[發明專利]測試準備RF集成電路無效
| 申請號: | 200680010496.4 | 申請日: | 2006-03-27 |
| 公開(公告)號: | CN101151545A | 公開(公告)日: | 2008-03-26 |
| 發明(設計)人: | 西塞羅·S·沃謝 | 申請(專利權)人: | NXP股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/317 | 分類號: | G01R31/317;G01R31/28 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 | 代理人: | 朱進桂 |
| 地址: | 荷蘭艾*** | 國省代碼: | 荷蘭;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測試 準備 rf 集成電路 | ||
技術領域
本發明涉及一種測試準備(test?prepared)集成電路,特別地,涉及一種集成電路,具有例如用于處理高頻信號(例如微波信號)的本地振蕩器電路和混頻電路的元件。本發明還涉及這種集成電路的測試方法。
背景技術
R.Nelson于4/1/2002在Test?and?MeasuRFment?world出版的文章″RF?test?join?SOC?ATE″中描述了對包含RF電路和邏輯電路的混合的集成電路的測試。半導體集成電路生產技術的當前的工藝水平使得生產具有處理RF信號的綜合能力的集成電路逐漸成為可能。這里所使用的″RF″,泛指那些具有用于無線傳輸的頻率(例如,10GHz以上的微波波段)的信號,但也指較低頻率的波段。
RF電路的主要測試包括:將該電路在正常運行過程中所將要使用的頻率的RF信號應用于電路,或者,在該電路產生這些信號后對這些信號進行測量。另一方面,一般是通過以低得多的頻率施加邏輯測試圖案并觀測測試響應來測試集成電路的邏輯函數。用于后一類測試的測試設備在大多數集成電路生產設施中一般是標準化的,并且被用于幾乎所有更復雜的數字集成電路。另一方面,用于RF測試的設備并非是可廣泛利用的,這意味著,如果必須要制造和測試具有RF電路的集成電路,就有可能需要額外的投資。
發明內容
特別地,本發明的目的是提供一種測試準備集成電路,其有利于RF電路元件的測試,而不必使用專門的RF測試設備。
本發明提供根據權利要求1的測試準備集成電路。在測試過程中,該集成電路使用測試控制輸入來控制用具有分頻的信號代替本地振蕩器信號。優選地,該集成電路包括具有分頻器電路的測試功能塊,其中,該分頻器電路正是出于此目的而提供的。優選地,在正常運行過程中,這個電路是被禁用的。測試控制輸入可以是集成電路的專用引腳,其與實現該替換的測試控制塊相連??蛇x地,測試控制輸入可以是來自該集成電路中的測試控制電路的內部線路(internal?line),該測試控制電路是掃描測試接口的一部分,例如用于產生控制替換的控制信號,或者,該測試控制輸入可以來自該集成電路中的其它命令接口電路。
在一個實施例中,集成電路包括正交混頻電路(quadrature?mixingcircuit)。在這個實施例中,在混頻電路中,可以在本地振蕩器的I和Q輸入處替換分頻器電路的輸出信號。在另一個實施例中,提供切換電路,以將正交的本地振蕩器的輸出信號的相位關系的干擾最小化。
本發明還提供一種測試方法,其中,分頻的本地振蕩器信號代替本地振蕩器信號,以低于在正常(非測試)運行過程中提供給混頻電路的頻率而被施加于該混頻電路。
附圖說明
下面,將使用附圖中所示出的實施例來描述本發明的這些及其它目的和優點。
圖1示意性地示出了測試準備集成電路。
圖2示出了測試功能塊的實施例。
圖3示出了測試環境。
圖4示意性地示出了測試準備集成電路。
圖5-7示出了測試功能塊的其它實施例。
圖8示意性地示出了測試準備集成電路。
具體實施方式
圖1示意性地示出了測試準備集成電路10。集成電路10包括RF放大器電路12、混頻電路14、IF放大器電路16、本地振蕩器電路18及測試功能塊100。集成電路10的輸入端11與RF放大器電路12的輸入相連。RF放大器電路12的輸出與混頻電路14的第一輸入相連。混頻電路14的輸出與IF放大器電路16的輸入相連,IF放大器電路16的輸出與集成電路10的輸出端19相連。在另一實施例中,集成電路10可以是RF產生電路,其中,放大器電路12是IF放大器電路而放大器電路16是RF放大器電路。本地振蕩器電路18的輸出與測試功能塊100的信號輸入相連,而測試功能塊100的輸出與混頻電路14的第二輸入相連。本地振蕩器電路18具有與集成電路10的輸入端17相連的控制輸入。測試功能塊100具有與集成電路10的測試端102相連的控制輸入。
圖2示出了測試功能塊100。測試功能塊100包括分頻器電路32和多路復用電路30。測試功能塊100與本地振蕩器電路(未示出)相連,測試功能塊100的輸入34與分頻器電路30的輸入以及多路復用電路32的第一輸入相連。分頻器電路30的輸出與多路復用電路32的第二輸入相連。多路復用電路32的輸出與混頻電路(未示出)的第二輸入相連。集成電路的測試端102與多路復用電路32的控制輸入以及分頻器電路30的啟用輸入相連。
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