[發明專利]測試準備RF集成電路

無效

• 申請號: 200680010496.4
• 申請日: 2006-03-27
• 公開（公告）號: CN101151545A
• 公開（公告）日: 2008-03-26
• 發明（設計）人: 西塞羅·S·沃謝
• 申請（專利權）人: NXP股份有限公司
• 主分類號: G01R31/317
• 分類號: G01R31/317;G01R31/28
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司
• 代理人: 朱進桂

1.一種可切換到正常運行模式和測試模式的測試準備集成電路(10)，所述測試準備集成電路(10)包括：

-用于提供測試控制信號的測試控制輸入(102)，該測試控制信號指示集成電路(10)應運行在正常運行模式下還是測試模式下；

-具有本地振蕩器輸出的本地振蕩器電路(18，58)；

-混頻電路(14，54a)；

-分頻器電路(32，60)，輸入與本地振蕩器輸出以及分頻器輸出相連；

-復用電路(30，62ab)，信號輸入與本地振蕩器輸出以及分頻器輸出相連，輸出與混頻電路(14)相連，復用電路(30，62ab)還具有與測試控制輸入(102)相連的控制輸入，復用電路(30，62ab)被設置成在正常運行模式下將本地振蕩器輸出與混頻電路(14)相連，而在測試模式下將分頻器輸出代替本地振蕩器輸出與混頻電路(14)相連。

2.如權利要求1所述的測試準備集成電路(10)，其中，本地振蕩器電路(58)除了所述本地振蕩器輸出之外還具有正交輸出，集成電路(10)包括另一混頻電路(54b)，所述另一復用電路(54b)具有與該正交輸出相連的另一輸入和與另一混頻電路(54a)相連的另一輸出，復用電路(62ab)被設置成在正常運行模式下將正交輸出與所述另一混頻電路相連，而在測試模式下將分頻輸出信號從分頻器電路傳送至混頻電路。

3.如權利要求2所述的測試準備集成電路，其中，分頻器電路(60)除了分頻器輸出之外還具有正交分頻器輸出，分頻器電路(60)被設置成在該分頻器輸出處和該正交分頻器輸出處根據公共本地振蕩器信號產生正交關系的分頻信號，復用電路(62ab)具有與正交分頻器輸出相連的第二輸入，復用電路(62ab)從該正交分頻器輸出中導出用于所述另一混頻電路(54b)的輸出信號。

4.如權利要求2所述的測試準備集成電路，其中，從分頻器輸出導出分頻的輸出信號，以用于混頻電路(54a)和所述另一混頻電路(54b)兩處的替換。

5.如權利要求2所述的測試準備集成電路，包括：

-具有端子的負載電路(72)；

-切換電路(70a-b)，第一端與本地振蕩器輸出以及正交輸出相連，第二端與分頻器電路(60)的輸入、負載電路(72)的端子以及復用電路(62a、b)的信號輸入相連，控制輸入與測試控制輸入(102)相連，切換電路(70a-b)被設置成在正常運行模式下將本地振蕩器輸出以及正交輸出與復用電路(62ab)的信號輸入相連，而在測試模式下將本地振蕩器輸出以及正交輸出分別與分頻器電路(60)的輸入以及負載電路(72)的端子相連。

6.如權利要求1所述的測試準備集成電路，其中，分頻器電路(32，60)具有與測試控制輸入(102)相連的禁用輸入，并且分頻器電路(32，60)被設置成在正常運行模式下禁止對本地振蕩器信號進行分頻。

7.一種集成電路(10)的測試方法，集成電路(10)包括混頻電路(14，54a)和本地振蕩器電路(18，58)，該測試方法包括：

-將集成電路(10)附在測試裝置(40)上；

-將集成電路(10)切換到測試配置，其中，集成電路(10)中的分頻器電路(32，60)將本地振蕩器信號分頻至低于集成電路(10)中的本地振蕩器(18，58)的正常運行范圍的頻率，并且將分頻的本地振蕩器信號代替本地振蕩器信號施加到混頻電路(14，54a)；

-在將分頻的本地振蕩器信號施加于混頻電路(14，54a)期間，測量從混頻電路(14，54a)導出的信號的性質。

8.如權利要求7所述的方法，其中，從混頻電路(14，54a)導出的信號是頻率下轉換的IF信號。

9.如權利要求7所述的方法，其中，從混頻電路(14，54)導出的信號是頻率上轉換的RF信號。