[發(fā)明專(zhuān)利]硅氣體注射器及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200680004839.6 | 申請(qǐng)日: | 2006-02-13 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101321890A | 公開(kāi)(公告)日: | 2008-12-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 拉南·扎哈維;里斯·雷諾茲 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 統(tǒng)合材料股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | C23C16/00 | 分類(lèi)號(hào): | C23C16/00;F16K51/00;B32B37/00 |
| 代理公司: | 北京律誠(chéng)同業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 徐金國(guó);陳紅 |
| 地址: | 美國(guó)加利*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 氣體 注射器 及其 制造 方法 | ||
本申請(qǐng)要求享有2005年2月23日提交的臨時(shí)申請(qǐng)60/655,483的優(yōu)先權(quán)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明主要涉及半導(dǎo)體晶圓的熱處理。更明確而言,本發(fā)明涉及在熱處理 爐中的氣體注射器。
背景技術(shù)
批式熱處理持續(xù)使用于硅集成電路制作的數(shù)個(gè)階段中。低溫?zé)崽幚硗ǔJ? 用氯化硅烷(chlorosilane)與氨為前驅(qū)物氣體并在溫度大約700℃的范圍內(nèi)利 用化學(xué)氣相沉積以沉積氮化硅層。其它低溫工藝包含多晶硅或二氧化硅的沉積 工藝或其它使用較低溫的工藝。高溫工藝包含氧化、退火、硅化反應(yīng) (silicidation)、以及其它通常使用較高溫(例如高于1000℃或甚至1200℃) 的工藝。
大規(guī)模商業(yè)生產(chǎn)通常使用垂直爐與支撐大量晶圓于爐中的垂直晶圓塔,該 多個(gè)組件的裝配繪示于圖1的概要剖面圖中。爐10包含熱絕緣加熱器容器 (thermally?insulating?heater?canister)12,其支撐電阻加熱線(xiàn)圈14,而電阻加 熱線(xiàn)圈14則由圖中未顯示的電源來(lái)供予能源。通常由石英所組成的鐘型罩 (bell?jar)16包含一個(gè)頂部且安裝于加熱線(xiàn)圈14內(nèi)。可使用一個(gè)安裝于鐘型 罩16內(nèi)的開(kāi)放式襯墊(open-ended?liner)18。支持塔20位于基座22上,且 在工藝中基座22與支持塔22通常被襯墊18所包圍。塔20包含垂直設(shè)置的溝 槽,用以容納多個(gè)水平設(shè)置的晶圓,以進(jìn)行批式熱處理。主要設(shè)置在塔20與 襯墊18之間的氣體注射器24在其上端具有一出口,以將工藝氣體注射到襯墊 18以?xún)?nèi)。未繪示出的真空泵將工藝氣體經(jīng)由鐘型罩16的底部移除。加熱器容 器12、鐘型罩16與襯墊18可垂直升高,以傳送晶圓進(jìn)出塔20,不過(guò)在一些 組態(tài)中,當(dāng)升降機(jī)升高與降低基座22及載入塔20進(jìn)出爐10的底部時(shí),上述 組件維持固定不動(dòng)。
上層密封的鐘型罩16容易使?fàn)t10在中間與上層部分有大致均勻的高溫。 此即為熱區(qū)(hot?zone),在此熱區(qū)的溫度受到控制,以供最佳化熱處理。然 而,鐘型罩16的開(kāi)放底端與基座22的機(jī)械支持會(huì)使得爐下端具有較低溫度, 此低溫經(jīng)常會(huì)使諸如化學(xué)氣相沉積之類(lèi)的工藝無(wú)法完全地有效進(jìn)行。因此,熱 區(qū)可能不包含塔20中的一些較低溝槽。
公知的低溫應(yīng)用中,塔、襯墊與注射器由石英或融熔硅(fused?silica)所 構(gòu)成。然而,石英塔與注射器可被硅塔與注射器所取代。圖2中所顯示的便是 一種硅塔構(gòu)型的正交投射視圖,其可從美國(guó)加州森尼維耳市(Sunnyvale)的 Integrated?Material公司所購(gòu)得。上述硅塔的制造闡述于由Boyle等人所申請(qǐng)的 美國(guó)專(zhuān)利號(hào)6455395中,在此引入其全部?jī)?nèi)容作為參考。硅襯墊的說(shuō)明則闡述 于2001年5月18日由Boyle等人申請(qǐng)的美國(guó)專(zhuān)利申請(qǐng)案09/860392中,該案 的美國(guó)公開(kāi)號(hào)為US?2002/170486。
硅注射器已可于Integrated?Materials公司所購(gòu)得。然而,上述裝置中的形 成長(zhǎng)管(long?straw)的兩個(gè)殼層(shell)之間是使用含鉛的黏著劑。雖然鉛的 使用量相當(dāng)?shù)停亲詈媚芡耆苊庠诠に嚑t中使用鉛,因?yàn)殂U在爐中會(huì)嚴(yán)重 降低已形成的半導(dǎo)體硅結(jié)構(gòu)。要在兩個(gè)殼層的長(zhǎng)度上形成縫密封(seam?leak tight)黏結(jié)也是一大挑戰(zhàn)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明包含一種可在爐中使用的硅注射器系統(tǒng),其中注射器套管(tube) 或長(zhǎng)管(straw)由兩個(gè)以旋涂玻璃(SOG)黏著劑接合在一起的硅殼層所組 成,此黏著劑較佳地包含硅粉體。本發(fā)明也包含硅彎管(elbow)以及供給套 管(supply?tube),此二者以含SOG的黏著劑而黏接在一起。
本發(fā)明更包含制作上述硅注射器系統(tǒng)的方法。
本發(fā)明的另一個(gè)態(tài)樣包含利用超音波攪拌氧化硅形成劑與硅粉體的混合 物,以在施加該混合物至待接合與退火的硅組件之前,先使其均勻混入含SOG 的黏著劑中。
本發(fā)明更包含一種具有全硅(all-silicon)熱區(qū)的退火爐,該熱區(qū)包含塔、 注射器與緩沖板晶圓(baffle?wafer),以及利用該退火爐來(lái)制作硅集成電路的 用途。
附圖說(shuō)明
圖1為包含塔、注射器套管(injector?tube)與襯墊的退火爐的剖面圖;
圖2為本發(fā)明的注射器套管實(shí)施例的正交投射視圖;
圖3為圖2的注射器套管的連接器零件的正交投射視圖;
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C23C 對(duì)金屬材料的鍍覆;用金屬材料對(duì)材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C16-00 通過(guò)氣態(tài)化合物分解且表面材料的反應(yīng)產(chǎn)物不留存于鍍層中的化學(xué)鍍覆,例如化學(xué)氣相沉積
C23C16-01 .在臨時(shí)基體上,例如在隨后通過(guò)浸蝕除去的基體上
C23C16-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C16-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金屬材料的沉積為特征的
C23C16-22 .以沉積金屬材料以外之無(wú)機(jī)材料為特征的
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