[發明專利]光記錄介質以及光記錄介質的信息再現方法

無效

• 申請號: 200680029340.0
• 申請日: 2006-08-08
• 公開（公告）號: CN101243505A
• 公開（公告）日: 2008-08-13
• 發明（設計）人: 菊川隆;福澤成敏;小林龍弘;富永淳二;中野隆志;島隆之;金朱鎬;黃仁吾
• 申請（專利權）人: TDK股份有限公司;三星電子株式會社
• 主分類號: G11B7/24
• 分類號: G11B7/24;G11B7/005
• 代理公司: 隆天國際知識產權代理有限公司
• 代理人: 高龍鑫;馬少東

技術領域

本發明涉及一種將再現光照射至形成于記錄層上的記錄標記而能夠再現信息的光記錄介質，尤其是涉及一種能夠對光學系統的分辨極限以下的小記錄標記進行再現的光記錄介質以及光記錄介質的信息再現方法。

背景技術

近年來，例如在JP特開2003-6872號公報所記載，提出了一種能夠對比再現光學系統中的衍射極限更小的記錄標記列進行再現的超分辨率光記錄介質。

在該超分辨率光記錄介質中，雖然能夠再現超過再現光學系統的分辨極限的微小記錄標記(超分辨率記錄標記)，但是其原理尚未明確。

CD(compact?disc：光盤)以及DVD(Digital?Versatile?Disc：數字通用光盤)等光記錄介質在基板上包括記錄層、電介質層、反射層，其中，該電介質層用于控制反射率以及保護記錄層，該控制反射率用于通過再現激光讀出所記錄的信息。

上述記錄由記錄層中的反射率不同的2個部分組成，其一方稱為記錄標記，另一方稱為空白(blank)部，而且，若假定再現激光的波長為λ、物鏡的數值孔徑為NA，則在激光的掃描方向上的大小比分辨極限的λ/4NA更大的情況下能夠再現上述記錄標記。

通常，在利用光的再現方法中，無法讀取周期為某記錄標記列周期以下的記錄標記列。該記錄標記列周期的長度被稱為衍射極限。在波長為λ、數值孔徑為NA的再現光學系統中，其衍射極限為λ/NA/2，因此，若在一個周期中，記錄標記部與空白部的長度相同，則記錄標記的長度為λ/NA/4。該記錄標記長度被稱為分辨極限。

在如上述的光記錄介質中，為了實現記錄的高密度化，需要縮短波長λ或者提高NA，但都存在極限。

與此相對，提出了一種如上述的超分辨率光記錄介質，其中之一的提案是一種在光記錄介質上附加用于縮小再現激光的光點的結構的方法。例如，探討使用隨著激光的照射而溫度上升從而液化的材料，或著，使用禁帶寬度變化的半導體材料。

然而，不管在哪種情況下，都存在如下問題：由于光點的大小根據照射在光記錄介質上的再現激光的功率而變化，因此，必須決定用于對每個記錄標記大小進行超分辨率再現的最佳激光功率。

發明內容

本發明要解決的問題在于，使對光記錄介質進行超分辨率再現的激光的照射功率不依賴于記錄標記的大小。

本發明人專心研究的結果發現，通過接近記錄層而設置超分辨率層，能夠使再現激光的照射功率不依賴于記錄標記的大小，其中，該超分辨率層由用規定照射功率的DC光照射1～300秒鐘時產生空隙的材料構成。

即，通過以下實施例，能夠解決上述問題。

(1)一種光記錄介質，其特征在于，具有基板，而且至少具有形成在該基板上的記錄層以及超分辨率層，上述超分辨率層由在以規定照射功率的DC光照射1～300秒鐘時產生空隙的材料構成。

在這里，所謂DC光是用一定光強度照射的光，而并不進行比至少在該記錄介質上記錄的信號列中最高頻率的列低的頻率的光強度的調制。

(2)一種光記錄介質，其特征在于，具有基板，而且至少具有形成在該基板上的記錄層以及超分辨率層，上述超分辨率層由具有通過1～300秒鐘的DC光照射能夠產生空隙的規定照射功率的材料構成。

(3)根據(1)或(2)所記載的光記錄介質，其特征在于，上述超分辨率層由以下材料構成，該材料是指，在利用DC光照射形成有用于再現的再現光學系統的分辨極限以下大小的單一頻率的記錄標記的記錄層、且使其照射功率從比產生上述空隙的規定照射功率更小的功率變化到大的功率時，再現信號的載波噪聲比以分貝為單位而至少變為3倍的材料。

(4)根據(1)或(2)所記載的光記錄介質，其特征在于，上述超分辨率層由以下材料構成，該材料是指，在利用DC光照射形成有用于再現的再現光學系統的分辨極限以下大小的單一頻率的記錄標記的記錄層、且使其照射功率改變時，在再現信號的載波噪聲比以分貝為單位而至少呈現3倍差別的照射功率之間，具有產生上述空隙的規定照射功率的材料。

(5)根據(1)至(4)任何一項所記載的光記錄介質，其特征在于，上述超分辨率層由Sb、Bi、Te、Zn、Sn、Ge、Si中的任一種的化合物構成。

(6)根據(5)所記載的光記錄介質，其特征在于，在上述材料中至少包含有Ag或In。