[發(fā)明專利]測(cè)定儀器、測(cè)定裝置和測(cè)定方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200680028173.8
• 申請(qǐng)日: 2006-10-24
• 公開（公告）號(hào): CN101233408A
• 公開（公告）日: 2008-07-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 福永淳;中南貴裕;龜井明仁
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社
• 主分類號(hào): G01N21/03
• 分類號(hào): G01N21/03;G01N21/59;G01N27/327;G01N27/416
• 代理公司: 永新專利商標(biāo)代理有限公司
• 代理人: 陳建全

1.用于分析試樣中所含的待測(cè)物質(zhì)的測(cè)定儀器，其具備：用于保持含有待測(cè)物質(zhì)的試樣的第1容器和第2容器、以及用于對(duì)保持在所述第2容器內(nèi)的所述試樣進(jìn)行光學(xué)測(cè)定的光學(xué)測(cè)定部；

所述第1容器具備用于將所述試樣供給至所述第1容器中的第1試樣供給口和電極；

所述第2容器具備用于將所述試樣供給至所述第2容器中的第2試樣供給口和用來保持用于所述光學(xué)測(cè)定的試劑的試劑保持部。

2.權(quán)利要求1所述的測(cè)定儀器，其中，所述光學(xué)測(cè)定部具備：用于使入射光從所述第2容器的外部入射到內(nèi)部的光入射部；和用于使出射光從所述第2容器的內(nèi)部射出到外部的光出射部。

3.權(quán)利要求1或2所述的測(cè)定儀器，其中，所述電極為一對(duì)電極。

4.權(quán)利要求1所述的測(cè)定儀器，其中，所述電極上附載有酶。

5.權(quán)利要求1～4任一項(xiàng)所述的測(cè)定儀器，其中，所述試劑含有酶或抗體。

6.權(quán)利要求1～5任一項(xiàng)所述的測(cè)定儀器，其中，按照從所述第2試樣供給口至所述試劑保持部的距離X與從所述第1試樣供給口至所述電極的距離Y滿足關(guān)系式X＜Y的方式配置所述試劑保持部和所述電極。

7.權(quán)利要求1～5任一項(xiàng)所述的測(cè)定儀器，其中，所述第1容器還具備空氣孔。

8.用于分析試樣中所含的待測(cè)物質(zhì)的測(cè)定裝置，其具備：用于安裝權(quán)利要求1～7任一項(xiàng)所述的測(cè)定儀器的測(cè)定儀器安裝部；用于發(fā)出從所述第2容器的外部入射到內(nèi)部的入射光的光源；用于接受從所述第2容器的內(nèi)部射出到外部的出射光的受光部；用于對(duì)所述電極施加電壓的電壓施加部；用于對(duì)來自所述電極的電信號(hào)進(jìn)行測(cè)定的電信號(hào)測(cè)定部；和用于基于通過所述受光部接受的所述出射光和通過所述電信號(hào)測(cè)定部測(cè)定的所述電信號(hào)中的至少一個(gè)來對(duì)所述試樣中所含的所述待測(cè)物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)或定量的運(yùn)算部。

9.權(quán)利要求8所述的測(cè)定裝置，其中，其還具備抽吸部，該抽吸部用于通過抽吸將所述試樣供給至安裝于所述測(cè)定儀器安裝部的所述測(cè)定儀器的所述第1容器和所述第2容器中的至少一個(gè)。

10.使用測(cè)定儀器對(duì)試樣中所含的第1待測(cè)物質(zhì)和第2待測(cè)物質(zhì)進(jìn)行測(cè)定的方法，其中，所述測(cè)定儀器具備：用于保持含有第1待測(cè)物質(zhì)和第2待測(cè)物質(zhì)的試樣的第1容器和第2容器、以及用于對(duì)保持在所述第2容器內(nèi)的所述試樣進(jìn)行光學(xué)測(cè)定的光學(xué)測(cè)定部；

所述第1容器具備用于將所述試樣供給至所述第1容器中的第1試樣供給口和電極；

所述第2容器具備用于將所述試樣供給至所述第2容器中的第2試樣供給口和用來保持用于所述光學(xué)測(cè)定的試劑的試劑保持部，

所述測(cè)定方法包含以下工序：

(A)將所述試樣通過浸漬于所述試樣中的所述第1試樣供給口供給至所述第1容器內(nèi)的工序；

(B)將所述試樣通過浸漬于所述試樣中的所述第2試樣供給口供給至所述第2容器內(nèi)的工序；

(C)對(duì)所述電極施加電壓的工序；

(D)對(duì)來自所述電極的電信號(hào)進(jìn)行測(cè)定的工序；

(E)基于在所述工序(D)中測(cè)定的所述電信號(hào)來對(duì)所述第2待測(cè)物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)或定量的工序；

(F)將入射光通過所述光學(xué)測(cè)定部照射到保持于所述第2容器內(nèi)的所述試樣上的工序；

(G)對(duì)由于所述入射光的照射而引起的從所述第2容器的內(nèi)部通過所述光學(xué)測(cè)定部射出到外部的出射光進(jìn)行測(cè)定的工序；

(H)基于在所述工序(G)中測(cè)定的所述出射光來對(duì)所述第1待測(cè)物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)或定量的工序。

11.權(quán)利要求10所述的測(cè)定方法，其中，在所述測(cè)定儀器中，按照從所述第2試樣供給口至所述試劑保持部的距離X與從所述第1試樣供給口至所述電極的距離Y滿足關(guān)系式X＜Y的方式配置所述試劑保持部和所述電極；在所述工序(D)中檢測(cè)所述電信號(hào)的變化，并基于所述檢測(cè)來自動(dòng)地進(jìn)行所述工序(F)。

12.權(quán)利要求10所述的測(cè)定方法，其中，在所述測(cè)定儀器中，所述第1容器還具備空氣孔，且所述第1試樣供給口和所述第2試樣供給口設(shè)置在相互鄰接的位置上；在所述工序(D)中檢測(cè)所述電信號(hào)的變化，并基于所述檢測(cè)，在所述工序(B)中將所述試樣通過所述第2試樣供給口抽吸至所述第2容器的內(nèi)部。