[發明專利]試劑向基質材料的應用

有效

• 申請號: 200680024127.0
• 申請日: 2006-05-15
• 公開（公告）號: CN101213449A
• 公開（公告）日: 2008-07-02
• 發明（設計）人: 威利－麥斯·哈伊瓦;安娜·卡薩·凱爾瑪;胡阿尼·盧奧托拉
• 申請（專利權）人: 歐雷恩診斷公司
• 主分類號: G01N33/52
• 分類號: G01N33/52;B01L3/00;B05D1/28;B05D7/00
• 代理公司: 北京英賽嘉華知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 王達佐;韓克飛

1.將試劑或具有負載于顆粒上的試劑的所述顆粒應用于基質材料的方法，所述方法包括當接觸輥旋轉并且所述接觸輥與所述基質材料相對移動時，通過將所述接觸輥與所述基質材料接觸，將所述試劑或顆粒印刷在所述基質材料上，所述接觸輥具有置于所述接觸輥上的所述試劑或所述顆粒，所述顆粒具有負載于所述顆粒上的試劑。

2.如權利要求1所述的方法，其中使接觸元件與所述基質材料接觸的所述步驟用壓力輥實施，所述壓力輥位于所述基質材料的與所述接觸元件相對的一側，所述壓力輥與所述基質材料接觸并旋轉。

3.如權利要求1或2所述的方法，還包括通過使所述接觸輥旋轉通過試劑或所述顆粒的盤，將所述試劑或所述顆粒置于所述接觸輥上，所述顆粒具有負載于所述顆粒上的試劑。

4.如權利要求3所述的方法，還包括使用擦拭器除去過量的試劑或具有負載于所述顆粒上的試劑的顆粒。

5.如前述權利要求中任一權利要求所述的方法，其中以預定的圖案將所述試劑或所述具有負載于所述顆粒上的試劑的顆粒置于所述接觸元件上。

6.如權利要求5所述的方法，其中以預定的圖案將所述試劑或所述具有負載于所述顆粒上的試劑的顆粒置于所述接觸元件的凹部。

7.如權利要求6所述的方法，其中所述預定的圖案包含文字數字符號。

8.如前述權利要求中任一權利要求所述的方法，其中所述試劑具有5cP至5000cP的粘度。

9.如前述權利要求中任一權利要求所述的方法，還包括將所述基質材料與另外材料層進行層壓。

10.如前述權利要求中任一權利要求所述的方法，所述方法是應用能夠測定樣品中至少一種化學或生物被分析物的試劑的方法。

11.如權利要求10所述的方法，其中所述被分析物為蛋白質、碳水化合物、糖、配體或抗配體。

12.如權利要求10或11所述的方法，其中所述試劑為配體或抗配體。

13.如權利要求1至9中任一權利要求所述的方法，所述方法是應用能夠檢測樣品pH的試劑的方法。

14.如前述權利要求中任一權利要求所述的方法，其中所述基質材料是吸收性的。

15.如前述權利要求中任一權利要求所述的方法，還包括將傳導材料應用于所述基質材料。

16.如前述權利要求中任一權利要求所述的方法，還包括將培養基應用于所述基質材料。

17.如前述權利要求中任一權利要求所述的方法，還包括將凝膠應用于所述基質材料。

18.具有被應用于其上的試劑或顆粒的基質材料，所述顆粒具有負載于所述顆粒上的試劑，當接觸輥旋轉并且所述接觸輥與所述基質材料相對移動時，通過將所述接觸輥與所述基質材料接觸，將所述試劑或所述具有負載于所述顆粒上的試劑的顆粒印刷在所述基質材料上而形成所述基質材料，所述接觸輥具有置于所述接觸輥上的所述試劑或所述顆粒。

19.如權利要求18所述的基質材料，具有至少一層與所述基質材料層壓的另外材料層。

20.如權利要求19所述的基質材料，其中所述至少一層另外材料層包括在所述基質材料的一側或兩側的不滲透性層。

21.如權利要求19或20所述的基質材料，其中所述至少一層另外材料層包括半滲透性材料層，所述半滲透性材料層能夠允許樣品穿過所述半滲透性材料層、同時限制所述試劑或所述顆粒的回流，所述顆粒具有負載于所述顆粒上的試劑。

22.如權利要求21所述的基質材料，其中所述半滲透性材料是疏水性的。

23.如權利要求21所述的基質材料，其中所述半滲透性材料是非織造的聚丙烯。

24.如權利要求18至23中任一權利要求所述的基質材料，具有至少一個形成于其中的切口。