[發明專利]晶體管及其制造方法、以及具有該晶體管的半導體裝置無效
| 申請號: | 200680031829.1 | 申請日: | 2006-08-30 |
| 公開(公告)號: | CN101253609A | 公開(公告)日: | 2008-08-27 |
| 發明(設計)人: | 山手信一 | 申請(專利權)人: | 住友化學株式會社 |
| 主分類號: | H01L21/336 | 分類號: | H01L21/336;H01L29/786;H01L51/05;H01L51/40 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 孫秀武;李平英 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 晶體管 及其 制造 方法 以及 具有 半導體 裝置 | ||
1.?晶體管的制造方法,其為具有包含半導體膜的活性層的晶體管 的制造方法,所述半導體膜含有有機半導體化合物,該方法包括:
將所述半導體膜拉伸的工序、和
在進行加熱和/或加壓的同時將所述半導體膜粘貼在形成所述活性 層的面上獲得所述活性層的工序。
2.?晶體管的制造方法,其為具有包含半導體膜的活性層的晶體管 的制造方法,所述半導體膜含有有機半導體化合物,該方法包括:
使所述半導體膜取向的工序、和
在進行加熱和/或加壓的同時將所述半導體膜粘貼在形成所述活性 層的面上獲得所述活性層的工序。
3.?晶體管的制造方法,其為具有包含半導體膜的活性層的晶體管 的制造方法,所述半導體膜含有有機半導體化合物,該方法包括:
將所述半導體膜拉伸而取向的工序、和
在進行加熱和/或加壓的同時將所述半導體膜粘貼在形成所述活性 層的面上獲得所述活性層的工序。
4.?權利要求1~3任一項所述的晶體管的制造方法,其中,在與所 述面之間存在施工液而將所述半導體膜與所述面粘貼。
5.?晶體管的制造方法,其為具有源極和漏極、成為它們之間的電 流通路且包含含有有機半導體化合物的半導體膜的活性層、控制通過 所述電流通路的電流的柵極、以及配置在所述活性層和所述柵極之間 的絕緣層的晶體管的制造方法,該方法包括:
將所述半導體膜拉伸的工序、和
在進行加熱和/或加壓的同時將所述半導體膜與所述絕緣層粘貼獲 得所述活性層的工序。
6.?晶體管的制造方法,其為具有源極和漏極、成為它們之間的電 流通路且包含含有有機半導體化合物的半導體膜的活性層、控制通過 所述電流通路的電流的柵極、以及配置在所述活性層和所述柵極之間 的絕緣層的晶體管的制造方法,該方法包括:
使所述半導體膜取向的工序、和
在進行加熱和/或加壓的同時將所述半導體膜與所述絕緣層粘貼獲 得所述活性層的工序。
7.?晶體管的制造方法,其為具有源極和漏極、成為它們之間的電 流通路且包含含有有機半導體化合物的半導體膜的活性層、控制通過 所述電流通路的電流的柵極、以及配置在所述活性層和所述柵極之間 的絕緣層的晶體管的制造方法,該方法包括:
使所述半導體膜拉伸而取向的工序、和
在進行加熱和/或加壓的同時將所述半導體膜與所述絕緣層粘貼獲 得所述活性層的工序。
8.?權利要求5~7任一項所述的晶體管的制造方法,其中,在與 所述絕緣層之間存在施工液而將所述半導體膜與該絕緣層粘貼。
9.?權利要求5~8任一項所述的晶體管的制造方法,其中,所述 晶體管在所述源極和/或所述漏極與所述活性層之間具有含有與所述有 機半導體化合物不同化合物的層。
10.?晶體管,其為具有包含半導體膜的活性層的晶體管,所述半導 體膜含有有機半導體化合物,
所述活性層含有拉伸的所述半導體膜,且在進行加熱和/或加壓的 同時將所述半導體膜粘貼在形成所述活性層的面上而形成。
11.?晶體管,其為具有包含半導體膜的活性層的晶體管,所述半導 體膜含有有機半導體化合物,
所述活性層含有取向的所述半導體膜,且在進行加熱和/或加壓的 同時將所述半導體膜粘貼在形成所述活性層的面上而形成。
12.?晶體管,其為具有包含半導體膜的活性層的晶體管,所述半導 體膜含有有機半導體化合物,
所述活性層含有取向拉伸的所述半導體膜,且在進行加熱和/或加 壓的同時將所述半導體膜粘貼在形成所述活性層的面上而形成。
13.?權利要求10~12任一項所述的晶體管,其中所述活性層如下 形成:在與所述面之間存在施工液的狀態下將所述半導體膜粘貼在該 面上而形成。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





