[發明專利]檢測電子卡上的元件安裝缺陷的方法

無效

• 申請號: 200680004765.6
• 申請日: 2006-02-15
• 公開（公告）號: CN101120380A
• 公開（公告）日: 2008-02-06
• 發明（設計）人: M·斯塔比利;L·布馳澤
• 申請（專利權）人: 維特公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司
• 代理人: 陳煒

1.一種檢查電子卡上的元件的安裝缺陷的方法，所述方法包括以下步驟：照 射所述元件并通過以像素亮度級矩陣形式給出數字位圖圖像的傳感器(14)觀察所 述元件的至少一待檢查部分(2)；對所述元件的至少一部分在一預定方向上建立 一基準曲線，所述基準曲線是通過將基準值賦予沿所述預定方向的連續像素來獲得 的；對每個待檢查部分建立一測量曲線，所述測量曲線是通過將以對應于所述基準 曲線的基準值的方式確定的測量值賦予沿所述預定方向的連續像素來獲得的；根據 與所述基準曲線相關聯的一特性將所述測量曲線與所述基準曲線相比較；并根據所 述比較來總結所述缺陷，所述方法的特征在于，所述基準值是通過對一系列待檢查 部分的測量值取平均值來計算的。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：根據相 對于所述基準曲線的容限從所述基準曲線確定基準間隔；以及根據所述測量曲線落 在所述基準間隔之外的像素數目來建立缺陷總結。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述測量值是通過取沿與所述預 定方向垂直的方向測得的亮度級的平均值來計算的。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述測量值是亮度級。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述測量值是以梯度形式評估的。

6.如權利要求1所述的方法，其特征在于，考慮用于比較的特性第一是基準 值之間的差量，第二是測量值之間的相應差量。

7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述值差量是在所考慮的曲線的 最高像素和最低像素之間所取。

8.如權利要求1所述的方法，其特征在于，考慮用于比較的特性是所述基準 曲線中的波谷和所述測量曲線中相應波谷的寬度(L)。

9.如權利要求1所述的方法，其特征在于，考慮用于比較的特性是由所述基 準曲線的一部分和由所述測量曲線的一部分定義的面積。

10.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在每個待檢查部分的測量曲線 與建立自無缺陷元件的至少一部分的第二基準曲線之間進行第二比較。