[發明專利]用自調整最大程序循環對非易失性存儲器進行編程

有效

• 申請號: 200680034677.0
• 申請日: 2006-07-26
• 公開（公告）號: CN101268519A
• 公開（公告）日: 2008-09-17
• 發明（設計）人: 萬鈞;杰弗里·W·盧策
• 申請（專利權）人: 桑迪士克股份有限公司
• 主分類號: G11C11/56
• 分類號: G11C11/56;G11C16/10;G11C16/34
• 代理公司: 北京律盟知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 劉國偉

1.一種用于對非易失性存儲裝置進行編程的方法，其包括：

使用一系列電壓脈沖對至少一第一非易失性存儲元件進行編程以達到第一檢驗電平；

檢測何時所述至少一第一非易失性存儲元件已達到所述第一檢驗電平；以及

響應于所述檢測實施將在對至少一第二非易失性存儲元件進行編程以達到第二檢驗電平的過程中使用的最大可允許額外電壓脈沖數目。

2.根據權利要求1所述的方法，其中：

基于以下各項的和實施所述最大可允許額外電壓脈沖數目：(a)所述至少一第一非易失性存儲元件達到所述第一檢驗電平所需的所述電壓脈沖的數目，和(b)所述最大可允許額外電壓脈沖數目。

3.根據權利要求1所述的方法，其中：

所述最大可允許額外電壓脈沖數目可根據所述至少一第一非易失性存儲元件達到所述檢驗電平所需的所述電壓脈沖的數目而變化。

4.根據權利要求1所述的方法，其中：

所述最大可允許額外電壓脈沖數目是固定的。

5.根據權利要求1所述的方法，其中：

所述最大可允許額外電壓脈沖數目是可變的。

6.根據權利要求1所述的方法，其進一步包括：

跟蹤所述至少一第一非易失性存儲元件隨著時間的使用；

其中所述最大可允許額外電壓脈沖數目可根據所述使用而變化。

7.根據權利要求6所述的方法，其中：

對所述使用的所述跟蹤包括維持編程循環的計數。

8.根據權利要求1所述的方法，其中所述至少一第一非易失性存儲元件包括使用所述系列的電壓脈沖經編程以達到所述第一檢驗電平的多個非易失性存儲元件，所述方法進一步包括：

確定所述多個非易失性存儲元件中的每一者達到所述第一檢驗電平所需的電壓脈沖數目；以及

基于所述多個非易失性存儲元件中的每一者達到所述第一檢驗電平所需的所述電壓脈沖數目實施將在對所述至少一第二非易失性存儲元件進行編程以達到所述第二檢驗電平的過程中使用的所述最大可允許額外電壓脈沖數目。

9.根據權利要求8所述的方法，其中：

基于從所述多個非易失性存儲元件中的每一者達到所述第一檢驗電平所需的所述電壓脈沖數目中導出的統計度量來實施在對所述至少一第二非易失性存儲元件進行編程以達到所述第二檢驗電平的過程中使用的所述最大可允許額外電壓脈沖數目。

10.根據權利要求1所述的方法，其中：

在共同編程循環中對所述至少一第一非易失性存儲元件和所述至少一第二非易失性存儲元件進行編程。

11.根據權利要求1所述的方法，其中：

在其中對所述至少一第一非易失性存儲元件進行編程的編程循環之后的編程循環中對所述至少一第二非易失性存儲元件進行編程。

12.根據權利要求1所述的方法，其中：

所述最大可允許額外電壓脈沖數目基于至少所述第一非易失性存儲元件的閾值電壓分布除以所述電壓脈沖的步長。

13.根據權利要求1所述的方法，其中：

在共同區塊和共同區段中的至少一者中提供所述至少一第一非易失性存儲元件和所述至少一第二非易失性存儲元件。

14.根據權利要求1所述的方法，其中：

用來自共同頁的數據對所述至少一第一非易失性存儲元件和所述至少一第二非易失性存儲元件進行編程。

15.根據權利要求1所述的方法，其中：

所述第一和第二檢驗電平中的至少一者是最終電壓電平之前的中間電壓電平。

16.根據權利要求1所述的方法，其中：

所述第一和第二檢驗電平中的至少一者是最終電壓電平。