[發明專利]檢測電子卡上的元件安裝缺陷的方法

無效

• 申請號: 200680004765.6
• 申請日: 2006-02-15
• 公開（公告）號: CN101120380A
• 公開（公告）日: 2008-02-06
• 發明（設計）人: M·斯塔比利;L·布馳澤
• 申請（專利權）人: 維特公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司
• 代理人: 陳煒

本發明涉及一種檢測電子卡上的元件安裝缺陷的方法。

發明背景

眾所周知，電子卡的工作缺陷主要源自諸元件中的一個的失效，或者源自制 造電子卡之際安裝元件時的缺陷，尤其是焊接元件時的缺陷，尤其是將電子元件的 連接接頭片焊接至印刷電路的導電跡線時的缺陷。

為了檢測安裝元件時的缺陷，已知的方法包括以下步驟：照射元件并通過以 像素亮度級矩陣形式給出數字位圖圖像的傳感器觀察待檢查的至少一元件部分。然 后用算法處理如此獲得的亮度級矩陣以通過與以令人滿意的方式安裝的相應元件 部分的比較來確定哪些待檢查部分未以令人滿意的方式被安裝。目前使用的比較算 法一般取整個分析窗上的平均值。那些處理算法導致比較執行得過于寬泛并且無法 確保存在的缺陷將被正確地檢測到。

尤其從美國6?539?331號專利可獲知一檢查方法，該方法包括以下步驟：對元 件的至少一部分在預定方向上建立一基準曲線，該曲線是通過將基準值賦予沿該預 定方向的連續像素而獲得的；對待檢測的每個部分建立一測量曲線，該測量曲線是 通過將與基準曲線的基準值對應的方式確定的測量值賦予沿該預定方向的連續像 素而獲得的；根據與基準曲線相關聯的特性將測量曲線與基準曲線相比較；并根據 上述比較來總結缺陷。

在該文獻中，基準曲線是基于已知維度，即從無缺陷安裝元件建立的模擬曲 線。隨后基于測試曲線與基準曲線之差建立誤差曲線。為了在檢查元件部分之際維 度相等時包容測量值中的可能偏差，實現了一種迭代方法以致總處理變得復雜。

發明目的

本發明的目的是提供一種能易于實現，同時仍然實現令人滿意的缺陷檢測的 檢測缺陷的方法。

發明概要

本發明提供一種檢測電子卡上的元件的安裝缺陷的方法，該方法包括以下步 驟：照射元件并通過以像素亮度級矩陣形式給出數字位圖圖像的傳感器觀察該元件 的至少一待檢查部分；對該元件的至少一部分在預定方向上建立一基準曲線，該曲 線是通過將基準值賦予沿該預定方向的連續像素獲得的；對每一待檢查部分建立一 測量曲線，該曲線是通過將以對應于基準曲線的基準值的方式確定的測量值賦予沿 該預設方向的連續像素而獲得的；根據與基準曲線相關聯的特性將測量曲線與基準 曲線相比較；并根據上述比較來總結缺陷；這些基準值是通過取一系列要檢查的部 分的測量值的平均來計算的。

因此，基準曲線直接考慮各待檢查元件部分之間的測量偏差從而可使用簡單 算法來執行該比較。

根據本發明的一較佳方面，測量值是通過取沿與該預定方向垂直的方向測得 的亮度級的平均值來計算的。這使亮度級中與安裝質量沒有直接關系的零星偏差的 影響最小化。

根據本發明的另一較佳方面，以梯度形式評估測量值。這消除了在實現此檢 測方法之際亮度中總偏差的發生。

附圖簡要說明

細閱下面參照附圖給出的說明，本發明的其它特征和優點變得清楚，在附圖 中：

圖1是安裝在電子卡上的元件的局部數字圖像的再現；

圖2是在本發明方法的初始步驟期間元件接頭片的圖解立體圖；

圖3是從圖2的接頭片獲得的亮度級的矩陣；

圖4示出建立在實現本發明方法時使用的曲線的第一方法；

圖5示出建立在實現本發明方法時使用的曲線的第二方法；

圖6示出當實現在圖1的元件的接頭片上實現時本發明的方法的曲線圖表示。

發明具體說明

參照圖1，可以看到一數字圖像，該圖像示出元件1的一部分以及安裝以將元 件1連接于電子卡的接頭片3的三個接頭片2.1、2.2和2.3。在該圖像中，接頭片 2.1和2.2以令人滿意的方式安裝，而接頭片2.3高起，即沒有與相應接頭片3形成 接觸。

圖2是接頭片2和與之相連的導電焊盤3的圖解性立體圖。圖3是示出在具 有由圖2的立體圖中可見的柵格7表示的像素的分析窗中測得的亮度級的矩陣。圖 4是表示建立實現本發明方法時使用的曲線的第一方法的曲線圖。

以常規方式，矩陣像素的亮度級是通過用燈13照射元件并通過以位圖形式給 出數字圖像的傳感器14進行觀察而獲得的。

正如從圖2的立體圖中所見那樣，接頭片2具有連接于元件1的水平部分4、 焊接于導電焊盤3的水平部分5、以及傾斜的中間部分6。