[發(fā)明專利]質(zhì)量分析數(shù)據(jù)解析裝置及程序有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200680004434.2 | 申請(qǐng)日: | 2006-04-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101115991A | 公開(kāi)(公告)日: | 2008-01-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 山內(nèi)一夫;山本善丈;梅村佳克 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社島津制作所 |
| 主分類號(hào): | G01N27/62 | 分類號(hào): | G01N27/62 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 李貴亮 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 質(zhì)量 分析 數(shù)據(jù) 解析 裝置 程序 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及用于通過(guò)對(duì)質(zhì)量分析所得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行解析、來(lái)判定質(zhì)譜上的各離子峰值的價(jià)數(shù)以及同定單一同位素峰值(monoisotopic?peak)的質(zhì)量分析數(shù)據(jù)解析裝置。
背景技術(shù)
以往,在對(duì)質(zhì)量分析所得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行解析之際,如專利文獻(xiàn)1及2所示,已知有以下的方法:作為表示質(zhì)譜的數(shù)據(jù),使用根據(jù)連續(xù)檢測(cè)出的離子的m/z值(質(zhì)量電荷比)及其檢測(cè)強(qiáng)度來(lái)表示質(zhì)譜的分布(profile)數(shù)據(jù)。分布數(shù)據(jù)為相當(dāng)于質(zhì)量分析裝置的原始數(shù)據(jù)(Raw?Data)的數(shù)據(jù)形態(tài),在使用該分布數(shù)據(jù)的以往的質(zhì)量分布數(shù)據(jù)解析方法中,通過(guò)利用模式識(shí)別算法對(duì)分布數(shù)據(jù)上的各峰值的形狀進(jìn)行解析,同定同位素群(源于具有同一元素組成的離子,由用于表示隨著離子中的同位素組成的不同而不同的m/z值的多個(gè)峰值構(gòu)成的峰值組),基于其結(jié)果對(duì)各峰值的價(jià)數(shù)或單一同位素峰值(成為同位素群的代表的離子的峰值。通常指由天然存在比最大的同位素構(gòu)成的離子的峰值。)進(jìn)行同定。
非專利文獻(xiàn)1:Journal?of?the?American?Society?for?Mass?Spetrometry(美國(guó)),2000年,第11卷,pp.320-332
非專利文獻(xiàn)2:Journal?of?the?American?Society?for?Mass?Spetrometry(美國(guó)),1995年,第6卷,pp.229-233
發(fā)明內(nèi)容
上述的質(zhì)量分析數(shù)據(jù)解析方法利用于例如在質(zhì)量分析裝置的數(shù)據(jù)分析結(jié)束之后以離線(offline)進(jìn)行解析的“蛋白質(zhì)解析軟件”等中。但是,基于質(zhì)量分析的蛋白質(zhì)解析等中,通過(guò)使用四極型離子阱(Quadrupole?IonTrap:QIT)的碰撞誘導(dǎo)分解(Collision?lnduced?Dissociation:cld)等對(duì)特定的峰值所對(duì)應(yīng)的離子進(jìn)行捕捉和開(kāi)裂(splitting)的、所謂的MS/MS分析(或者M(jìn)Sn分析)被廣泛應(yīng)用,于是,在分析中大多數(shù)需要用于動(dòng)態(tài)地選擇準(zhǔn)(precursor)離子的功能(Data?Dependent?Acquisition:DDA功能)。
一般在MS/MS分析中,首先從分析對(duì)象物將具有特定的質(zhì)量電荷比(m/z)的離子選擇為準(zhǔn)離子,對(duì)通過(guò)CID使該準(zhǔn)離子開(kāi)裂而產(chǎn)生的離子(生成離子:product?ion)進(jìn)行質(zhì)量分析,從而取得關(guān)于作為目的的離子的質(zhì)量或化學(xué)構(gòu)造的信息。因此,為了實(shí)現(xiàn)DDA功能,就需要在分析實(shí)施中(即在線(online))從質(zhì)譜中判定作為準(zhǔn)離子應(yīng)選擇的峰值的價(jià)數(shù)、并且自動(dòng)地判定該峰值是否為單一同位素峰值的功能。
對(duì)質(zhì)譜中的峰值的價(jià)數(shù)進(jìn)行判定或同定單一同位素峰值的技術(shù),如上所示,可通過(guò)以往的使用分布數(shù)據(jù)進(jìn)行解析的離線解析用的軟件等來(lái)實(shí)現(xiàn),但在這樣的以往的解析方法中,由于在解析處理中需要很多的時(shí)間,因此不能實(shí)現(xiàn)在分析實(shí)施中由在線進(jìn)行的DDA功能。
因而,本發(fā)明所要解決的問(wèn)題在于,提供一種可在短時(shí)間內(nèi)對(duì)質(zhì)譜上的各峰值的價(jià)數(shù)進(jìn)行判定及同定單一同位素峰值的質(zhì)量分析數(shù)據(jù)解析裝置。
為了解決上述課題,本發(fā)明的質(zhì)量分析數(shù)據(jù)解析裝置,通過(guò)對(duì)質(zhì)量分析所取得的質(zhì)譜數(shù)據(jù)進(jìn)行解析,來(lái)判定該質(zhì)譜中的各離子峰值的價(jià)數(shù)及同定單一同位素峰值,
該質(zhì)量分析數(shù)據(jù)解析裝置具備:
(a)質(zhì)心數(shù)據(jù)作成部件,根據(jù)作為所述質(zhì)譜數(shù)據(jù)所取得的分布數(shù)據(jù)來(lái)作成質(zhì)心數(shù)據(jù);和
(b)數(shù)據(jù)解析部件,根據(jù)所述質(zhì)心數(shù)據(jù)上的峰值的出現(xiàn)模式來(lái)檢測(cè)出質(zhì)譜上的同位素群,根據(jù)其結(jié)果對(duì)該同位素群所屬的峰值的價(jià)數(shù)進(jìn)行判定以及對(duì)該同位素群的單一同位素峰值進(jìn)行同定。
在此,質(zhì)心數(shù)據(jù)是指用于表示質(zhì)譜的數(shù)據(jù)形態(tài)的一種,將質(zhì)譜上的各峰值通過(guò)用于表示其峰值的質(zhì)心的m/z值和其峰值的面積值這兩個(gè)值來(lái)表示。
進(jìn)一步,上述本發(fā)明的質(zhì)量分析數(shù)據(jù)解析裝置,優(yōu)選所述數(shù)據(jù)解析部件具備:
(c)基準(zhǔn)峰值指定部件,將所述質(zhì)心數(shù)據(jù)上的峰值從強(qiáng)度大的峰值起順次指定為用于同定同位素群的基準(zhǔn)峰值;
(d)模式匹配部件,將在所述基準(zhǔn)峰值的前后排列的峰值的出現(xiàn)模式與規(guī)定的價(jià)數(shù)范圍中的同位素群的峰值出現(xiàn)模式進(jìn)行比較;
(e)同位素群同定部件,當(dāng)所述模式匹配部件所完成的比較結(jié)果為所述基準(zhǔn)峰值和其前后排列的峰值的出現(xiàn)模式與所述同位素群的出現(xiàn)模式一致時(shí),對(duì)含有該基準(zhǔn)峰值的同位素群的價(jià)數(shù)進(jìn)行決定以及對(duì)該同位素群所屬的峰值進(jìn)行決定;
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