[發(fā)明專利]半導(dǎo)體測(cè)試裝置、功能板以及接口板無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200680028210.5 | 申請(qǐng)日: | 2006-08-01 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101238379A | 公開(公告)日: | 2008-08-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 伊藤良真;林省三 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京中原華和知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 壽寧 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 測(cè)試 裝置 功能 以及 接口 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體裝置及接口板(interface?plate)。更詳細(xì)涉及在被測(cè)試器件(device?to?be?tested)之間,通過(guò)輸入輸出測(cè)試信號(hào)(testingsignal),執(zhí)行被測(cè)試器件的測(cè)試的半導(dǎo)體測(cè)試裝置和可安裝在這樣的半導(dǎo)體測(cè)試裝置上的接口板。對(duì)于承認(rèn)通過(guò)文件參照而加入內(nèi)容的指定國(guó),通過(guò)參照以下申請(qǐng)所記載的內(nèi)容編入本申請(qǐng),作為本申請(qǐng)的一部分。
1.特愿:2005-228289,申請(qǐng)日:2005年8月5日
背景技術(shù)
通常,半導(dǎo)體裝置在其制造過(guò)程以及出場(chǎng)之前進(jìn)行測(cè)試品質(zhì)管理。這樣的測(cè)試,是臨時(shí)將被測(cè)試器件實(shí)際安裝在半導(dǎo)體測(cè)試裝置上,通過(guò)半導(dǎo)體測(cè)試裝置上設(shè)置的信號(hào)組件與被測(cè)試之間輸入輸出測(cè)試信號(hào)來(lái)執(zhí)行測(cè)試。
一方面,近年來(lái)開發(fā)出了被叫“SoC(System?on?Chip)”,“SIP(Systemin?Package)”,“系統(tǒng)LSI”等的各種半導(dǎo)體裝置。這種半導(dǎo)體裝置,將處理器,存儲(chǔ)器,輸入輸出電路,控制電路等功能不同的電路集成在一個(gè)芯片或組件上,大大地縮小了貼裝面積和降低了功率消耗。因此,為電子學(xué)(electronics)產(chǎn)品的小型化和降低功率消耗做出了貢獻(xiàn)。
這種半導(dǎo)體裝置,由于內(nèi)置有所處理的信號(hào)種類不同的電路,因此,在進(jìn)行上述半導(dǎo)體測(cè)試時(shí),輸入輸出的測(cè)試信號(hào)的種類也多種多樣涉及廣泛。比方說(shuō),電信號(hào)根據(jù)其頻帶及強(qiáng)度等,信號(hào)傳送路的適用規(guī)格也不同。為此,半導(dǎo)體測(cè)試裝置的測(cè)試信號(hào)的處理也不得不變得復(fù)雜。
在如下所示專利文獻(xiàn)1中,記載了能實(shí)施SoC測(cè)試的測(cè)試系統(tǒng)和在那里使用的功能板(performance?board)。功能板具有能直接安裝被測(cè)試器件的測(cè)試頭(test?head)。另外,還具有用來(lái)對(duì)測(cè)試裝置進(jìn)行電連接的連接器(connector)。另外,在功能板上,這些測(cè)試頭以及連接器被電連接。因而,通過(guò)在測(cè)試裝置安裝擁有恰當(dāng)?shù)臏y(cè)試頭的功能板,以此,能夠容易地實(shí)際在測(cè)試裝置上安裝物理連接構(gòu)造不一樣的被測(cè)試器件。
而且,上述功能板實(shí)裝有包括種類不同的適配器(adaptor)的連接器,并且能同時(shí)處理頻帶或者強(qiáng)度不同的信號(hào)。因而對(duì)安裝了用于處理RF(Radio?Frequency)信號(hào)的電路的SoC,也能同時(shí)測(cè)試邏輯電路以及RF信號(hào)電路。而且通過(guò)交換功能板,也能夠容易地對(duì)應(yīng)規(guī)格不同的其他測(cè)試裝置的測(cè)試。
當(dāng)然,被測(cè)試器件有時(shí)被統(tǒng)稱為DUT(Device?Under?Test)。另外,有時(shí)稱半導(dǎo)體測(cè)試裝置為自動(dòng)測(cè)試裝置或者ATE(Automatic?TestEquipment)。而且功能板又被叫做負(fù)載板、電路板。另外,接口板(interfaceplate)有時(shí)也被叫做HIFIX(高度定位裝置)、測(cè)試頭底板(test?headchassis)、測(cè)試套件(test?fixture)、頂板(top?plate)等。
專利文獻(xiàn)1:特開2004-108898號(hào)公報(bào)
SoC、SIP、系統(tǒng)LSI等的被測(cè)試器件,其輸入輸出端子數(shù)也非常多。另外,如上所述,包括各種各樣的被處理的信號(hào)的頻帶和強(qiáng)度的裝置。因此,用來(lái)連接測(cè)試裝置和功能板的信號(hào)媒體以及連接機(jī)構(gòu)的種類也是各種各樣。因而,連接功能板和測(cè)試裝置也不是容易的工作,并且因?yàn)楣δ馨宓母鼡Q使得測(cè)試工作整體效率低下。因此,提出了功能板和測(cè)試裝置之間的叫做接口板的構(gòu)件介入其間,簡(jiǎn)化功能板的安裝工序的方案。
接口板被安裝到測(cè)試裝置一側(cè),具有與測(cè)試裝置的測(cè)試信號(hào)輸入輸出端子連接的插座(receptacle)。另外,該插座(孔)與功能板一側(cè)安裝的連接器相對(duì)應(yīng)。因而,針對(duì)事先安裝了接口板的測(cè)試裝置,能夠通過(guò)插座和連接器的嵌合,迅速地安裝上功能板。還有,通過(guò)將功能板一側(cè)的連接器和接口板一側(cè)的插座的物理上的設(shè)置相對(duì)應(yīng),能同時(shí)讓多個(gè)連接器以及插座嵌合。另外,在以下的描述中,將連接器和插座組合后的一套連接機(jī)構(gòu)稱作″連接器對(duì)″。
但是,在連接器對(duì)里有時(shí)包含嵌合行程(fitting?stroke)不同的東西。另外,同時(shí)一次連接連接器對(duì)中,有時(shí)存在需要使用大的力的問(wèn)題。
因此,本發(fā)明的目的在于提供一種能夠解決上述課題的半導(dǎo)體測(cè)試裝置以及接口板。該目的通過(guò)權(quán)利要求中的獨(dú)立權(quán)利要求記載的特征組合來(lái)實(shí)現(xiàn)。
發(fā)明內(nèi)容
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- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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