對應的上述平均化電平進行測定。

3.根據權利要求2所述的光盤記錄裝置，其特征在于，上述相位設定重新排列電路將上述(r1)和上述(r2)設定為r1＝0、r2＝1，使上述多脈沖的脈沖邊緣的相位設定從0T變更到1T，從而使上述多脈沖的占空比從0％變化到100％，

上述平均化電路對所有與各個上述相位設定對應的上述平均電平進行測定。

4.根據權利要求1所述的光盤記錄裝置，其特征在于，上述多脈沖的輸出周期是作為標記·空白長度的基本周期的1T的2倍的2T，

上述相位設定重新排列電路將上述多脈沖的脈沖邊緣的相位設定從(r3)T變更到(r3+1)T(r3表示0≤r3≤1的范圍的實數)，從而使上述多脈沖的占空比從(r3÷2×100)％變化到((r3+1)÷2×100)％，

上述平均化電路對與各個上述相位設定對應的上述平均化電平進行測定。

5.根據權利要求4所述的光盤記錄裝置，其特征在于，上述相位設定重新排列電路將上述(r1)設定為r3＝0.5，將多脈沖的脈沖邊緣的相位設定從0.5T變更到1.5T，從而使多脈沖的占空比從25％變化到75％，

上述平均化電路對所有與各個上述相位設定對應的平均電平進行測定。

6.根據權利要求1所述的光盤記錄裝置，其特征在于，上述相位設定重新排列電路在連結相位設定最小的多脈沖的占空比為(x1)％時的平均化電平(y1)和相位設定最大的多脈沖的占空比為(x2)％時的平均化電平(y2)的直線的斜率(y2-y1)÷(x2-x1)、截距y1中進行插值來求出上述理想值，將該理想值與針對各相位設定中的每一個得到的多脈沖串的平均化電平的測定值中的每一個進行比較，將與上述各測定值中取最接近于上述理想值的值的測定值對應的相位設定設為上述最佳相位設定。

7.根據權利要求1所述的光盤記錄裝置，其特征在于，具備切換電路，該切換電路在上述光檢測電路的輸出和與該光盤記錄裝置連接且輸出與上述寫策略波形等同的波形信號的標準信號發生裝置的輸出之間，切換向上述平均化電路的輸出，

上述相位設定重新排列電路將在上述切換電路選擇上述標準信號發生裝置的輸出的情況下得到的上述平均化電平作為上述理想值，對該理想值和在上述切換電路選擇了上述光檢測電路的輸出的情況下得到的針對各相位設定中的每一個得到的多脈沖串的平均化電平的測定值進行比較，將與上述各測定值中取最接近于上述理想值的值的測定值對應的相位設定設為上述最佳相位設定。